检测系统及探针装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了检测系统及探针装置。一种探针装置及包含有该探针装置的检测系统。探针装置包含有多个第一探针及至少一个第二探针，第一探针及第二探针对应通过第一电连接线及第二电连接线电性连接检测系统的检测设备。当多个第一探针接触面板的晶体管的接脚，以进行漏电流检测时，第二探针不与面板相接触。检测设备将可依据第一探针的量测结果及第二探针的量测结果，以对应产生一结果信息。相关人员或是计算机设备，将可依据结果信息，而更精确地得知第一探针的量测结果。

Detection System and Probe Device

The utility model discloses a detection system and a probe device. The invention relates to a probe device and a detection system comprising the probe device. The probe device comprises a plurality of first probes and at least one second probe. The first probe and the second probe correspond to the detection device of the detection system connected electrically through the first and second electric connection wires. When a plurality of first probes contact the transistor contacts of the panel for leakage current detection, the second probe does not contact the panel. The detection device will produce the result information according to the measurement results of the first probe and the second probe. Relevant personnel or computer equipment will be able to more accurately know the measurement results of the first probe based on the result information.

【技术实现步骤摘要】
检测系统及探针装置
本技术涉及一种检测系统及探针装置，特别是一种适用于晶体管的漏电流检测的检测系统及探针装置。
技术介绍
随着显示面板的晶体管的尺寸越来越小，晶体管的漏电流的数值也越来越小，而以现有的相关检测设备，对尺寸相对较小的晶体管进行漏电流检测时，漏电流的信号往往会混杂于环境噪声中，而不易被分辨；换言之，相关计算机设备或是人员，并无法从探针所量测出包含有环境噪声的检测信号中，分离出正确的漏电流信号。然，显示面板的晶体管的数量庞大，纵使单一个晶体管仅产生微量的漏电流，但所有晶体管产生的漏电流加总时，将会对显示面板造成明显的影响。是以，对于相关检测厂商而言，如何有效地检测出尺寸相对较小的晶体管的漏电流信号，成为了急需解决的问题之一。前述环境噪声之来源有设备之动力源(马达)或环境负压所需之真空马达等等诸多自动化设备之必要组件，其因驱动控制而产生电力变化，因而对检测线材诱发出会干扰检测结果之环境噪声；再者，待测物上不同位置之环境噪声系不同，假若单纯以某一个量化值来代表待测物上不同位置之环境噪声，则其量测结果不够客观及正确。也就是说，现有的显示面板的晶体管漏电流检测设备，无法正确地量测出晶体管的漏电流，而相关人员在无法量测晶体管的漏电流的情况下，将无法对显示面板的相关构件进行改良设计，以控制各晶体管所产生的漏电流的情况。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种检测系统及探针装置，通过第二探针的设置，检测设备将可由第二探针所量测的环境信号，而更有效地解析第一探针量测待测件的检测结果。为了实现上述目的，本技术提供一种检测系统，其用以对一待测件进行一检测作业，该检测系统包含：一检测设备，其包含有至少一处理装置；一探针装置，其电性连接该检测设备，该探针装置包含：一本体；多个第一探针，其设置于该本体，多个该第一探针的部分外露于该本体，多个该第一探针通过多个第一电连接线电性连接至该检测设备；至少一个第二探针，其设置于该本体，该第二探针通过一第二电连接线电性连接至该检测设备；其中，多个该第一探针接触该待测件的多个待测位置，以与该待测件电性连接，而进行该检测作业时，该第二探针不与该待测件电性连接，该处理装置能依据多个该第一探针所量测的结果及该第二探针所量测的结果，产生一结果信息。优选地，各个该第一电连接线与该第二电连接线选用相同材质，且各个该第一电连接线与该第二电连接线具有相同的布线路径；该第二探针的部分外露于该本体。优选地，该处理装置能依据该第二探针所量测的结果，对应消除该第一探针所量测的结果中存在的部分噪声，以产生该结果信息。优选地，该待测件为一面板，该面板包含有多个晶体管，多个该第一探针用以检测该面板的各个该晶体管。优选地，该第二探针外露于该本体的长度，不大于各个该第一探针外露于该本体的长度；或者该第一探针外露于该本体的长度与该第二探针外露于该本体的长度相同，而外露于该本体的第一探针相对于该本体的角度，与外露于该本体的第二探针相对于该本体的角度不同。为了实现上述目的，本技术还提供一种探针装置，其电性连接一检测设备，该探针装置用以对一待测件进行一检测作业，该探针装置包含：一本体；多个第一探针，其设置于该本体，多个该第一探针的部分外露于该本体，多个该第一探针通过多个第一电连接线电性连接至该检测设备；至少一个第二探针，其设置于该本体，该第二探针通过一第二电连接线电性连接至该检测设备；其中，当多个该第一探针接触该待测件，以电性连接该待测件，而对该待测件进行该检测作业时，该第二探针不与该待测件电性连接。优选地，各个该第一电连接线与该第二电连接线选用相同材质，且各个该第一电连接线与该第二电连接线具有相同的布线路径；该第二探针的部分外露于该本体。优选地，该待测件为一面板，多个该第一探针用以检测该面板的晶体管。优选地，该第二探针的部分外露于该本体，且该第二探针外露于该本体的长度，不大于各个该第一探针外露于该本体的长度。优选地，该第二探针的部分外露于该本体，且该第二探针外露于该本体的长度与各个该第一探针外露于该本体的长度彼此相同，而外露于该本体的第一探针相对于该本体的角度，与外露于该本体的第二探针相对于该本体的角度不同。本技术的有益效果可以在于：通过不会与待测件(面板)相接触的第二探针的设置，将可在第一探针对待测件进行检测作业时，收集到环境信号，从而可以利用环境信号与第一探针量测待测件所得的检测信号，以对应产生一结果信息，而相关人员或计算机设备，将可通过该结果信息，更精确地得知第一探针量测该待测件的结果。附图说明图1为本技术的检测系统的示意图。图2为本技术的检测系统的方块示意图。图3为本技术的探针装置接触于待测件的示意图。图4为本技术的探针装置接触于待测件的另一实施例的示意图。具体实施方式请一并参阅图1至图3，图1为本技术的检测系统的示意图，图2为本技术的检测系统的方块示意图，图3为本技术的探针装置的示意图。如图所示，检测系统100包含一检测设备10及一探针装置20。探针装置20电性连接检测设备10，探针装置20用以量测待测件D(例如显示面板的晶体管)的电气特性。检测设备10包含有一处理装置11，处理装置11能接收探针装置20所传递的量测结果信号，并据以进行分析，从而对应产生一结果信息111。在具体应用中，检测设备10可以是包含有显示屏幕，而检测设备10可以是以数据、图式等方式，将结果信息111呈现于显示屏幕，以供相关人员观看。当然，检测设备10也可以是将相关结果信息111，传递至远程服务器，而相关人员可以是通过远程服务器取得结果信息111。该检测设备10例如是计算机系统等，其可提供测试所需之信号或接收探针装置20所传来之信号，于此不加以限制。探针装置20包含有一本体21、多个第一探针22及一第二探针23。多个第一探针22设置于本体21，多个第一探针22的部分外露于本体21，多个第一探针22通过多个第一电连接线24电性连接至检测设备10。第二探针23设置于本体21，第二探针23通过一第二电连接线25电性连接至检测设备10。其中，各个第一电连接线24与第二电连接线25选用相同材质；各个第一电连接线24与第二电连接线25具有相同的布线路径，也就是说，各个第一电性连接24及第二电连接线25连接至检测设备10的长度、姿态(例如电连接线的弯曲状态)等皆大致相同。关于第一探针22的数量及其尺寸，可以是依据需求加以变化，于此不加以限制；但须强调的是，本实施例所指的探针装置20特别是用以检测显示面板的晶体管的探针。由于该第一探针22通过第一电连接线24而电性连接该检测设备10；该第二探针23通过第二电连接线25而电性连接该检测设备10，该第二探针23的部分外露于本体21，且该第一电连接线24与第二电连接线25具有大致相同之长度、姿态，因此，当第一探针22在对待测物D上不同位置进行量测时，该第二探针23亦能实时测得对应该位置上之环境信号。又，前述第一电连接线24与第二电连接线25设于同一缆线轨道(cabletrack)而具有相同的布线路径。如图3所示，于本实施例中，是以探针装置20仅包含有单一个第二探针23，且第二探针23是对应设置于邻近于本体21的外围处，但，第二探针23的数量及其相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统用以对一待测件进行一检测作业，所述检测系统包含：一检测设备，包含有至少一处理装置；一探针装置，电性连接所述检测设备，所述探针装置包含：一本体；多个第一探针，设置于所述本体，所述第一探针的一部分外露于所述本体，多个所述第一探针通过多个第一电连接线电性连接至所述检测设备；至少一个第二探针，设置于所述本体，所述第二探针通过一第二电连接线电性连接至所述检测设备；其中，多个所述第一探针接触所述待测件的多个待测位置，以与所述待测件电性连接，进行所述检测作业时，所述第二探针不与所述待测件电性连接，所述处理装置能依据多个所述第一探针所量测的结果及所述第二探针所量测的结果，产生一结果信息。

