一种光学参数测量装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光学参数测量装置及其测量方法，首先采用分光组件将待测试显示面板的显示光线至少分为两束测试光线，利用对应于第一光探测器的跨阻放大电路对一束测试光线进行电压值测量，之后通过控制单元根据跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型确定积分时间，接着利用对应于第二光探测器的积分电路采用确定出的积分时间对另一束测试光线直接进行准确测量，最后控制单元根据积分电路在积分时间内输出的电压值，确定待测试显示面板的显示亮度。由于采用跨阻放大电路可以实时获取测试光线的光线强度以计算出所需的积分时间，因此可省去耗时很长的积分时间调节过程，以提高对待测试显示面板的测量速度。

【技术实现步骤摘要】
一种光学参数测量装置及其测量方法
本专利技术涉及光学器件测量
，尤其涉及一种光学参数测量装置及其测量方法。
技术介绍
目前，使用光探测器对目标光源进行积分测量可以达到计量光强度的目的，但是如果目标光源的光强度在一定范围内变化，例如在对待测试显示面板进行诸如亮度的光学参数测量时，就需要使用微控制单元(MCU，Micro-controllerUnit)根据积分结果来调节积分时间。具体地，在显示屏的亮度测量方案中，最普遍的方法是使用硅光电池对光电流进行积分，根据光电流的强弱来进行积分时间调节，一般都是在不同积分时间下采样多次后通过计算来取得合理的积分时间，需要耗费很长的调节时间，才能达到nA级光电流的测量。因此，目前基于光探测器的亮度测量方式具有测量速度较低的缺点。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种光学参数测量装置及其测量方法，用以解决现有的测量方式测量速度较低的问题。因此，本专利技术实施例提供了一种光学参数测量装置，包括：分光组件、第一光探测器、第二光探测器、跨阻放大电路、积分电路和控制单元；其中，所述分光组件，用于将待测试显示面板的显示光线至少分为第一测试光线和第二测试光线；所述第一光探测器，用于将所述第一测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述跨阻放大电路；所述跨阻放大电路，用于将输入的所述第一测试光线的光电流进行电流电压转换且以设定比例放大后输出对应的电压值；所述第二光探测器，用于将所述第二测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述积分电路；所述积分电路，用于在所述控制单元的控制下，以设定的积分时间对所述第二测试光线的光电流进行积分后输出对应的电压值；所述控制单元，用于根据所述跨阻放大电路输出的电压值确定所述积分电路所需的积分时间；以及控制所述积分电路的积分时间，并根据所述积分电路在所述积分时间内累积输出的电压值，确定所述待测试显示面板的显示亮度。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述控制单元，具体用于根据所述跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型，确定所述积分电路所需的积分时间。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述控制单元，还用于确定所述跨阻放大电路输出的最大电压值和最小电压值的时间差；控制所述积分电路以所述时间差进行输出，并根据所述积分电路输出的最大亮度对应的电压值和最小亮度对应的电压值，确定所述待测试显示面板的闪烁值。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述分光组件为分光板、棱镜、光栅或光纤。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述分光组件分成的所述第一测试光线的光线强度小于所述第二测试光线的光线强度。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述分光组件为分光板、棱镜或光栅；所述亮度测量装置，还包括：设置于所述分光组件和所述第二光探测器之间的传递路径上的反射板。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，还包括：设置于所述分光组件和所述第一光探测器之间的传递路径上的第一滤镜。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，还包括：设置于所述分光组件和所述第二光探测器之间的传递路径上的第二滤镜。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述第一光探测器和所述第二光探测器为光电二极管。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，所述光电二极管为硅光电池。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置中，还包括：模数转换单元，用于将所述跨阻放大器输出的电压值和所述积分电路输出的电流值进行模拟信号到数字信号的转换后输出至所述控制单元。另一方面，本专利技术实施例还提供了一种采用上述光学参数测量装置的测量方法，包括：分光组件将待测试显示面板的显示光线至少分为第一测试光线和第二测试光线；第一光探测器将所述第一测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述跨阻放大电路；所述跨阻放大电路将输入的所述第一测试光线的光电流进行电流电压转换且以设定比例放大后输出对应的电压值；控制单元根据所述跨阻放大电路输出的电压值确定积分电路所需的积分时间；第二光探测器将所述第二测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述积分电路；所述控制单元控制所述积分电路以设定的积分时间对所述第二测试光线的光电流进行积分，并根据所述积分电路在所述积分时间内输出的电压值，确定所述待测试显示面板的显示亮度。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置的测量方法中，所述控制单元根据所述跨阻放大电路输出的电压值确定积分电路所需的积分时间，具体包括：所述控制单元根据所述跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型，确定所述积分电路所需的积分时间。