一种复位测试电路制造技术

本实用新型专利技术涉及一种复位测试电路，包括双刀双掷开关S1、电阻R1、R2、R3、发光二极管LED以及电子连接器P1；所述双刀双掷开关S1的第一定触点与电子连接器P1的1号引脚连接，第一左端动触点通过电阻R3连接到地，第一右端动触点通过电阻R2连接到发光二极管LED的负极，所述发光二极管LED的正极同时连接到所述双刀双掷开关S1的第二定触点和电子连接器P1的2号引脚；所述电子连接器P1的2号引脚还通过电阻R1连接到地，所述电子连接器P1的3号引脚连接到地；所述双刀双掷开关S1的第二左端动触点和第二右端动触点连接到电源；本实用新型专利技术的复位测试电路实现一个工位就能满足待测模块复位和测试要求，提升效率、降低成本。

A reset test circuit

The utility model relates to a reset test circuit, which comprises a double-pole double-throw switch S1, a resistor R1, R2, R3, a light-emitting diode LED and an electronic connector P1; the first fixed contact of the double-pole double-throw switch S1 is connected with pin 1 of the electronic connector P1, and the first left moving contact is connected to the ground through a resistor R3, and the first right moving contact. The positive pole of the LED is connected to the second fixed contact of the double-pole double-throw switch S1 and pin No. 2 of the electronic connector P1; the pin No. 2 of the electronic connector P1 is also connected to the ground through the resistance R1, and the pin No. 3 of the electronic connector P1 is connected to the ground. The second left end movable contact and the second right end movable contact of the double-pole double-throw switch S1 are connected to the power supply; the reset test circuit of the utility model can meet the reset and test requirements of the module to be tested by realizing one station, thereby improving the efficiency and reducing the cost.

【技术实现步骤摘要】
一种复位测试电路
本技术涉及一种复位测试电路，特别是涉及一种用于着座传感模块的复位测试电路。
技术介绍
复位电路是一种用来使电路恢复到起始状态的电路设备，现有技术中人们一般会对需要复位的电路进行测试，判断复位信号是否正常，而采取的方案则是分两个工位进行操作，第一次给待测模块复位，第二次给待测模块初始化并测试功能，这样的方案分两次测试，既增加了生产测试的成本，同时降低了生产成本。
技术实现思路
有鉴于此，针对现有技术的不足，本技术旨在于提供一种复位测试电路，能同时满足模块复位和测试的要求。为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：一种复位测试电路，包括双刀双掷开关S1、电阻R1、R2、R3、发光二极管LED以及电子连接器P1；所述双刀双掷开关S1的第一定触点与电子连接器P1的1号引脚连接，第一左端动触点通过电阻R3连接到地，第一右端动触点通过电阻R2连接到发光二极管LED的负极，所述发光二极管LED的正极同时连接到所述双刀双掷开关S1的第二定触点和电子连接器P1的2号引脚；所述电子连接器P1的2号引脚还通过电阻R1连接到地，所述电子连接器P1的3号引脚连接到地；所述双刀双掷开关S1的第二左端动触本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种复位测试电路，其特征在于：包括双刀双掷开关S1、电阻R1、R2、R3、发光二极管LED以及电子连接器P1；所述双刀双掷开关S1的第一定触点与电子连接器P1的1号引脚连接，第一左端动触点通过电阻R3连接到地，第一右端动触点通过电阻R2连接到发光二极管LED的负极，所述发光二极管LED的正极同时连接到所述双刀双掷开关S1的第二定触点和电子连接器P1的2号引脚；所述电子连接器P1的2号引脚还通过电阻R1连接到地，所述电子连接器P1的3号引脚连接到地；所述双刀双掷开关S1的第二左端动触点和第二右端动触点与5V电源相连接。

【技术特征摘要】
1.一种复位测试电路，其特征在于：包括双刀双掷开关S1、电阻R1、R2、R3、发光二极管LED以及电子连接器P1；所述双刀双掷开关S1的第一定触点与电子连接器P1的1号引脚连接，第一左端动触点通过电阻R3连接到地，第一右端动触点通过电阻R2连接到发光二极管LED的负极，所述发光二极管LED的正极同时连接到所述双刀双掷开关S1的第二定触点和电子连接器P1的2号引脚；...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘文涛，
申请(专利权)人：厦门博晶光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35