【技术实现步骤摘要】
制作集成电路装置的方法
本专利技术实施例一般涉及集成电路装置与其制作方法,更特别涉及以钝化剂使通孔蚀刻工艺与沟槽蚀刻工艺不同。
技术介绍
半导体集成电路产业已经历快速成长。在集成电路演化中,功能密度(如单位芯片面积所含的内连线装置数目)通常随着几何尺寸(如工艺所能产生的最小构件或线路)缩小而增加。尺寸缩小的工艺通常有利于增加产能并降低相关成本。然而尺寸缩小亦增加设计与整合这些集成电路的装置工艺复杂度。工艺的并行发展在制作越来越复杂的设计时,可兼具精确性与可信度。装置制作以及耦接装置的导体网络制作均具有进展。在此考量下,集成电路可包含内连线结构以电性耦接电路装置如鳍状场效晶体管、平面场效晶体管、双极性接面晶体管、发光二极管、存储装置、其他主动及/或被动装置、或类似物。内连线结构可包含垂直堆叠的任意数目的介电层,以及层中水平走向的导电线路。通孔可垂直延伸以连接一层中的导电线路与相邻的层中的导电线路。类似地,接点可垂直延伸于导电线路与基板级结构之间。线路、通孔、与接点一起携带装置之间的信号、电源、与地线,以操作如电路。
技术实现思路
本专利技术一实施例提供制作集成电路装置的 ...
【技术保护点】
1.一种制作集成电路装置的方法,包括:接收一集成电路工件,其包括一导电内连线结构;形成一第一层间介电层于该导电内连线结构上;形成一第二层间介电层于该第一层间介电层上;形成一硬遮罩于该第二层间介电层上;以及蚀刻一通孔凹陷穿过该第一层间介电层、该第二层间介电层、与该硬遮罩,以露出该导电内连线结构,其中上述蚀刻包含提供一钝化剂以与该硬遮罩的材料反应,进而降低对该蚀刻所采用的蚀刻剂的敏感度。
【技术特征摘要】
2018.03.22 US 15/928,8961.一种制作集成电路装置的方法,包括:接收一集成电路工件,其包括一导电内连线结构;形成一第一层间介电层于该导电内连线结构上;形成一第二层间介电层...
【专利技术属性】
技术研发人员:何俊德,张世郁,林大为,邱建智,梁明中,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾,71
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