集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统技术方案

本发明专利技术公开了一种集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统，是在集成电路自动化测试设备的基础上，通过改进的测试OI让测试机生成原始测试数据，使用数据分析服务器的运算能力及数据库服务器的筛选能力，在云端进行所有的运算处理；本发明专利技术提供的集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统，利用中心服务器、数据预处理服务器、分析服务器、数据库服务器(SQL Server)、数据库服务器(MongoDB)，为各种国际先进的大型自动化测试仪器组成的多级测试平台所产生的集成电路测试数据源进行整合，将不同类型测试设备产生的数据规划为统一格式测试数据作为数据源，同时，整合了贯穿集成电路设计、制造、封装及应用全产业链过程的复杂多样测试数据信息。

【技术实现步骤摘要】
集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统
本专利技术涉及集成电路测试
，进一步说，尤其涉及一种集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统。
技术介绍
当前，我国集成电路产业正面临发展的重要战略机遇期、创新期和攻坚期，一方面，全球市场格局加快调整，投资规模迅速攀升，市场份额加速向优势企业集中；另一方面，移动智能终端及芯片呈爆发式增长，互联网、物联网、大数据等新业态快速发展，集成电路技术演进出现新趋势。最近几年，大数据一直是个非常热门的话题。当人们津津乐道于互联网时代海量数据带来如何的机会和价值的时候，而集成电路产业中却忽略了随时可见的芯片大数据的价值，如集成电路测试数据。当前，集成电路测试每天生成各种数据超过300G的大数据，每月测试2亿多颗芯片，每颗芯片测试参数平均约6000项，每颗芯片测试功能矢量平均约10,000,000条，测试数据还在持续增长中，若构建在线分布式数据部署、集中化信息处理等在线交互信息处理平台，研发集成电路测试海量数据(每天超过300G的数据)在线分析处理与离线深度挖掘技术，对集成电路每一环节的测试结果进行监督和分析,甚至通过一些数据的变化趋势预测问题的所在,在良率问题爆发出来以前就采取必要的措施,从而减少甚至避免产品质量的事故,降低芯片生产运营的成本，为国内外集成电路相关企业提供专业、安全的在线交互信息系统服务，这也是未来集成电路产业发展中海量测试数据所体现的价值。国内集成电路产业测试信息化还面临着如下挑战和需求：(1)物理服务集群系统需求集成电路产业中随时可见芯片大数据的价值，如PCM工艺数据、验证数据、晶圆测试数据、QA数据等集成电路数据信息，几乎所有芯片在进入市场前，都需要经过很多环节严格的测试，而每个环节的都会产生海量信息数据。因此，国内集成电路企业急需一个具有智能、高效及形成一个庞大的数据网的物理服务集群系统，兼顾安全预警服务支撑系统、全面安全保障支撑系统、高效运维管理支撑系统等功能，为上层应用提供高度集成的数据接口，实现相应虚拟化，为平台上的用户提供应用服务，形成一个完整的生态圈，为集成电路产业用户提供整套安全可控、智能监控、安全预警、动态监控的集成电路基础构架平台和服务。(2)在线信息交互服务系统的需求集成电路产业链包括集成电路设计、制造、封装、测试以及支撑辅助上述三个环节的设备和材料等环节，但是每个环节由于自身规模、技术等限制，不可能负担高额的信息系统成本，所以未来对于在线交互服务这种成本较低创新服务的需求会出现爆发，布局互联网集成电路数据中心的创新服务及解决方案，满足集成电路产业链各环节企业按需自助服务的在线交互信息服务模式将会成为集成电路设计、制造、封装测试等生态系统良性互动发展的支柱。(3)海量数据挖掘和分析需求集成电路产业中，一颗芯片在进入市场前都要经过测试验证，通常会有几十甚至上百项的测试项目，除了测试只返回Pass/Fail外,其它项目结果都包含了具体的测试数据,且反映了芯片至少某一方面的功能特性，如果是量产的芯片,少则一年出货近百万,多则每个月都到几千万颗，可以看到这些测试结果将是一个多大的数据宝库，如果这些数据能够被充分地加以统计和分析，对于芯片整体的特性，以及设计、工艺、封装等方面的问题是非常有价值的。未来，若建立一套体系和流程，对每一批芯片每一环节的测试结果进行监督和分析，甚至能够通过一些数据的变化趋势预测问题的所在，在良率问题爆发出来以前就采取必要的措施,从而减少甚至避免产品质量的事故,降低芯片生产运营的成本，这也是未来集成电路产业发展中海量测试数据所体现的价值。现有技术中，集成电路测试环境都是在千级、百级、十级等洁净车间，生产操作人员需要监管多台设备，如果出现测试异常、报警等，测试机台暂停，等待操作人员去处理，而且不一定能快速定位到问题所在，机台间的距离、异常情况、人员、异常发现及时性等都会影响处理效率，那如果多台测试机台同时出现异常，就会出现无法同时、快速的处理，设备只能停止工作，造成机时浪费、产能低等。综上所述，本专利技术提供了一种集成电路测试系统中设备互联、数据源融合模块子系统，以集成电路测试设备为基础，从底层出发，自主研发数据源，整合UI，整合集成电路测试中复杂多样的测试数据信息。
技术实现思路
