量测待煎烤食物厚度的方法技术

一种量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测一个食物厚度，并包含以下步骤。使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间。使该煎烤装置对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间。使该检测装置于该加热时间计时至一个第一检测时点的期间，从该探针测得一个第一升温值，并分析出该食物厚度。本发明专利技术通过将该探针插入食物，并在煎烤过程中，通过侦测探针的温度来判断出食物的厚度，进而根据判断出的食物厚度来估算出适当的煎烤所需时间，借此能煎烤出熟成程度适当的食物。

Method of measuring the thickness of the food to be baked

A method for measuring the thickness of the food to be baked is suitable for measuring the thickness of a food with a roasting device and a detection device, and includes the following steps. An energy temperature probe of the detection device is inserted into a frying space. The frying and roasting device is frying and baking the food located in the frying space, and a heating time is started. When the heating time is timed to a first detection point, a first temperature rise value is measured from the probe and the thickness of the food is analyzed. By inserting the probe into food and detecting the thickness of the food by detecting the temperature of the probe during the process of roasting, the time needed to be estimated according to the thickness of the food is estimated, so that the appropriate food can be cooked and cooked to a suitable degree.

【技术实现步骤摘要】
量测待煎烤食物厚度的方法
本专利技术涉及一种量测方法，特别是涉及一种量测待煎烤食物厚度的方法。
技术介绍
现有的煎烤装置在煎烤食物时都必须通过使用者自行设定煎烤所需时间，而该煎烤所需时间通常与食物的厚度及熟度有关，一般的使用者必须花费相当多的时间与心力来熟记或记录各种食物所需的煎烤所需时间，一旦对该煎烤装置的使用经验不足，往往会输入不适当的煎烤所需时间，而导致该煎烤装置煎烤出熟成程度不适当的食物，例如过度熟成或烤焦，如此一来不仅会造成食物的浪费，也会造成电能的虚耗，因此现有的煎烤方法仍有待改善。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能量测待煎烤食物厚度的方法。本专利技术的量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测一个食物厚度，该量测待煎烤食物厚度的方法包含以下步骤(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间。(B)使该煎烤装置，对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间；及(C)使该检测装置于该加热时间计时至一个第一检测时点的期间，从该探针测得一个第一升温值，并分析出该食物厚度。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(A)会先使该探针预热至一个预热温度，再使该探针插入该煎烤空间，并计时一个确认时间，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含在步骤(A)后的一个步骤(D)使该检测装置于该确认时间的期间从该探针所测得一个降温值，判断该煎烤空间是否有待煎烤的该食物。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(D)是使该检测装置在该降温值小于一个判断值时，判断该煎烤空间没有待煎烤的该食物；在该降温值大于或等于该判断值时，判断该煎烤空间有待煎烤的该食物，并接续执行步骤(B)。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(C)是使该检测装置于该第一升温值大于或等于一个第一检测值时，判断该食物厚度为一个第一厚度。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(C)还使该检测装置于该第一升温值小于该第一检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，该量测待煎烤食物厚度的方法，还包含一个步骤(E)在该第一升温值小于该第一检测值时，使该检测装置于该加热时间计时至一个大于该第一检测时点的第二检测时点的期间，从该探针测得一个第二升温值，并使检测装置于该第二升温值大于一个第二检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(E)还使该检测装置于该第二升温值小于该第二检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第二厚度的第三厚度。本专利技术的量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测食物厚度，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含以下步骤。(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间。(B)使该煎烤装置对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间。(C)使该检测装置于该加热时间计时至一个第三检测时点时，根据该探针之不同部位所分别测得的一个第一温度值与一个第二温度值，分析出该食物厚度。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(A)会先使该探针预热至一个预热温度，再使该探针插入该煎烤空间，并计时一个确认时间，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含在步骤(A)后的一个步骤(D)使该检测装置根据该探针于该确认时间的期间所测得的一个降温值，判断该煎烤空间是否有待煎烤的该食物。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(D)是使该检测装置在该降温值小于一个判断值时，判断该煎烤空间没有待煎烤的该食物；在该降温值大于或等于该判断值时，判断该煎烤空间有待煎烤的该食物，并接续执行步骤(B)。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(A)是使该探针插入该煎烤空间内，并使该探针于该煎烤空间高度小于一个第一厚度时，能够穿入该煎烤装置的一个凹槽；步骤(C)是使该检测装置从该探针的一个未位于该凹槽内的第一感测点测得该第一温度值，并从该探针的一个位于该凹槽内的第二感测点测得该第二温度值，并使该检测装置于该第二温度值减去该第一温度值的差值大于或等于该第三检测值时，判断该食物厚度为该第一厚度。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(C)还使该检测装置于该第二温度值减去该第一温度值的差值小于该第三检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，该量测待煎烤食物厚度的方法，还包含一个步骤(E)在该第二温度值减去该第一温度值的差值小于该第三检测值时，使该检测装置于该加热时间计时至一个大于该第三检测时点的第四检测时点时，从该第一感测点测得一个第三温度值，并从第二感测点测得一个第四温度值，并使该检测装置于该第三温度值减去该第四温度值的差值小于一个第四检测值，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。本专利技术所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(E)还使该检测装置于该第三温度值减去该第四温度值的差值大于该第四检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第二厚度的第三厚度。本专利技术的有益效果在于：通过将该探针插入食物，并在煎烤过程中，通过侦测探针的温度来判断出食物的厚度，进而根据判断出的食物厚度来估算出适当的煎烤所需时间，借此能煎烤出熟成程度适当的食物。附图说明本专利技术的其他的特征及功效，将于参照图式的实施方式中清楚地呈现，其中：图1是一个立体图，说明本专利技术量测待煎烤食物厚度的方法的第一实施例搭配的一个煎烤装置及一个检测装置；图2是一个不完整的剖视侧视图，说明该第一实施例量测一个厚度为第一厚度的食物；图3是一个步骤流程图，说明该第一实施例；图4是一个步骤流程图，说明该第一实施例的一个进行煎烤的步骤；图5是一个不完整的剖视侧视图，说明该第一实施例量测一个厚度为第二厚度的食物；图6是一个不完整的剖视侧视图，说明该第一实施例量测一个厚度为第三厚度的食物；图7是一个立体示意图，说明该第一实施例搭配之另一种实施态样的一个煎烤装置及一个检测装置。图8是一个不完整的剖视侧视图，说明本专利技术量测待煎烤食物厚度的方法的第二实施例量测一个厚度为第一厚度的食物；图9是一个不完整的剖视侧视图，说明该第二实施例量测一个厚度为第二厚度的食物；图10是一个不完整的剖视侧视图，说明该第二实施例量测一个厚度为第三厚度的食物。具体实施方式在本专利技术被详细描述前，应当注意在以下的说明内容中，类似的元件是以相同的编号来表示。参阅图1与图2，本专利技术量测待煎烤食物厚度的方法第一实施例，用于搭配一个煎烤装置1，及一个检测装置33来量测一个待煎烤食物900的厚度，所述待煎烤食物900例如：牛排、猪排或鸡排，在此先介绍该煎烤装置1的结构，该煎烤装置1包含一个第一煎烤模块2，及一个与该第一煎烤模块2能枢转地结合的第二煎烤模块3，该第一煎烤模块2与该第二煎烤模块3上下相配合界定出一个用于容纳该食物900的煎烤空间4。在一般使用状态下，该第一煎烤模块2摆放在桌面上并能供食物900摆放，而该第二煎烤模块3能相对于该第一煎烤模块2在一个盖合位置及一个打开位置间转换。该第一煎烤模块2包括一个供食物900摆放的下烤盘21，及一个安装于该下烤盘21的下加热单元(图未示)。该下烤盘21具有一个朝上的第一煎烤面211，以及一个由该下煎烤面21本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测一个食物厚度，其特征在于：该量测待煎烤食物厚度的方法包含以下步骤：(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间；(B)使该煎烤装置对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间；及(C)使该检测装置于该加热时间计时至一个第一检测时点的期间，从该探针测得一个第一升温值，并以该第一升温值分析出该食物厚度。

