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本发明属于芯片测试技术领域，具体提供一种集成电路良品检测的系统及方法，用于实现多芯片的智能测试。本发明包括控制装置、显示装置、译码器及若干个待测芯片；显示装置连接控制转置、用于显示检测结果；若干个待测芯片的片选信号端口通过译码器连接控制装置...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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