【技术实现步骤摘要】
锁存器
本专利技术涉及半导体集成电路领域，特别是涉及一种锁存器。
技术介绍
集成电路技术节点的先进给芯片的可靠性带来了很多挑战，其中一个挑战就是单粒子翻转(SEU)带来的软错误。软错误可能会发生在不同的电子设备中，例如汽车电子、医疗设备等。近些年，由于工艺节点不断先进，器件之间的距离越来越近，器件尺寸也越来越小，这使得电荷收集和电荷分享导致的单粒子多位翻转成为软错误的一个重要来源。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种锁存器，能够抵抗两位节点翻转，拦截存储单元传输的软错误。为解决上述技术问题，本专利技术的锁存器，由一个储存单元、5个传输门和一个四输入时钟控制的穆勒C单元组成，CLK为时钟信号，CLKB为CLK经过一级反相器FX1得到的时钟信号；所述存储单元由8组两输入反相器互相锁存而构成，每组反相器由一个PMOS晶体管和一个NMOS晶体管串联组成，其中，PMOS晶体管的源极与电源电压VDD相连接，NMOS晶体管的源极接地，PMOS晶体管的漏极与NMOS晶体管的漏极连接的节点，记为存储节点，所述存储单元共有8个存储节点S1～S8，分别位于每组反相器中；第一...
【技术保护点】
1.一种锁存器，其特征在于，由一个储存单元、5个传输门和一个四输入时钟控制的穆勒C单元组成，CLK为时钟信号，CLKB为CLK经过一级反相器FX1得到的时钟信号；所述存储单元由8组两输入反相器互相锁存而构成，每组反相器由一个PMOS晶体管和一个NMOS晶体管串联组成，其中，PMOS晶体管的源极与电源电压VDD相连接，NMOS晶体管的源极接地，PMOS晶体管的漏极与NMOS晶体管的漏极连接的节点，记为存储节点，所述存储单元共有8个存储节点S1～S8，分别位于每组反相器中；第一组两输入反相器由第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管组成，存储节点为S1；第二组两输入反相器由第二P...
【技术特征摘要】
1.一种锁存器，其特征在于，由一个储存单元、5个传输门和一个四输入时钟控制的穆勒C单元组成，CLK为时钟信号，CLKB为CLK经过一级反相器FX1得到的时钟信号；所述存储单元由8组两输入反相器互相锁存而构成，每组反相器由一个PMOS晶体管和一个NMOS晶体管串联组成，其中，PMOS晶体管的源极与电源电压VDD相连接，NMOS晶体管的源极接地，PMOS晶体管的漏极与NMOS晶体管的漏极连接的节点，记为存储节点，所述存储单元共有8个存储节点S1～S8，分别位于每组反相器中；第一组两输入反相器由第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管组成，存储节点为S1；第二组两输入反相器由第二PMOS晶体管和第二NMOS晶体管组成，存储节点为S2；第三组两输入反相器由第三PMOS晶体管和第三NMOS晶体管组成，存储节点为S3；第四组两输入反相器由第四PMOS晶体管和第四NMOS晶体管组成，存储节点为S4；第五组两输入反相器由第五PMOS晶体管和第五NMOS晶体管组成，存储节点为S5；第六组两输入反相器由第六PMOS晶体管和第六NMOS晶体管组成，存储节点为S6；第七组两输入反相器由第七PMOS晶体管和第七NMOS晶体管组成，存储节点为S7；第八组两输入反相器由第八PMOS晶体管和第八NMOS晶体管组成，存储节点为S8；第一传输门～第五传输门的输入端相连接，作为锁存器的数据输入端D，其控制端输入CLK，反相控制端输入CLKB，传第五输门的输出端与锁存器的输出端Q相连接；所述四输入时钟控制的穆勒C单元由5个PMOS晶体管第九～第十三和5个NMOS晶体管第九～第十三依次串联而成；第九PMOS晶体管的源极与电源电压端相连接，第十三PMOS晶体管的漏极与第九NMOS晶体管的漏极相连接，其连接的节点作为锁存器的输出端Q，第十三NMOS晶体管的源极接地；第十三PMOS晶体管的栅极输入时钟信号CLK，第九NMOS晶体管的栅极输入时钟信号CLKB；存储节点S1与第二PMOS晶体管的栅极、第八PMOS晶体...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋建伟，肖军，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31
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