大电流测试探针制造技术

技术编号:46431342 阅读:2 留言:0更新日期:2025-09-19 20:37
本技术公开了一种大电流测试探针,包括管体,所述管体的一端设置有第一针体,所述第一针体与管体固定连接,所述管体远离第一针体的另一端设置有第二针体,所述第二针体部分被管体包裹,在所述第二针体靠近第一针体的一端沿着管体方向设置有导向柱,在所述第一针体和第二针体之间设置有弹簧,所述弹簧紧束在导向柱上且与管体的内壁不接触。本申请所述第一针体与管体固定连接,所以在弹簧被压缩的情况下,第一针体和管体会进行整体的移动,所以两者之间的接触电阻是稳定的,同时,由于所述弹簧紧束在导向柱上且与管体的内壁不接触,因此不会产生多余的接触电阻,从而减少探针在进行大电流测试时候的能量损耗和发热现象。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试探针领域,具体而言是涉及一种大电流测试探针


技术介绍

1、现有的测试探针通常都是在针头的一端连接弹簧,然后将管体套接在针头和弹簧的外部,在测试的时候,由于针头接触到测试产品后会进行回缩,因此针头和管体之间的相对位置会发生变化,因此两者之间的接触电阻会产生变化,同时,由于上述方案中弹簧与管体的内壁相互接触,因此在弹簧不断伸缩的过程中,弹簧与管体之间的接触电阻也会产生变化,接触电阻的频繁变化首先会导致当大电流通过时,根据欧姆定律,接触电阻上会产生较大的电压降,从而造成能量损耗,并可能使探针发热,其次这种不稳定的接触会导致电流传输的不稳定性,使通过探针的电流大小波动,影响设备的正常运行。


技术实现思路

1、为了解决上述的问题,本技术提供一种大电流测试探针,包括管体,所述管体的一端设置有第一针体,所述第一针体与管体固定连接,所述管体远离第一针体的另一端设置有第二针体,所述第二针体部分被管体包裹,所述第二针体可在管体内部沿着管体的内壁进行移动,在所述第二针体靠近第一针体的一端沿着管体方向设置有导向柱,在本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种大电流测试探针,其特征在于,包括管体(100),所述管体(100)的一端设置有第一针体(200),所述第一针体(200)与管体(100)固定连接,所述管体(100)远离第一针体(200)的另一端设置有第二针体(300),所述第二针体(300)部分被管体(100)包裹,所述第二针体(300)可在管体(100)内部沿着管体(100)的内壁进行移动,在所述第二针体(300)靠近第一针体(200)的一端沿着管体(100)方向设置有导向柱(310),在所述第一针体(200)和第二针体(300)之间设置有弹簧(400),所述弹簧(400)紧束在导向柱(310)上且与管体(100)的内壁不接触...

【技术特征摘要】

1.一种大电流测试探针,其特征在于,包括管体(100),所述管体(100)的一端设置有第一针体(200),所述第一针体(200)与管体(100)固定连接,所述管体(100)远离第一针体(200)的另一端设置有第二针体(300),所述第二针体(300)部分被管体(100)包裹,所述第二针体(300)可在管体(100)内部沿着管体(100)的内壁进行移动,在所述第二针体(300)靠近第一针体(200)的一端沿着管体(100)方向设置有导向柱(310),在所述第一针体(200)和第二针体(300)之间设置有弹簧(400),所述弹簧(400)紧束在导向柱(310)上且与管体(100)的内壁不接触。

2.根据权利要求1所述的大电流测试探针,其特征在于,所述第一针体(200)包括接触部(210),在远离所述接触部(210)的一端设置有环状的第一支撑槽(220),所述第一支撑槽(220)用于抵接管体(100)。

3.根据权利要求2所述的大电流测试探针,其特征在于,在所述第一针体...

【专利技术属性】
技术研发人员:涂炳超
申请(专利权)人:东莞市台易电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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