电容测量系统及电容测量方法技术方案

一种电容测量系统及电容测量方法。该电容测量系统包括一三维移动设备、一触控头及一控制主机。触控头连接至三维移动设备。控制主机电性连接至三维移动设备及一触控面板。控制主机藉由控制三维移动设备来移动触控头，以依照触控面板的整面上以矩阵方式排列的多个测量点的位置来触碰触控面板，并读取触控面板的各测量点被触控头触碰时的测量电容值。控制主机依照这些测量点的这些测量电容值产生一彩色图像，以表现触控面板整面的测量电容值的分布。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触控面板，且特别涉及一种应用于触控面板的电容测量系统及电容测量方法。
技术介绍
触控面板(touch panel)的应用非常广泛，例如自动柜员机、销售点终端机、工业控制系统等。近年来，随着便携式电子产品(例如智能手机及平板计算机)的普及，触控面板提供更方便的输入方式。触控面板主要分为电阻式(resistive)触控面板及电容式(capacitive)触控面板。就电容式触控面板而言，以手指接触面板来进行操作。在电容式触控面板(以下通称触控面板)的生产制造上，为了确保触控面板的精准度符合规格需求，通常会对整批的触控面板进行抽检，而抽检的过程会在多个选定的测量点上触碰触控面板并经由触控面板来读取所测量到的电容值。当所测量到的电容值落在预设范围内时，则认定这批触控面板的抽检合格。然而，上述的抽检过程仅针对触控面板的某些点的电容值进行测量，以判断所测量的电容值是否落在预设范围内。然而，有时用户会反映触控面板的某些区域有触控不良的情况发生，然而上述的抽检过程无法针对触控面板的整面进行评估。
技术实现思路
本专利技术提供一种电容测量系统，用以测量触控面板的电容值并对应测量结果产生彩色图像。本专利技术提供一种电容测量方法，用以测量触控面板的电容值并对应测量结果产生彩色图像。本专利技术的一种电容测量系统包括一三维移动设备、一触控头及一控制主机。触控头连接至三维移动设备。控制主机电性连接至三维移动设备及触控
面板。控制主机藉由控制三维移动设备来移动触控头，以依照一触控面板的整面上以矩阵方式排列的多个测量点的位置来触碰触控面板，并读取触控面板的各测量点被触控头触碰时的测量电容值。控制主机依照这些测量点的这些测量电容值产生一彩色图像，以表现触控面板整面的测量电容值的分布。本专利技术的一种电容测量方法包括下列步骤。藉由一控制主机控制一三维移动设备以移动一触控头，以依照一触控面板的整面上以矩阵方式排列的多个测量点的位置来触碰触控面板，并读取触控面板的各测量点被触控头触碰时的测量电容值。藉由控制主机依照这些测量点的这些测量电容值产生一彩色图像，以表现触控面板整面的测量电容值的分布。基于上述，在本专利技术中，测量触控面板整面的电容值，并依照所测量的电容值来产生一彩色图像，以表现触控面板整面的电容值的分布。因此，用户可依照彩色图像的颜色来判断触控面板的所有测量点的电容值是否在预设范围内，也可依照彩色图像的颜色变化来判断触控面板的某个区域内的电容值落差是否过大。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。附图说明图1是本专利技术的一实施例的一种电容测量系统的示意图。图2是测量触控面板整面所得出的测量结果的示意图。图3是将图2的测量结果转换成彩色图像的示意图。图4是本专利技术的一实施例的一种电容测量系统的示意图。【符号说明】50：触控面板100：电容测量系统110：三维移动设备120：触控头130：控制主机200：彩色图像201：色块S102、S104：步骤具体实施方式请参考图1，在本实施例中，电容测量系统100包括一三维移动设备110、一触控头120及一控制主机130。触控头120连接至三维移动设备110。控制主机130电性连接至三维移动设备110及一触控面板50。三维移动设备110可定位待测的触控面板50。控制主机130藉由控制三维移动设备110来移动触控头120，以依照触控面板50的整面上以矩阵方式排列的多个测量点的位置来触碰触控面板50，并读取触控面板50的各测量点被触控头120触碰时的测量电容值。这些测量点的位置及对应的测量电容值如图2所示。请参考图1至图3，控制主机130可依照这些测量点的这些测量电容值(如图2)产生一彩色图像200(如图3)，以表现触控面板50整面的测量电容值的分布。因此，用户可藉由彩色图像200在视觉上判断所测量的触控面板50的质量是否符合要求。用户可依照彩色图像200的颜色来判断触控面板50的所有测量点的电容值是否在预设范围内，也可依照彩色图像200的颜色变化来判断触控面板50的某个区域内的电容值落差是否过大。请再参考图1至图3，在本实施例中，彩色图像200由多个色块201所构成，这些色块201分别对应这些测量点的位置排列在彩色图像200上，且控制主机130依照各测量点的测量电容值(如图2)决定对应的色块201(如图3)所呈现的颜色。请再参考图1至图3，在本实施例中，控制主机130更可存储一查找表(或一对照表)，查找表包括连续的多个电容值区间，而这些电容值区间分别对应多个不同的颜色，且控制主机130将各测量点的测量电容值比对查找表以获得各测量点所对应的色块201所呈现的颜色。在本实施例中，可依照这些电容值区间的大小沿着一色环或一色阶选用这些颜色。因此，用户可藉由色环的颜色分布或色阶的明暗分布来判断触控面板50整面的测量电容值的分布。请参考图1至图4，配合图1的电容测量系统100来说明本实施例的电容测量方法。首先，如步骤S102所示，藉由控制主机130控制三维移动设备110以移动触控头120，以依照一触控面板50的整面上以矩阵方式排列的多个测量点的位置来触碰触控面板50，并读取触控面板50的各测量点被触控头120触碰时的测量电容值。接着，如步骤S104所示，藉由控制主机130依
照这些测量点的这些测量电容值(如图2)产生一彩色图像200(如图3)，以表现触控面板50整面的测量电容值的分布。请参考图1至图4，在产生彩色图像200的步骤S104中，彩色图像200由多个色块201所构成，控制主机130依照这些色块201分别对应这些测量点的位置排列在彩色图像200上，且控制主机130依照各测量点的测量电容值(如图2)决定对应的色块201(如图3)所呈现的颜色。此外，在产生彩色图像200的步骤中，控制主机130更可存储一查找表(或一对照表)，查找表包括连续的多个电容值区间，而这些电容值区间分别对应多个不同的颜色，且控制主机130将各测量点的测量电容值比对查找表以获得各测量点所对应的色块201所呈现的颜色。在本实施例中，可依照这些电容值区间的大小沿着一色环或一色阶选用这些颜色。对整批的触控面板进行抽检时，可以选出几片触控面板进行全面性的电容值测量，以判断是否所有测量点的测量电容值均落在预设范围内。若从彩色图像上可以观察到局部的测量电容值的变异性过大，则可进一步厘清是否是生产条件或其他因素所导致，以避免继续生产不良品。综上所述，在本专利技术中，测量触控面板整面的电容值，并依照所测量的电容值来产生一彩色图像，以表现触控面板整面的电容值的分布。因此，用户可依照彩色图像的颜色来判断触控面板的所有测量点的电容值是否在预设范围内，也可依照彩色图像的颜色变化来判断触控面板的某个区域内的电容值落差是否过大。虽然本专利技术已以实施例公开如上，然其并非用以限定本专利技术，本领域技术人员在不脱离本专利技术的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本专利技术的保护范围当视所附的权利要求书所界定者为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容测量系统，其特征在于，该电容测量系统包括：三维移动设备；触控头，连接至该三维移动设备；以及控制主机，电性连接至该三维移动设备及触控面板，其中该控制主机藉由控制该三维移动设备来移动该触控头，以依照该触控面板的整面上以矩阵方式排列的多个测量点的位置来触碰该触控面板，并读取该触控面板的各该测量点被该触控头触碰时的测量电容值，且该控制主机依照这些测量点的这些测量电容值产生彩色图像，以表现该触控面板整面的测量电容值的分布。

