用于对结构的元件的位置进行测量的测量方法和系统技术方案

公开了一种用于对结构的元件的位置进行测量的测量方法和系统。用于对结构（10）的元件（16）的位置进行测量的方法包括下述步骤：在测量位置处将容纳设备（18）附接到元件（16）；将第一参考设备（20、20b）附接到容纳设备（18）；使用适于测量第一参考设备（20、20b）的位置的第一测量设备（22、22b）来确定第一测量点；移除第一参考设备（20、20b）；将第二参考设备（20、20a）附接到容纳设备（18）；以及使用适于测量第二参考设备（20、20a）的位置的第二测量设备（22、22a）来确定第二测量点。

A measuring method and system for measuring the position of a structural element

A measuring method and system for measuring the position of a component of a structure is disclosed. For the structure (10) element (16) position measurement method comprises the following steps: in the measuring position will accommodate the device (18) attached to the element (16); the first reference device (20, 20b) attached to the receiving device (18); the use of the first reference for measuring equipment (20, 20b) the position of the first measuring device (22, 22b) to determine the first measurement point; remove the first reference device (20, 20b); the second reference devices (20, 20a) attached to the receiving device (18); and is suitable for the measurement of second reference devices (20, 20a) second position measuring equipment (22, 22a) to determine the second measurement points.

【技术实现步骤摘要】
用于对结构的元件的位置进行测量的测量方法和系统相关申请的引用本申请要求2012年12月20日提交的欧洲专利申请第EP12198635.0号和2012年12月20日提交的美国临时专利申请第61/739,783号的申请日的权益，此处通过引用将所述申请的公开内容并入本文中。
本专利技术涉及用于对结构的元件的位置进行测量的方法和测量系统。
技术介绍
当通过测量系统来支持工业过程，例如大规模结构的建造时，要在该结构的对象坐标系统上对测量点进行测量。在第一步骤中，要确定已知的参考点，在第二步骤中，可以确定附加元件的位置。使用激光跟踪器设备，通常相继地确定测量点。在这种情况下，当结构在测量期间移动、振动或变形少许时，可能会确定错误的测量点。另外可能的测量技术基于摄影测量和触觉位置测量，在该摄影测量中，在从不同位置拍摄的相机图像的帮助下确定测量目标的位置，在该触觉位置测量中，将作为测量目标的接触探针与参考位置接触。可以通过固定到接触探针的臂的位置和取向来确定接触探针的位置。通常，参考位置或参考点是基于单点或双点适配器的。经由偏移或向量减缩(vectorreduction)，可以根据这些点来确定参考点本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对结构(10)的元件(16)的位置进行测量的方法，所述方法包括以下步骤：在测量位置处将容纳设备(18)附接到所述元件(16)；将第一参考设备(20、20b)附接到所述容纳设备(18)；使用适于测量所述第一参考设备(20、20b)的位置的第一测量设备(22、22b)来确定第一测量点；移除所述第一参考设备(20、20b)；将第二参考设备(20、20a、20c、20d)附接到所述容纳设备(18)；以及使用适于测量所述第二参考设备(20、20a、20c、20d)的位置的第二测量设备(22、22a、22c、22d)来确定第二测量点。

【技术特征摘要】
2012.12.20 EP 12198635.0;2012.12.20 US 61/739,7831.一种用于对结构(10)的元件(16)的位置进行测量的方法，所述方法包括以下步骤：在测量位置处将容纳设备(18)附接到所述元件(16)；将第一参考设备(20、20b)附接到所述容纳设备(18)；使用适于测量所述第一参考设备(20、20b)的位置的第一测量设备(22、22b)来确定第一测量点；移除所述第一参考设备(20、20b)；将第二参考设备(20、20a、20c、20d)附接到所述容纳设备(18)；以及使用适于测量所述第二参考设备(20、20a、20c、20d)的位置的第二测量设备(22、22a、22c、22d)来确定第二测量点。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述容纳设备(18)包括第一支承元件(26)，并且所述第一参考设备(20、20b)和所述第二参考设备(20、20a、20c、20d)中的每个参考设备包括第二支承元件(36)，以使得当参考设备(20)相对于所述容纳设备(18)旋转时，所述参考设备(20)的参考点相对于所述参考设备所附接到的容纳设备(18)不移动。3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述第一支承元件(26)具有形成如截锥的支承面(28)。4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述第二支承元件(36)具有形成如球冠的支承面(38)。5.根据权利要求1所述的方法，其中，使用磁体(30)暂时地附接所述容纳设备(18)以及所述第一参考设备(20、20b)和所述第二参考设备(20、20a、20c、20d)中的至少一个参考设备。6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一参考设备和所述第二参考设备(20a、20c)中的至少一个参考设备包括承载板(32)，所述承载板作为用于测量目标(40)的承载体。7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一参考设备(20、20b)和/或所述第二参考设备(20、20a、20c、20...

【专利技术属性】
技术研发人员：约翰内斯·马斯连尼科夫，本杰明·贝克，彼得·凯特勒，
申请(专利权)人：空中客车德国运营有限责任公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE