一种存储卡集成电路测试用测试台制造技术

本发明专利技术涉及一种测试台，尤其涉及一种存储卡集成电路测试用测试台。本发明专利技术要解决的技术问题是提供一种取出便利、散热效果好的存储卡集成电路测试用测试台。为了解决上述技术问题，本发明专利技术提供了这样一种存储卡集成电路测试用测试台，包括有支撑柱等；工作板顶部设置有通孔，工作板中部设置有第一凹槽，第一凹槽内设置有放置装置，放置装置底部左右对称式设置有滚动轮，放置装置后侧连接有固定装置，固定装置穿过通孔，工作板底部均匀设置有透气孔，透气孔位于第一凹槽下方，透气孔与第一凹槽连通。本发明专利技术达到了取出便利和散热效果好的效果，放置装置中的固定框被用于放置存储卡，使其取出便利，与透气孔配合，便于散热。

A test table for memory card integrated circuit test

The present invention relates to a test table, in particular to a test table for memory card integrated circuit testing. The technical problem to be solved in the invention is to provide a test table for storage card integrated circuit testing with convenient removal and good heat dissipation effect. In order to solve the technical problem, the invention provides a memory card for IC test test bench comprises a support column; work top plate is provided with a through hole, the working plate is arranged in the middle part of the first groove and the first groove is arranged in the holding device placed at the bottom of the symmetrical type device is provided with a rolling wheel. Place the rear device connected with the fixing device, fixing device passes through the through hole, air holes are uniformly arranged at the bottom of the plate work, air hole is positioned in the first groove below the air hole and groove communicated with the first. The invention achieves the effect of taking out conveniently and having good heat dissipation effect. The fixing frame in the placement device is used for placing the memory card to make it take out conveniently, and is matched with the air hole to facilitate the heat dissipation.

【技术实现步骤摘要】
一种存储卡集成电路测试用测试台
本专利技术涉及一种测试台，尤其涉及一种存储卡集成电路测试用测试台。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。存储卡，是用于手机、数码相机、便携式电脑、MP3和其他数码产品上的独立存储介质，一般是卡片的形态，故统称为“存储卡”，又称为“数码存储卡”、“数字存储卡”、“储存卡”等。对于计算机而言，集成电路包括中央控制单元(CPU)、内存储器、外存储器、I/O控制电路等。对集成电路测试，是为了更好地确保存储卡的质量，有利于控制成本，达到利益最大化。现如今存储卡集成电路测试，就是将存储卡放置于固定的测试卡槽内，取出时，需要用手将其抠出，而且固定的测试卡槽内底部比较封闭，散热效果差，因此亟需研发一种取出便利、散热效果好的存储卡集成电路测试用测试台。
技术实现思路
(1)要解决的技术问题本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，包括有支撑柱(1)、工作板(2)、放置装置(3)、固定装置(5)、感应器(7)和滚动轮(9)，工作板(2)顶部设置有通孔(6)，工作板(2)中部设置有第一凹槽(4)，第一凹槽(4)内设置有放置装置(3)，放置装置(3)底部左右对称式设置有滚动轮(9)，放置装置(3)后侧连接有固定装置(5)，固定装置(5)穿过通孔(6)，工作板(2)底部均匀设置有透气孔(8)，透气孔(8)位于第一凹槽(4)下方，透气孔(8)与第一凹槽(4)连通，工作板(2)底部左右对称式设置有第二凹槽(10)，第二凹槽(10)位于第一凹槽(4)下方，第二凹槽(10)位于透气孔(8)两...

【技术特征摘要】
1.一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，包括有支撑柱(1)、工作板(2)、放置装置(3)、固定装置(5)、感应器(7)和滚动轮(9)，工作板(2)顶部设置有通孔(6)，工作板(2)中部设置有第一凹槽(4)，第一凹槽(4)内设置有放置装置(3)，放置装置(3)底部左右对称式设置有滚动轮(9)，放置装置(3)后侧连接有固定装置(5)，固定装置(5)穿过通孔(6)，工作板(2)底部均匀设置有透气孔(8)，透气孔(8)位于第一凹槽(4)下方，透气孔(8)与第一凹槽(4)连通，工作板(2)底部左右对称式设置有第二凹槽(10)，第二凹槽(10)位于第一凹槽(4)下方，第二凹槽(10)位于透气孔(8)两侧，左侧的滚动轮(9)位于左侧的第二凹槽(10)内，右侧的滚动轮(9)位于右侧的第二凹槽(10)内，工作板(2)内左右两侧对称式设置有感应器(7)，感应器(7)位于第一凹槽(4)两侧，左侧的工作板(2)底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱(1)。2.根据权利要求1所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，放置装置(3)包括有连接板(31)、凸起(32)和放置框(33)，第一凹槽(4)内设置有放置框(33)，放置框(33)前后两侧均连接有连接板(31)，前侧的连接板(31)的前侧设置有凸起(32)，凸起(32)位于第一凹槽(4)前侧。3.根据权利要求2所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，固定装置(5)包括有U形板(52)、压块(53)、升降杆(54)、卡块(55)、第一弹簧(56)和横杆(57)，后侧的连接板(31)后侧连接有U形板(52)，U形板(52)左右对称式设置有导向孔(51)，第一凹槽(4)内后侧均匀设置有第一弹簧(56)，第一弹簧(56)顶端设置有横杆(57)，横杆(57)顶部中间设置有升降杆(54)，升降杆(54)穿过通孔(6)，升降杆(54)顶端设置有压块(53)，压块(53)位于工作板(2)外方，横杆(57)顶部左右两侧对称式设置有卡块(55)，卡块(55)位于导向孔(51)内。4.根据权利要求3所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，还包括有散热装置(11)，散热装置(11)包括有固定槽(111)、电机(112)、滑块(113)、风扇...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜俊慧，汤晓娟，彭姗姗，
申请(专利权)人：杜俊慧，
类型：发明
国别省市：湖北,42