测试量子产率的方法技术

本发明专利技术提供了一种测试量子产率的方法，包括：提供折射率ns的第一溶剂，将待测物质溶解在第一溶剂中形成待测液，得到待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对待测液进行测试得到待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs；在波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，得到多种标准物质各自的发射峰波长λr，根据多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值，由多个C值和相应的发射峰波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由发射峰波长λs和灵敏度计算式得到相应的灵敏度Cs；待测物质的量子产率QYs由下式得出：

Method for testing quantum yield

The invention provides a method for measuring quantum yield, which includes: providing a first solvent of refractive index ns, dissolving the substance to be measured in the first solvent to form the liquid to be measured, obtaining the absorbance as of the substance to be measured, and using the first excitation light of wavelength lambda 1 to test the liquid to obtain the emission peak integral area Fs and emission of the substance to be measured. The first excitation light intensity is obtained at wavelength lambda 1, and the emission peak wavelength lambda r of various reference materials is obtained by providing various reference materials. According to the quantum yield QYr, excitation wavelength lambda 2, multiple second excitation light intensity Ir, absorbance Ar and emission of various reference materials at multiple excitation wavelengths lambda 2 are obtained. The integral area Fr of emission peak is used to obtain the sensitivity C values of the testing device, and the sensitivity formula C=f(lambda) is established by the multiple C values and the corresponding emission peak wavelength lambda R. The corresponding sensitivity Cs are obtained by the emission peak wavelength lambda s and the sensitivity formula, and the quantum yield QYs of the substance to be measured is obtained by the following formula:

