电子元器件传送装置及电子元器件检查装置制造方法及图纸

本申请提供电子元器件传送装置及电子元器件检查装置，可以在电子元器件的传送中途对电子元器件进行至少两种检查。一种电子元器件传送装置，将电子元器件传送至对电子元器件进行第一检查的第一检查部以及对电子元器件进行与第一检查不同的第二检查的第二检查部，该电子元器件传送装置具备：保持电子元器件的保持部；载置电子元器件的移动载置部；以及控制保持部的控制部，控制部使保持部将电子元器件从移动载置部传送至第一检查部，使保持部将进行了第一检查后的电子元器件从第一检查部传送至移动载置部，并使保持部将电子元器件从移动载置部传送至第二检查部。

Electronic Component Transfer Device and Electronic Component Inspection Device

【技术实现步骤摘要】
电子元器件传送装置及电子元器件检查装置
本专利技术涉及电子元器件传送装置及电子元器件检查装置。
技术介绍
在现有技术中，例如在进行诸如IC器件等电子元器件的电气检查时，采用传送电子元器件的IC处理机(例如，参照专利文献1)。专利文献1记载的IC处理机是设置有连接于测试仪的测试用插座的状态。此外，在该状态下传送电子元器件，在其传送中途将电子元器件配置于测试用插座，对该电子元器件进行一种检查。专利文献1：日本专利特开2000-088918号公报专利文献1记载的IC处理机无法对电子元器件进行多种检查，在完成了一种检查之后，需要将该检查完毕的电子元器件重新载置于托盘，将该托盘转移到进行其它种类的检查的IC处理机。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述技术问题而做出的，可作为以下方面来实现。本专利技术的电子元器件传送装置其特征在于，能够配置载置电子元器件的载置部件，该电子元器件传送装置具备：传送部，传送所述电子元器件；第一区域，第一检查部配置于所述第一区域，该第一检查部载置所述电子元器件，对所述电子元器件进行第一检查；以及第二区域，第二检查部配置于所述第二区域，该第二检查部载置所述电子元器件，对所述电子元器件进行与所述第一检查不同的第二检查，所述传送部具有：保持部，保持所述电子元器件，将其依次载置于所述第一检查部和所述第二检查部；以及回收部，将进行了所述第一检查和所述第二检查后的所述电子元器件载置于所述载置部件。本专利技术的电子元器件检查装置其特征在于，能够配置载置电子元器件的载置部件，该电子元器件检查装置具备：传送部，传送所述电子元器件；第一检查部，载置所述电子元器件，对所述电子元器件进行第一检查；第一区域，所述第一检查部配置于所述第一区域；第二检查部，载置所述电子元器件，对所述电子元器件进行与所述第一检查不同的第二检查；以及第二区域，所述第二检查部配置于所述第二区域，所述传送部具有：保持部，保持所述电子元器件，将其依次载置于所述第一检查部和所述第二检查部；以及回收部，将进行了所述第一检查和所述第二检查后的所述电子元器件载置于所述载置部件。附图说明图1是从正面侧观察本专利技术的电子元器件检查装置的第一实施方式的概略立体图。图2是示出图1所示的电子元器件检查装置的动作状态的概略平面图。图3是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图4是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图5是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图6是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图7是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图8是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图9是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图10是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图11是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图12是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图13是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图14是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图15是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图16是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图17是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图18是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图19是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图20是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图21是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图22是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图23是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图24是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图25是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图26是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图27是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图28是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图29是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图30是图3所示状态的平面图。图31是图5所示状态的平面图。图32是图6所示状态的平面图。图33是图9所示状态的平面图。图34是图12所示状态的平面图。图35是图15所示状态的平面图。图36是图16所示状态的平面图。图37是图17所示状态的平面图。图38是图20所示状态的平面图。图39是图24所示状态的平面图。图40是图25所示状态的平面图。图41是图27所示状态的平面图。图42是图29所示状态的平面图。图43是示出本专利技术的电子元器件检查装置(第二实施方式)的检查区域内的放大平面图。图44是示出本专利技术的电子元器件检查装置(第三实施方式)的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。图45是示出本专利技术的电子元器件检查装置(第四实施方式)的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。附图标记说明1电子元器件检查装置；10电子元器件传送装置；11A托盘传送机构；11B托盘传送机构；12温度调整部；13器件传送头；131保持部；14器件供给部；14A器件供给部；14B器件供给部；141凹部(移动载置部)；141A第一凹部(第一供给移动载置部)；141B第二凹部(第二供给移动载置部)；15托盘传送机构；16A第一检查部；16B第二检查部；161凹部(袋形部)；161A凹部；161B凹部；161C凹部；161D凹部；17器件传送头；17A器件传送头；17B器件传送头；171保持部；171A第一保持部；171B第二保持部；18器件回收部；18A器件回收部；18B器件回收部；181凹部(袋形部)；181A第一凹部；181B第二凹部；19回收用托盘；20器件传送头；201保持部；21托盘传送机构；22A托盘传送机构；22B托盘传送机构；231第一间隔壁；232第二间隔壁；233第三间隔壁；234第四间隔壁；235第五间隔壁；241前盖；242侧盖；243侧盖；244后盖；245顶盖；25传送部；26姿势检测部；261发光部；262受光部；27连结部；90IC器件；90AIC器件；90BI本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元器件传送装置，其特征在于，将电子元器件传送至对所述电子元器件进行第一检查的第一检查部以及对所述电子元器件进行与所述第一检查不同的第二检查的第二检查部，所述电子元器件传送装置具备：保持部，保持所述电子元器件；移动载置部，供所述电子元器件载置；以及控制部，控制所述保持部，所述控制部使所述保持部将所述电子元器件从所述移动载置部传送至所述第一检查部，使所述保持部将进行了所述第一检查后的所述电子元器件从所述第一检查部传送至所述移动载置部，并使所述保持部将所述电子元器件从所述移动载置部传送至所述第二检查部。

