一种半导体测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体测试探针，包括存放标、保护盖、第一探头、探针本体和第二探头，所述探针本体上开设有滑动区，且滑动区两端均刻录有螺纹槽，所述第一探头和第二探头分别焊接在探针本体的两端，所述存放标通过套圈套装在探针本体的滑动区上，所述存放标的一端开设有螺纹腔，所述套圈的表面焊接有与螺纹腔相适配的连接轴，所述套圈通过连接轴与存放标上开设的螺纹腔连接，所述保护盖通过旋转轴转动安装在存放标上，所述存放标上开设有收容槽。本实用新型专利技术能够在探测过程中合理的使用，同时可进行有效的收容管理，避免探针本体的丢失和损害，有效延长使用寿命，提供探测便捷性。

A semiconductor test probe

The utility model discloses a semiconductor test probe, including storage standard, protective cover, the first probe, the probe body and second probe, the probe body is provided with a sliding zone, and the sliding zone at both ends burning with threaded groove, the first probe and second probe respectively welded at both ends of the probe body. The store marked on the probe body sliding zone through the ring are sheathed, the storage object is opened at one end of the thread cavity, the surface of the ring is welded with the connecting shaft and the threaded cavity is matched with the threaded cavity through the ferrule connecting shaft and open storage standard connection on the protective cover by rotation shaft installed in the storage standard, the storage scale is provided with a containing slot. The utility model can be used reasonably in the detection process, at the same time, it can carry out effective storage management, avoid loss and damage of the probe body, prolong the service life effectively, and provide convenience for detection.

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试探针
本技术涉及探针工具
，具体为一种半导体测试探针。
技术介绍
随着科技的发展，消费者不断地朝着电子产品小巧、轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中，是精密测量电阻或者其他电信号最常用的采样手段，探针主要类型：悬臂探针和垂直探针，但是现有的探针由于本身体积过小，在使用后的收容管理以及保存上带来一定的难度，保存不当将直接影响二次使用。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种半导体测试探针，具备能够在探测过程中合理的使用，同时可进行有效的收容管理，避免探针本体的丢失和损害，有效延长使用寿命，提供探测便捷性的优点，解决了上述背景提出的技术问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体测试探针，包括存放标、保护盖、第一探头、探针本体和第二探头，所述探针本体上开设有滑动区，且滑动区两端均刻录有螺纹槽，所述第一探头和第二探头分别焊接在探针本体的两端，所述存放标通过套圈套装在探针本体的滑动区上，所述存放标的一端开设有螺纹腔，所述套圈的表面焊接有与螺纹腔相适配的连接轴，所述套圈通过连接轴与存放标上开设的螺纹腔连接，所述保护本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体测试探针，包括存放标(2)、保护盖(3)、第一探头(4)、探针本体(5)和第二探头(9)，其特征在于：所述探针本体(5)上开设有滑动区(7)，且滑动区(7)两端均刻录有螺纹槽(6)，所述第一探头(4)和第二探头(9)分别焊接在探针本体(5)的两端，所述存放标(2)通过套圈(8)套装在探针本体(5)的滑动区(7)上，所述存放标(2)的一端开设有螺纹腔(14)，所述套圈(8)的表面焊接有与螺纹腔(14)相适配的连接轴(13)，所述套圈(8)通过连接轴(13)与存放标(2)上开设的螺纹腔(14)连接，所述保护盖(3)通过旋转轴(12)转动安装在存放标(2)上，所述存放标(2)上开设有收容槽...

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试探针，包括存放标(2)、保护盖(3)、第一探头(4)、探针本体(5)和第二探头(9)，其特征在于：所述探针本体(5)上开设有滑动区(7)，且滑动区(7)两端均刻录有螺纹槽(6)，所述第一探头(4)和第二探头(9)分别焊接在探针本体(5)的两端，所述存放标(2)通过套圈(8)套装在探针本体(5)的滑动区(7)上，所述存放标(2)的一端开设有螺纹腔(14)，所述套圈(8)的表面焊接有与螺纹腔(14)相适配的连接轴(13)，所述套圈(8)通过连接轴(13)与存放标(2)上开设的螺纹腔(14)连接，所述保护盖...

【专利技术属性】
技术研发人员：傅马腾，
申请(专利权)人：东莞市台易电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44