调校探针位置的测试板及测试方法技术

一种调校探针位置的测试板，包括至少一用于测试探针的测试点，该测试点包括多个具有导电功能的测试区，每一测试区与不同阻值的电阻相连接，该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区，该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区，该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区，该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开，该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一第二绝缘区相间隔开。本发明专利技术还涉及一种调校探针位置的测试方法。本发明专利技术实现简单，能够有效提高探针调校的效率。

Test board and test method for adjusting probe position

A test board for adjusting the probe position includes at least one test point for testing the probe. The test point includes a plurality of test areas with conductive function, each of which is connected with resistance of different resistance values, and the plurality of test areas include a first test area and a plurality of second test areas around which the plurality of second test areas surround. A test area is arranged to surround the first test area. The test point also includes a first insulation area and a plurality of second insulation areas. The first test area is separated from the plurality of second test areas by the first insulation area. Each two second test areas in the plurality of second test areas are separated by a second insulation area. The invention also relates to a test method for adjusting the probe position. The invention is simple in implementation and can effectively improve the efficiency of the probe adjustment.

【技术实现步骤摘要】
调校探针位置的测试板及测试方法
本专利技术涉及ICT(InCircuitTest,电路在线测试)领域，尤其涉及一种调校ICT治具探针位置的测试板及测试方法。
技术介绍
现有技术中，当ICT测试治具上的探针偏位时，技术人员很难把握探针的偏离方向及偏离距离，因而造成相关的技术人员花费大量的时间来调校探针的位置，降低了探针调校的效率。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种调校探针位置的测试板及测试方法以解决调校探针效率低下的问题。一种调校探针位置的测试板，包括至少一用于测试探针的测试点，该测试点包括多个具有导电功能的测试区，每一测试区与不同阻值的电阻相连接，该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区，该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区，该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区，该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开，该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一第二绝缘区相间隔开。一种利用上述测试板的调校探针位置的测试方法，用于对一待测治具的探针的位置进行调校，该方法包括步骤：提供一电阻测试设备，该电阻测试设备存储有一对应关系表，该对应关系表中定义有多个不同落点位置与不同阻值的对应关系；将该电阻测试设备的负极连接端接地及将正极连接端与该待测治具的探针连接；将该探针放置到该测试板的测试点上进行测试；获取该电阻测试设备检测出的电阻值；根据获取的电阻值及存储的对应关系表确定该探针在该测试点中的落点位置；根据确定出的落点位置对该探针进行调校。本专利技术通过检测与测试区相连接的电阻的阻值而确定探针落入测试区的落点位置，并根据探针在测试点中的落点位置对测试治具的探针的位置进行调校。本专利技术实现简单，能够有效提高探针调校的效率。附图说明图1为本专利技术一实施方式中调校探针位置的测试板的示意图。图2为图1所述测试板中测试点的示意图。图3为本专利技术一实施方式中调校探针位置的测试方法的流程图。图4为本专利技术一实施方式中调校探针位置的测试方法的应用环境图。图5为本专利技术一实施方式中对应关系表的示意图。主要元件符号说明如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式请参考图1，所示为本专利技术一实施方式中调校探针位置的测试板1的示意图。该测试板1包括至少一测试点2。该测试点2用于对测试治具(图中未示)的探针进行测试。请一并参考图2，所示为本专利技术一实施方式中测试点的示意图。该测试点2包括多个具有导电功能的测试区21。每一测试区21与不同阻值的电阻3相连接。该多个测试区21分为第一测试区211及多个第二测试区212。该多个第二测试区212围绕该第一测试区211设置而包围该第一测试区211。在本实施方式中，该多个第二测试区212均匀分布在该第一测试区211周围。该测试点2还包括第一绝缘区22及多个第二绝缘区23。该第一测试区211通过该第一绝缘区22与该多个第二测试区212相间隔开。该多个第二测试区212中每两个第二测试区通过一第二绝缘区23相间隔开。具体的，本实施方式中，该测试点2整体呈圆形，该第一测试区211为圆形结构，该第二测试区212为扇形结构。该多个第二测试区212的数量为八个，该八个第二测试区212等间隔地设置在该第一测试区211周围而将该第一测试区211包围在中心。在本实施方式中，该设置在第一测试区211与该第二测试区212之间的第一绝缘区22为环形结构，该设置在两个第二测试区212之间的第二绝缘区23为条形结构。参考图2，本实施方式中，该圆形结构的第一测试区211的第一直径D1及该扇形结构的第二测试区212的第二直径D2均大于探针的直径。该第一测试区211与该第二测试区212之间的第一间距S1及两个第二测试区212之间的第二间距S2均小于探针的直径。在一实施方式中，该探针的直径为0.07mm，该第一测试区211的第一直径D1为0.28mm，该第二测试区212的第二直径D2为0.5mm，该第一间距S1及该第二间距S2均为0.07mm。本实施方式中，该多个电阻3的数量为九个，该九个电阻3的阻值互不相同。该九个电阻3分别与该第一测试区211及八个第二测试区212相连接。由于该第一测试区211及该多个第二测试区212分别与不同阻值的电阻3相连接，因而当探针落入测试点2的测试区21中时，可以通过检测与测试区21相连接的电阻3的阻值而确定探针落入测试区21的落点位置。用户可以根据探针在测试点2中的落点位置对测试治具的探针的位置进行调校。请参考图3，所示为本专利技术一实施方式中调校探针位置的测试方法的流程图。请一并参考图4，所示为调校探针位置的测试方法的应用环境图。该方法应用在测试板1、电阻测试设备4及测试治具(图中未示)组成的应用环境中，用于对该待测治具的探针的位置进行调校。本实施方式中，该电阻测试设备4为一ICT测试机台。该方法包括步骤：S301：提供电阻测试设备4，该电阻测试设备4存储有一对应关系表41(参见图5)，该对应关系表41中定义有多个不同落点位置与不同的阻值对应关系。S302：将该电阻测试设备4的负极连接端401接地及将正极连接端402与该待测治具的探针连接。S303：将该探针放置到该测试板1的测试点2上进行测试。S304：获取该电阻测试设备4检测出的电阻值。S305：根据获取的电阻值及存储的对应关系表确定该探针在该测试点2中的落点位置。S306：根据确定出的落点位置对该探针进行调校。进一步的，该方法在步骤S306中还包括：判断该探针的落点位置是否位于第一测试区211；在确定该探针的落点位置位于第一测试区211时，则不对该探针的位置进行调整；及在确定该探针的落点位置不位于第一测试区211时，则对该探针的位置进行调整。进一步的，请参考图5，该对应关系表41中还定义有多个不同落点位置与不同调校指示信息的对应关系。在一实施方式中，该方法在步骤“在确定该探针的落点位置不位于第一测试区211时，则对该探针的位置进行调整”后还包括步骤：根据确定出的落点位置及该对应关系表确定与该落点位置对应的调校指示信息；及将该调校指示信息在电阻测试设备4上进行显示。本实施方式中，该调校指示信息还包括对该探针进行移动的方向信息及距离信息。用户可以确定出的调校指示信息将测试治具的探针按照调校指示信息中的方向信息及距离信息进行调校。以上实施例仅用以说明本专利技术的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施例对本专利技术进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本专利技术的技术方案进行修改或者等同替换都不应脱离本专利技术技术方案的精神和范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种调校探针位置的测试板，包括至少一用于测试探针的测试点，其特征在于，该测试点包括多个具有导电功能的测试区，每一测试区与不同阻值的电阻相连接，该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区，该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区，该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区，该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开，该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一个第二绝缘区相间隔开。