【技术特征摘要】
1.一种电容测量系统，其特征在于，该电容测量系统包括：三维移动设备；触控头，连接至该三维移动设备；以及控制主机，电性连接至该三维移动设备及触控面板，其中该控制主机藉由控制该三维移动设备来移动该触控头，以依照该触控面板的整面上以矩阵方式排列的多个测量点的位置来触碰该触控面板，并读取该触控面板的各该测量点被该触控头触碰时的测量电容值，且该控制主机依照这些测量点的这些测量电容值产生彩色图像，以表现该触控面板整面的测量电容值的分布。2.如权利要求1所述的电容测量系统，其中该彩色图像由多个色块所构成，这些色块分别对应这些测量点的位置排列在该彩色图像上，且该控制主机依照各该测量点的该测量电容值决定对应的该色块所呈现的颜色。3.如权利要求2所述的电容测量系统，其中该控制主机存储查找表，该查找表包括连续的多个电容值区间，而这些电容值区间分别对应多个不同的颜色，且该控制主机将各该测量点的该测量电容值比对该查找表以获得各该测量点所对应的该色块所呈现的颜色。4.如权利要求3所述的电容测量系统，其中依照这些电容值区间的大小沿着色环选用这些颜色。5.如权利要求3所述的电容测量系统，其中依照这些电容值区间的大小沿着...

【专利技术属性】
技术研发人员：范盛淳，曾建铭，
申请(专利权)人：宏达国际电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71