【技术实现步骤摘要】
测试量子产率的方法
本申请属于量子点领域，特别是涉及一种测试量子产率的方法。
技术介绍
荧光材料的量子产率是其重要的参数。从理论上讲，量子产率为发射总光子数与吸收总光子数的比值。目前，测定量子产率的直接方法例如有积分球法等，这些方法需要专业的设备，在普通实验室中难以进行。测定量子产率的间接方法有传统光谱参比法，该方法简单、速度快，但是这种方法测试结果不准确。为此，需要一种新的测试方法。
技术实现思路
针对上述技术问题，本申请提供一种测试量子产率的方法。根据本专利技术的方法属于间接方法，易于在普通实验室中进行。此外，本专利技术的方法对激发光源进行了修正，从而提高了测试结果的准确性。根据本专利技术的测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供折射率为ns的第一溶剂，将待测物质溶解在第一溶剂中形成待测液，得到待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对待测液进行测试得到待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs；在波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，得到所述多种标准物质各自的发射峰波长λr，并且根据多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个第二波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值，由多个C值和相应的发射峰波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由发射峰波长λs和灵敏度计算式得到对应于发射峰波长λs的灵敏度Cs；待测物质的量子产率QYs由下式得出：本专利技术的方法借助于标准物质对待测物的量子产率进行了测试，属于间接测试方法。在测试过程中无需专业设备，在普通实验室中就能方便地进行。相比于现有技术，在本专利技术的方法中，含有激发光源的发光强度的计算项Ir、Is和测试装置的灵敏度，由此考虑了影响测试结果的多种因素，从而提高了测试结果的准确性。在一个实施例中，灵敏度C的计算式由以下方法获得：提供折射率为nr的第二溶剂，将一种标准物质溶解在第二溶剂中形成标准液，得到标准物质的吸光度Ar；使用激发波长λ2的第二激发光对标准液进行测试，得到标准物质的发射峰积分面积Fr和发射峰波长λr；在激发波长λ2处获得第二激发光光强Ir；测试装置的灵敏度参数对多种标准物质分别进行测试，获得测试装置的多个C值；将多个C值和相应的发射峰波长λr拟合得到测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)。在一个实施例中，该拟合为最小二乘法。在一个实施例中，将Fr缩放以使灵敏度Cs值处于0-20之间；Fs缩放的倍数与Fr缩放的倍数相同。专利技术人发现，对于有些测试装置，Fr和Fs的数值非常大，这导致Cs的值非常小，从而给计算带来不便，甚至会导致计算结果不准确。为此，将Fs和Fr缩放相同的倍数，从而将Cs值处于0-20之间，可极大地方便计算，并且不会影响最终的结果。在一个实施例中，第一激发光和第二激发光由同一连续光源得到。连续光源可以发出波长范围较宽的光。通过使用单色器，例如光栅，可以从连续光源发射的光中选择出波长范围非常窄的光，并由此可将选择的光作为激发光。通过这种方法获得激发光可以进一步避免不同光源对测试结果带来的影响，从而进一步提高测试结果的准确性。在一个实施例中，将连续光源的光强以预定波长处的光强为基准进行归一化处理，第一激发光光强Is和第二激发光光强Ir为归一化处理后的数值。通过归一化处理，可极大地减小数据处理量，从而简化计算过程，这也有助于提高最终结果的准确性。在一个优选的实施例中，预定波长为波长λ1。由此，第一激发光光强Is归一化处理后的数值为1，进一步简化了计算过程。在一个更有选的实施例中，波长λ1为370nm或450nm。对于发射蓝光的待测物而言，可选用波长λ1为370nm的光强为基准来对连续光源的光强进行归一化处理，对于发射绿光或红光的待测物而言，可选用波长λ1为450nm的光强为基准来对连续光源的光强进行归一化处理。这样，不同的待测物均在相同的激发光下进行测试，避免了由不同的激发光导致的测试结果不同，从而进一步提高了测试结果的准确性。在一个实施例中，标准物质为以下化合物中的一种：在一个实施例中，第一溶剂与所述第二溶剂相同或不同。优选地，第一溶剂和第二溶剂各自为水、乙醇、甲苯、氯仿、正庚烷、正己烷、正辛烷中的一种。与现有技术相比，本专利技术的优点在于：(1)本专利技术的方法借助于标准物质对待测物的量子产率进行了测试，属于间接测试方法。在测试过程中无需专业设备，在普通实验室中就能方便地进行。(2)相比于现有技术，在本专利技术的方法中，含有激发光源的发光强度的计算项Ir、Is和测试装置的灵敏度。由此，考虑了影响测试结果的光源因素和测试装置因素，从而提高了测试结果的准确性。附图说明图1是实施本专利技术的方法的过程示意图；图2是本专利技术的第一测试装置的灵敏度的计算式的图像；图3是本申请的实施例一的标准物质的发射光谱；图4是本专利技术的第二测试装置的灵敏度的计算式的图像；图5是本申请的实施例二的标准物质的发射光谱；图6是本申请的实施例三的待测物质的发射光谱。具体实施方式下面将结合本申请实施方式，对本申请实施例中的技术方案进行详细地描述。应注意的是，所描述的实施方式仅仅是本申请一部分实施方式，而不是全部实施方式。图1示意性地显示了根据本专利技术的方法的测试量子产率的方法。如图1所示，本专利技术的方法包括以下步骤：步骤11：提供折射率为ns的第一溶剂，将待测物质溶解在第一溶剂中形成待测液，得到待测物质的吸光度As。吸光度可通过现有技术中公知方法获得，例如通过紫外分光光度计获得，这里不再赘述。步骤12：使用波长λ1的第一激发光对待测液进行测试得到待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs。通过测试待测物质的发射光谱，经数学计算就可以得到发射峰积分面积。发射峰波长也可通过数学方法容易地读出。这些获得过程都是本领域的技术人员公知的，不再赘述。步骤13：在波长λ1处，获得第一激发光光强Is。步骤14：提供多种标准物质，得到多种标准物质各自的发射峰波长λr。根据多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值。由多个C值和相应的发射峰波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)。对于标准物质而言，其量子产率QYr、激发波长λ2为可通过查阅文献而得之的量。吸光度Ar、发射峰波长λr、发射峰积分面积Fr、第二激发光光强Ir的得到方式与待测物质相同。步骤15：由发射峰波长λs和灵敏度计算式得到对应于发射峰波长λs的灵敏度Cs。步骤16：计算待测物质的量子产率QYs。第一测试装置：连续光源为日立F4500氙灯光源，型号：UXL-S150。测试其光强并且以其波长为450nm处的光强为基准，对光源的光强进行归一化处理，结果如表1。测试方案和归一化方法都是本领域的技术人员公知的，这里不再赘述。第二测试装置：连续光源为英国fluoroSENS9000氙灯光源，型号：XBO150W/CROFR。测试其光强并且以其波长为450nm处的光强为基准，对光源的光强进行归一化处理，结果如表2。测试方案和归一化方法都是本领域的技术人员公知的，这里不再赘述。实施例1：使用第一测试装置。第一测试装置的灵敏度计算式的获得：使用前述(1-1)～(本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供折射率为ns的第一溶剂，将待测物质溶解在所述第一溶剂中形成待测液，得到所述待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对所述待测液进行测试得到所述待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs；在所述波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，得到所述多种标准物质各自的发射峰波长λr，并且根据所述多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个所述激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值，由所述多个C值和相应的发射峰波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由所述发射峰波长λs和所述灵敏度计算式得到对应于所述发射峰波长λs的灵敏度Cs；所述待测物质的量子产率QYs由下式得出：

【技术特征摘要】
1.测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供折射率为ns的第一溶剂，将待测物质溶解在所述第一溶剂中形成待测液，得到所述待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对所述待测液进行测试得到所述待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs；在所述波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，得到所述多种标准物质各自的发射峰波长λr，并且根据所述多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个所述激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值，由所述多个C值和相应的发射峰波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由所述发射峰波长λs和所述灵敏度计算式得到对应于所述发射峰波长λs的灵敏度Cs；所述待测物质的量子产率QYs由下式得出：2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述灵敏度计算式由以下方法获得：提供折射率为nr的第二溶剂，将一种标准物质溶解在所述第二溶剂中形成标准液，得到所述标准物质的吸光度Ar；使用激发波长λ2的第二激发光对所述标准液进行测试，得到所述标准物质的发射峰积分面积Fr和发射峰波长λr；在所述激发波长λ2处获得...

【专利技术属性】
技术研发人员：王允军，孙雅娟，李敬群，
申请(专利权)人：苏州星烁纳米科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32