一种集成电路良品检测系统及方法技术方案

本发明专利技术属于芯片测试技术领域，具体提供一种集成电路良品检测的系统及方法，用于实现多芯片的智能测试。本发明专利技术包括控制装置、显示装置、译码器及若干个待测芯片；显示装置连接控制转置、用于显示检测结果；若干个待测芯片的片选信号端口通过译码器连接控制装置，且每个待测芯片的时钟接口与数据传输接口均对应连接于控制装置相同接口。本发明专利技术采用待测芯片时钟接口与数据传输接口的复用技术，匹配待测芯片CS端的译码器实现控制装置n个io口对2

An Integrated Circuit Quality Detection System and Method

The invention belongs to the field of chip testing technology, and specifically provides a system and method for testing good products of integrated circuits for realizing intelligent testing of multi-chips. The invention comprises a control device, a display device, a decoder and several chips to be tested; a display device connects control transposition for displaying test results; a selected signal port of several chips to be tested connects the control device through a decoder, and the clock interface and data transmission interface of each chip to be tested correspond to the same interface of the control device. The invention adopts the multiplexing technology of the clock interface and data transmission interface of the chip to be tested, matches the decoder of the CS terminal of the chip to realize the control device with n IO ports of 2.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路良品检测系统及方法
本专利技术属于芯片测试
，涉及一种智能高效多芯片少通道的测试系统及方法，具体为一种集成电路良品检测的系统及方法。技术背景flash存储器被用于电脑和电子设备、汽车、物联网、无人机、智能家居和其他一些设备，这些应用使得flash最求更高的传输速度和更低的功耗；flash的接口从SPI扩展到OPI(OctalSPI)，通过增加串行norflash的数据传输通道，并支持single、dual、quad或者octalI/O接口；由于OctalSPI用于传输数据的IO由SPI的2个增加到8个，传输数据速度增加的同时，以往的测试中也需要占用大量的IO口。传统的芯片测试是需要人工操控，尤其是实验室测试阶段对SPI接口的芯片的测试，需要人工给予指令；近十几年来.随着智能控制方法和技术的发展，智能控制迅速走向各种专业领域，应用于各类复杂被控对象的控制问题，如工业过程控制系统、机器人系统、现代生产制造系统、交通控制系统等。智能控制是由智能机器自主地实现其目标的过程，自主地或与人交互地执行人类规定的任务的一种机器，所以在测试领域也需要一种能释放人力的智能测试系统。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路良品检测系统，包括控制装置、显示装置、译码器及若干个待测芯片；其特征在于，所述显示装置连接控制转置、用于显示检测结果；所述若干个待测芯片的片选信号端口通过译码器连接控制装置，且每个待测芯片的时钟接口与数据传输接口均对应连接于控制装置相同接口。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路良品检测系统，包括控制装置、显示装置、译码器及若干个待测芯片；其特征在于，所述显示装置连接控制转置、用于显示检测结果；所述若干个待测芯片的片选信号端口通过译码器连接控制装置，且每个待测芯片的时钟接口与数据传输接口均对应连接于控制装置相同接口。2.按权利要求1所述集成电路良品检测系统，其特征在于，所述控制装置包括指令测试模块、监控模块、存储模块及数据处理模块，其中，所述存储模块用于存储指令集及测试数据，所述指令发送模块用于发送片选信号和测试指令，所述监控模块用于实现测试芯片是否完成Erase指令的判定及系统测试状态监控。3.一种集成电路良品检测方法，其特征在于，包括以下步骤；步骤1.控制装置中指令发送模块发送片选信号，选中第一待测试芯片；步骤2.指令发送模块发送READ指令，当前待测试芯片接收并执行指令后返回相应地址数据到控制装置中存储模块，并由数据处理模块统计返回数据中“1”的占比，标记为初始良率并存储至存储模块；步骤3.指令发送模块发送Program指令，当前待测试芯片接收并执行指令，然后，指令发送模块发送READ...

【专利技术属性】
技术研发人员：高敏，沈欣，林媛，潘泰松，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川,51