本专利技术提供了一种集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统，以集成电路测试设备为基础，从底层出发，自主研发数据源，整合UI，整合集成电路测试中复杂多样的测试数据信息，其中，为实现上述技术效果，而采用的具体技术方案是：1、设备互联、数据源融合系统是在集成电路自动化测试设备的基础上，通过改进的测试OI让测试机生成原始测试数据，使用数据分析服务器的运算能力及数据库服务器的筛选能力，在云端进行所有的运算处理；设备互联、数据源融合系统包含测试设备(数据源)、中心服务器、数据预处理服务器、数据库服务器(SQLServer)、数据库服务器(MongoDB)和分析服务器；其中，测试设备(数据源)负责生成原始测试数据，中心服务器负责调度数据处理任务，数据预处理服务器负责将不同类型测试设备产生的不同格式数据进行归一化，提取测试数据中的关键参数，分析服务器用于生成测试数据并进行实时分析处理并发送，数据库服务器(SQLServer)用于存储数据测试记录，便于中心服务器索引，数据库服务器(MongoDB)用于存储数据预处理服务器生成的预处理数据，用于报表服务器生成报表；1)测试数据源为各种不同类型的测试机，测试机通过开发的测试机UI生成统一格式的测试数据作为数据源，测试数据包含但不限于RawData及与测试系统无关的STDF，在每片Wafer开始测试和结束测试的时候，将必要的Wafer信息存入数据库服务器(SQLServer)上，以便中心服务器查询Wafer测试记录使用；另外，在每片Wafer开始和结束时需要OI在数据库服务器(SQLServer)中写入Wafer的基本信息，同时，还需要将Prober的状态记录到数据库服务器(SQLServer)中，以便对环境进行监控；2)生成测试数据之后，将测试数据存放于中心服务器，中心服务器根据数据库服务器(SQLServer)中Wafer的测试记录分发数据处理任务给数据预处理服务器和测试分析服务器，在数据预处理服务器预处理完数据之后将预处理完的数据存入数据库服务器(MongoDB)中，便于测试分析服务器生成数据报表；数据库服务器(MongoDB)用于记录数据预处理后的数据，是基于分布式文件存储的数据库，介于关系数据库和非关系数据库之间，用于存储所有Die的关键参数的值，最大优势是改变关键参数时不需要重新生成表单记录，直接将新的参数作为新的key记入同一张数据库表；3)在测试数据进行预处理之后，将生成的预处理数据存入数据库服务器(MongoDB)，预处理完的数据包括但不限于WaferMap、所有Die关键参数的详细数据，数据预处理服务器由中心服务器指派数据处理任务，由于不同的产品关注的参数不同，因此，预处理完的数据也不同，通过使用主控+脚本的形式来处理数据，不同的产品使用不同的处理脚本，在产品处理脚本中将该产品要处理的关键参数列出并提取保存到MongoDB中；4)在预处理数据之后，中心服务器分发送任务给分析服务器，分析本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统，其特征在于：设备互联、数据源融合系统是在集成电路自动化测试设备的基础上，通过改进的测试OI让测试机生成原始测试数据，使用数据分析服务器的运算能力及数据库服务器的筛选能力，在云端进行所有的运算处理；设备互联、数据源融合系统包含测试设备(数据源)、中心服务器、数据预处理服务器、数据库服务器(SQL Server)、数据库服务器(MongoDB)和分析服务器；其中，测试设备(数据源)负责生成原始测试数据，中心服务器负责调度数据处理任务，数据预处理服务器负责将不同类型测试设备产生的不同格式数据进行归一化，提取测试数据中的关键参数，分析服务器用于生成测试数据并进行实时分析处理并发送，数据库服务器(SQLServer)用于存储数据测试记录，便于中心服务器索引，数据库服务器(MongoDB)用于存储数据预处理服务器生成的预处理数据，用于报表服务器生成报表。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统，其特征在于：设备互联、数据源融合系统是在集成电路自动化测试设备的基础上，通过改进的测试OI让测试机生成原始测试数据，使用数据分析服务器的运算能力及数据库服务器的筛选能力，在云端进行所有的运算处理；设备互联、数据源融合系统包含测试设备(数据源)、中心服务器、数据预处理服务器、数据库服务器(SQLServer)、数据库服务器(MongoDB)和分析服务器；其中，测试设备(数据源)负责生成原始测试数据，中心服务器负责调度数据处理任务，数据预处理服务器负责将不同类型测试设备产生的不同格式数据进行归一化，提取测试数据中的关键参数，分析服务器用于生成测试数据并进行实时分析处理并发送，数据库服务器(SQLServer)用于存储数据测试记录，便于中心服务器索引，数据库服务器(MongoDB)用于存储数据预处理服务器生成的预处理数据，用于报表服务器生成报表。2.如权利要求1所述的集成电路测试系统中设备互联、数据源融合系统，其特征在于：1)测试数据源为各种不同类型的测试机，测试机通过开发的测试机UI生成统一格式的测试数据作为数据源，测试数据包含但不限于RawData及与测试系统无关的STDF，在每片Wafer开始测试和结束测试的时候，将必要的Wafer信息存入数据库服务器(SQLServer)上，以便中心服务器查询Wafer测试记录使用；另外，在每片Wafer开始和结束时需要OI在数据库服务器(SQLServer)中写入Wafer的基本信息，同时，还需要将Prober的状态记录到数据库服务器(SQLServer)中，以便对环境进行监控。3.如权利要求2所述的集成电路测试系统中设...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗斌，张志勇，崔孝叶，季海英，王锦，蔡漪文，
申请(专利权)人：上海华岭集成电路技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31