在一种可能的实现方式中，在本专利技术实施例提供的上述光学参数测量装置的测量方法中，还包括：所述控制单元确定所述跨阻放大电路输出的最大电压值和最小电压值的时间差；所述控制单元控制所述积分电路以所述时间差进行输出，并根据所述积分电路输出的最大亮度对应的电压值和最小亮度对应的电压值，确定所述待测试显示面板的闪烁值。本专利技术实施例的有益效果包括：本专利技术实施例提供的一种光学参数测量装置及其测量方法，首先采用分光组件将待测试显示面板的显示光线至少分为两束测试光线，利用对应于第一光探测器的跨阻放大电路对一束测试光线进行电压值测量，之后通过控制单元根据跨阻放大电路输出的电压值确定积分时间，接着利用对应于第二光探测器的积分电路采用确定出的积分时间对另一束测试光线直接进行准确测量，最后控制单元根据积分电路在积分时间内输出的电压值，确定待测试显示面板的显示亮度。由于采用跨阻放大电路可以实时获取待测试面板的显示光线中第一测试光线分量的光线强度，可以直接以计算出积分电路所需的积分时间，因此，可以省去耗时很长的积分时间调节过程，以提高光探测器对待测试显示面板的亮度测量速度。附图说明图1为本专利技术实施例提供的光学参数测量装置的结构示意图之一；图2为本专利技术实施例提供的光学参数测量装置的结构示意图之二；图3为本专利技术实施例提供的光学参数测量装置的结构示意图之三；图4为本专利技术实施例提供的光学参数测量装置的结构示意图之四；图5为本专利技术实施例提供的光学参数测量装置的测量方法的流程图之一；图6为本专利技术实施例提供的光学参数测量装置的测量方法的流程图之二。具体实施方式下面结合附图，对本专利技术实施例提供的光学参数测量装置及其测量方法的具体实施方式进行详细地说明。附图中各部件的形状和大小形状不反映光学参数测量装置的真实比例，目的只是示意说明本
技术实现思路
。本专利技术实施例提供的一种光学参数测量装置，如图1所示，包括：分光组件100、第一光探测器200、第二光探测器300、跨阻放大电路400、积分电路500和控制单元600；其中，分光组件100，用于将待测试显示面板A的显示光线至少分为第一测试光线a1和第二测试光线a2；第一光探测器200，用于将第一测试光线a1的光线强度转换为光电流并输入至跨阻放大电路400；跨阻放大电路400，用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学参数测量装置，其特征在于，包括：分光组件、第一光探测器、第二光探测器、跨阻放大电路、积分电路和控制单元；其中，所述分光组件，用于将待测试显示面板的显示光线至少分为第一测试光线和第二测试光线；所述第一光探测器，用于将所述第一测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述跨阻放大电路；所述跨阻放大电路，用于将输入的所述第一测试光线的光电流进行电流电压转换且以设定比例放大后输出对应的电压值；所述第二光探测器，用于将所述第二测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述积分电路；所述积分电路，用于在所述控制单元的控制下，以设定的积分时间对所述第二测试光线的光电流进行积分后输出对应的电压值；所述控制单元，用于根据所述跨阻放大电路输出的电压值确定所述积分电路所需的积分时间；以及控制所述积分电路的积分时间，并根据所述积分电路在所述积分时间内输出的电压值，确定所述待测试显示面板的显示亮度。

【技术特征摘要】
1.一种光学参数测量装置，其特征在于，包括：分光组件、第一光探测器、第二光探测器、跨阻放大电路、积分电路和控制单元；其中，所述分光组件，用于将待测试显示面板的显示光线至少分为第一测试光线和第二测试光线；所述第一光探测器，用于将所述第一测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述跨阻放大电路；所述跨阻放大电路，用于将输入的所述第一测试光线的光电流进行电流电压转换且以设定比例放大后输出对应的电压值；所述第二光探测器，用于将所述第二测试光线的光线强度转换为光电流并输入至所述积分电路；所述积分电路，用于在所述控制单元的控制下，以设定的积分时间对所述第二测试光线的光电流进行积分后输出对应的电压值；所述控制单元，用于根据所述跨阻放大电路输出的电压值确定所述积分电路所需的积分时间；以及控制所述积分电路的积分时间，并根据所述积分电路在所述积分时间内输出的电压值，确定所述待测试显示面板的显示亮度。2.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述控制单元，用于根据所述跨阻放大电路输出的多个电压值以及预先设定的电压和积分时间的关系模型，确定所述积分电路所需的积分时间。3.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述控制单元，还用于确定所述跨阻放大电路输出的最大电压值和最小电压值的时间差；控制所述积分电路以所述时间差进行输出，并根据所述积分电路输出的最大亮度对应的电压值和最小亮度对应的电压值，确定所述待测试显示面板的闪烁值。4.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述分光组件为分光板、棱镜、光栅或光纤。5.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述分光组件分成的所述第一测试光线的光线强度小于所述第二测试光线的光线强度。6.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述分光组件为分光板、棱镜或光栅；所述亮度测量装置，还包括：设置于所述分光组件和所述第二光探测器之间的传递路径上的反射板。7.如权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，还包括：设置于所述分光组件和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘莹莹，武震，廖永俊，李星，马慧君，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，京东方河北移动显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11