【技术特征摘要】
1.一种量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测一个食物厚度，其特征在于：该量测待煎烤食物厚度的方法包含以下步骤：(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间；(B)使该煎烤装置对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间；及(C)使该检测装置于该加热时间计时至一个第一检测时点的期间，从该探针测得一个第一升温值，并以该第一升温值分析出该食物厚度。2.如权利要求1所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(A)会先使该探针预热至一个预热温度，再使该探针插入该煎烤空间，并计时一个确认时间，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含在步骤(A)后的一个步骤(D)使该检测装置于计时该确认时间的期间从该探针所测得一个降温值，并以该降温值判断该煎烤空间是否有待煎烤的该食物。3.如权利要求2所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(D)是使该检测装置在该降温值小于一个判断值时，判断该煎烤空间没有待煎烤的该食物；在该降温值大于或等于该判断值时，判断该煎烤空间有待煎烤的该食物，并接续执行步骤(B)。4.如权利要求1所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(C)是使该检测装置于该第一升温值大于或等于一个第一检测值时，判断该食物厚度为一个第一厚度。5.如权利要求4所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(C)还于该第一升温值小于该第一检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。6.如权利要求4所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：该量测待煎烤食物厚度的方法，还包含一个步骤(E)在该第一升温值小于该第一检测值时，于该加热时间计时至一个大于该第一检测时点的第二检测时点的期间，从该探针测得一个第二升温值，并于该第二升温值大于或等于一个第二检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。7.如权利要求6所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(E)还使该检测装置于该第二升温值小于该第二检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第二厚度的第三厚度。8.一种量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测食物厚度，其特征在于：该量测待煎烤食物厚度的方法包含以下步骤：(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间；及(B)使该煎烤装置对位于...

【专利技术属性】
技术研发人员：占毅信，蔡灿加，
申请(专利权)人：漳州灿坤实业有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35