【技术特征摘要】
2018.03.20 JP 2018-0534451.一种电子元器件传送装置，其特征在于，将电子元器件传送至对所述电子元器件进行第一检查的第一检查部以及对所述电子元器件进行与所述第一检查不同的第二检查的第二检查部，所述电子元器件传送装置具备：保持部，保持所述电子元器件；移动载置部，供所述电子元器件载置；以及控制部，控制所述保持部，所述控制部使所述保持部将所述电子元器件从所述移动载置部传送至所述第一检查部，使所述保持部将进行了所述第一检查后的所述电子元器件从所述第一检查部传送至所述移动载置部，并使所述保持部将所述电子元器件从所述移动载置部传送至所述第二检查部。2.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置，其特征在于，当将向所述移动载置部移动的方向延伸的直线设为第一轴、将与所述第一轴正交的直线设为第二轴时，所述保持部沿所述第二轴移动。3.根据权利要求2所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述移动载置部具有沿所述第一轴配置的电子元器件供给部和电子元器件回收部，所述控制部使所述保持部将所述电子元器件从所述电子元器件供给部传送至所述第一检查部，并使所述保持部将进行了所述第一检查后的所述电子元器件从所述第一检查部传送至所述电子元器件供给部。4.根据权利要求3所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述控制部使所述保持部将所述电子元器件从所述电子元器件供给部传送至所述第二检查部，并使所述保持部将进行了所述第二检查后的所述电子元器件从所述第二检查部传送至所述电子元器件回收部。5.根据权利要求3或4所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述电子元器件供给部具有沿所述第一轴配置的第一供给移动载置部和第二供给移动载置部，所述保持部具有沿所述第一轴配置的第一保持部和第二保持部，所述控制部使所述第一保持部保持已载置于所述第一供给移动载置部的所述电子元器件，使所述第二保持部保持已载置于所述第二供给移动载置部的所述电子元器件，使所述第一保持部将所述电子元器件传送至所述第一检查部，并使所述第二保持部将所述电子元器件传送至所述第二检查部。6.根据权利要求5所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述电子元器件传送装置具备：检查区域，所述第一检查部和所述第二检查部配置于所述检查区域；以及供给区域，沿所述第一轴与所述检查区域并排设置，所述供给区域具有将所述电子元器件载置于所述第一供给移动载置部的供给头，所述控制部使所述移动载置部移动，以使所述第一供给移动载置部位于所述供给区域、而所述第二供给移动载置部位于所述检查区域，并且所述控制部使所述供给头将所述电子元器件载置于所述第一供给移动载置部。7.根据权利要求3或4所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述电子元器件回收部具有沿所述第一轴配置的第一回收移动载置部和第二回收移动载置部，所述保持部具有沿所述第一轴配置的第一保持部和第二保持部，所述控制部使所述第一保持部保持已载置于所述第一回收移动载置部的所述电子元器件，使所述第二保持部保持已载置于所述第二回收移动载置部的所述电子元器件，使所述第一保持部将所述电子元器件传送至所述第一检查部，并使所述第二保持部将所述电子元器件传送至所述第二检查部。8.根据权利要求7所述的电子元器件传送装置，其特征在于，所述电子元器件传送装置具备：检查区域，所述第一检查部和所述第二检查部配置于所述检查区域；以及回收区域，沿所述第一轴与所述检查区域并排设置，所述回收区域具有保持已载置于所述第二回收移动载置部的所述电子元器件的回收头，所述控制部使所述移动载置部移动，以使所述第一回收移动载置部位于所述检查区域、而所述第二回收移动载置部位于所述回收区域，并且所述控制部使所述回收头保持已载置于所述第二回收移动载置部的所述电子元器件。9.一种电子元器件传送装置，其特征在于，将电子元器件传送至对所述电子元器件进行第一检查的第一检查部以及对所述电子元器件进行与所述第一检查不同的第二检查的第二检查部，所述电子元器件传送装置具备：保持部，保持所述电子元器件；移动载置部，供所述电子元器件载置；以及控制部，控制所述保持部，所述控制部使所述保持部将所述电子元器件从所述移动载置部传送至所述第一检查部，使所述保持部将进行了所述第一检查后的所述电子元器件从所述第一检查部传送至所述第二检查部，并使所述保持部将进行了所述第二检查后的所述电子元器件从所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：荻原武彦，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP