电容值测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电容值测量装置，包括：一个充电及放电装置，其一端与第一参考电压连接；一个与第二参考电压及充电及放电装置连接之比较装置；一个与比较装置之输出端连接之脉冲产生装置，用以提供一个脉冲信号；一个与脉冲产生装置连接之除频装置，可将脉冲信号除以一个设定值（Ｍ）；一个与除频装置连接之计数装置，可于放电期间进行计数；以及一个控制装置，用以控制充电及放电装置、脉冲产生装置及除频装置，并提供除频装置之设定值（Ｍ）；其中当进入放电期间且比较装置的输出状态改变时，则关闭脉冲产生装置，并由控制装置再启动充电及放电装置，直到启动次数达到另一设定值（Ｎ）时，则由显示装置显示出计数装置之累计值。

【技术实现步骤摘要】

本发涉及一种电容值测量装置及其测量之方法，且特别涉及一种使用 除频装置来获得一个近似平均结果的电容值测量装置，同时此电容值测量装置也可与一种万用电表(Multi-meter)结合使用。
技术介绍
目前一般的电容测量装置，大都使用积分器来测量待测电容在充电及 放电周期(cycle)过程中，在积分器上所累积的电荷值来推算待测电容值。 通常，每秒钟的测量大多为3 4次的电及放电周期。若想要获得较精确或 稳定的电容值时，需要取多次的充电及放电周期之运算结果来做平均，故 需要花很长的时间。例如美国专利号第4458196、 4716361、 5073757、 5136251 、6275047及6624640等，都已披露使用上述之方法来测量电容值。由于电容的阻抗跟电容值与频率的乘积成反比(2= 1/jwC),因此对越 小的电容而言，其相对交流(AC)信号的阻抗(IMPEDENCE)就会越大， 故在测量时，越容易受噪声的干扰。此状况在低频噪声的干扰下，尤其明 显。在测量的环境中，例如将电容测量装置置入多功能之万用电表中，则 往往容易有50Hz or 60Hz之市电的干扰源，使得测量的结果不稳定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容值测量装置，包括：参考电压产生装置，用以提供第一参考电压；分压装置，其一端与该参考电压产生装置连接并产生第二参考电压，而另一端则与比较装置之第一输入端连接；充电及放电装置，其一端与该参考电压产生装置连接，而另一端则与该比较装置之第二输入端连接；脉冲产生装置，与该比较装置之输出端连接，并提供脉冲信号；除频装置，与该脉冲产生装置连接，并将该脉冲信号除以第一设定值（Ｍ）；计数装置，与该除频装置连接，并于该充电及放电装置进行放电期间进行计数；及控制装置，用以控制该充电及放电装置、该脉冲产生装置及该除频装置，并提供该除频装置之该第一设定值（Ｍ）；其中当该比较装置之该第二输入端之电压小于该第一输入...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黎俊良，
申请(专利权)人：承永资讯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]