【技术特征摘要】
1.一种调校探针位置的测试板，包括至少一用于测试探针的测试点，其特征在于，该测试点包括多个具有导电功能的测试区，每一测试区与不同阻值的电阻相连接，该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区，该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区，该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区，该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开，该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一个第二绝缘区相间隔开。2.如权利要求1所述的调校探针位置的测试板，其特征在于，该第一测试区为圆形，该多个第二测试区中每一第二测试区为扇形，该多个第二测试区等间隔地设置在该第一测试区周围而将该第一测试区包围。3.如权利要求2所述的调校探针位置的测试板，其特征在于，该第一绝缘区为环形结构，该第二绝缘区为条形结构。4.如权利要求3所述的调校探针位置的测试板，其特征在于，该第一测试区的第一直径及该每一第二测试区的第二直径均大于该探针的直径，且该第一测试区与该每一第二测试区之间的第一间距及该两个第二绝缘区之间的第二间距均小于该探针的直径。5.如权利要求4所述的调校探针位置的测试板，其特征在于，该第一测试区的第一直径为0.28mm。6.如权利要求4所述的调校探针位置的测试板，其特征在于，该每一第二测试区的第二直径为0.5mm。7.如权利要求4所述的调校探针位置的测试板，其特征在于，该第一间距及该第二间距均为0.07mm。8.一种利用权利要求1所述的调校探针...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宇青，杨炜达，侯晓峰，梁国栋，
申请(专利权)人：富泰华工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44