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本实用新型公开了一种半导体测试探针，包括存放标、保护盖、第一探头、探针本体和第二探头，所述探针本体上开设有滑动区，且滑动区两端均刻录有螺纹槽，所述第一探头和第二探头分别焊接在探针本体的两端，所述存放标通过套圈套装在探针本体的滑动区上，所述存...
该专利属于东莞市台易电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞市台易电子科技有限公司授权不得商用。

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