【技术特征摘要】
1.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统用以对一待测件进行一检测作业，所述检测系统包含：一检测设备，包含有至少一处理装置；一探针装置，电性连接所述检测设备，所述探针装置包含：一本体；多个第一探针，设置于所述本体，所述第一探针的一部分外露于所述本体，多个所述第一探针通过多个第一电连接线电性连接至所述检测设备；至少一个第二探针，设置于所述本体，所述第二探针通过一第二电连接线电性连接至所述检测设备；其中，多个所述第一探针接触所述待测件的多个待测位置，以与所述待测件电性连接，进行所述检测作业时，所述第二探针不与所述待测件电性连接，所述处理装置能依据多个所述第一探针所量测的结果及所述第二探针所量测的结果，产生一结果信息。2.依据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，各个所述第一电连接线与所述第二电连接线选用相同材质，且各个所述第一电连接线与所述第二电连接线具有相同的布线路径；所述第二探针的一部分外露于所述本体。3.依据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述处理装置能依据所述第二探针所量测的结果，对应消除所述第一探针所量测的结果中存在的部分噪声，以产生所述结果信息。4.依据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述待测件为一面板，所述面板包含有多个晶体管，多个所述第一探针用以检测所述面板的各个所述晶体管。5.依据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第二探针的部分外露于所述本体，且所述第二探针外露于所述本体的长度不大于各个所述第一探针外露于所述本体的长度；或者所述第一探针外露于所述本体的长度与所述第二探针...

【专利技术属性】
技术研发人员：李茂杉，陈秄汯，张伯墉，
申请(专利权)人：均豪精密工业股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71