【技术实现步骤摘要】
一种低温制备ZrO2绝缘层薄膜及叠层结构的方法
本专利技术属于薄膜晶体管
,具体涉及一种低温制备ZrO2绝缘层薄膜及叠层结构的方法。
技术介绍
薄膜晶体管(ThinFilmTransistor,简称TFT),作为一种用途广泛的半导体器件,其主要用途是驱动显示器中液晶的排列变化、以及驱动OLED像素发光。TFT中绝缘层能起到存储电容和防止信号串扰等作用,影响TFT器件的转移性能、稳定性和寿命。ZrO2有高的相对介电常数(~27)、较宽的禁带(7.8eV),是一种常用的介质层材料。采用制备ZrO2绝缘薄膜的过程中,常需要较高(>350℃)的退火温度来去除湿膜中的溶剂等杂质,过高的退火温度影响了ZrO2绝缘薄膜与柔性衬底(耐温~200℃)的结合,不利于实现柔性显示。为了解决这个问题,目前主流的方法是,通过紫外光照射旋涂的湿膜,从而降低所需的退火温度。但这种方式需要复杂的退火工艺和退火设备,不利于大面积处理。
技术实现思路
针对以上现有技术存在的缺点和不足之处,本专利技术的首要目的在于提供一种低温制备ZrO2绝缘层薄膜的方法。本专利技术的另一目的为提供一种 ...
【技术保护点】
1.一种低温制备ZrO2绝缘层薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将Zr(CH3COO)4溶于乙二醇单甲醚(2‑MOE)中,并加入乙醇胺作为稳定剂,搅拌后静置老化,得到前驱体溶液;所述前驱体溶液中Zr(CH3COO)4的浓度为0.3~0.6mol/L;所述乙醇胺的体积占所述前驱体溶液总体积的1/6;(2)在ITO玻璃衬底上旋涂步骤(1)所得的前驱体溶液,然后在200℃的温度下退火处理1~2h,得到ZrO2绝缘层薄膜。
【技术特征摘要】
1.一种低温制备ZrO2绝缘层薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将Zr(CH3COO)4溶于乙二醇单甲醚(2-MOE)中,并加入乙醇胺作为稳定剂,搅拌后静置老化,得到前驱体溶液;所述前驱体溶液中Zr(CH3COO)4的浓度为0.3~0.6mol/L;所述乙醇胺的体积占所述前驱体溶液总体积的1/6;(2)在ITO玻璃衬底上旋涂步骤(1)所得的前驱体溶液,然后在200℃的温度下退火处理1~2h,得到ZrO2绝缘层薄膜。2.根据权利要求1所述的一种制备ZrO2绝缘层薄膜的方...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚日晖,史沐杨,宁洪龙,周尚雄,袁炜健,李志航,蔡炜,朱镇南,魏靖林,彭俊彪,
申请(专利权)人:华南理工大学,
类型:发明
国别省市:广东,44
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