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一种复位测试电路制造技术
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文档序号:18983003
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本实用新型涉及一种复位测试电路,包括双刀双掷开关S1、电阻R1、R2、R3、发光二极管LED以及电子连接器P1;所述双刀双掷开关S1的第一定触点与电子连接器P1的1号引脚连接,第一左端动触点通过电阻R3连接到地,第一右端动触点通过电阻R2连...
该专利属于厦门博晶光电技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过厦门博晶光电技术有限公司授权不得商用。
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