一种电子产品的测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种电子产品的测试系统及方法，所述测试系统包括智能上位机、测试控制装置和测试仪器，所述智能上位机与所述测试控制装置通讯连接，所述测试控制装置还同时连接测试仪器和待测产品，所述测试仪器还连接待测产品。本发明专利技术提供的测试系统和测试方法可实现对多种不同的电子产品进行性能测试，而且产品测试基本为自动化控制，减少了人工操作，每个测试位可节省1个以上的人力，节省了生产成本，同时由于产品生产换线时不用再更换测试设备或经常移动测试设备，缩短了生产准备时间，也大大降低了设备的故障发生率，便于维护，同时提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电子产品的测试系统及方法
本专利技术涉及产品测试领域，特别涉及一种电子产品的测试系统及方法。
技术介绍
目前，电子产品在生产过程中，一般都需要对产品性能进行测试，传统的测试方法存在如下缺点：1、测试架专用，不能实现产品间的测试共用，即每款产品需要对测试设备进行单独设计和制作；拉长了产品开发周期，增加了开发成本；2、产品换线生产，要随之对应更换整套的测试设备，不方便作业；3、多采用人工操作，测试效率低，并容易误测；4、不能对测试参数进行即时保存；当产品出现问题时，不能调看测试数据，数据不具备可追溯性。因而现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处，本专利技术的目的在于提供一种电子产品的测试系统及方法，可对多种不同的电子产品进行性能测试。为了达到上述目的，本专利技术采取了以下技术方案：一种电子产品的测试系统，包括：智能上位机，用于发出测试指令给测试控制装置并接收测试控制装置传回的测试数据；测试控制装置，用于接收智能上位机的测试指令，并根据测试指令设置产品测试参数并控制测试仪器进行产品测试，以及接收待测产品的测试数据并对数据进行处理后发送给智能上位机；测试仪器，用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子产品的测试系统，其特征在于，包括：智能上位机，用于发出测试指令给测试控制装置并接收测试控制装置传回的测试数据；测试控制装置，用于接收智能上位机的测试指令，并根据测试指令设置产品测试参数并控制测试仪器进行产品测试，以及接收待测产品的测试数据并对数据进行处理后发送给智能上位机；测试仪器，用于对待测产品进行产品测试；所述智能上位机与所述测试控制装置通讯连接，所述测试控制装置还同时连接测试仪器和待测产品，所述测试仪器还连接待测产品。

【技术特征摘要】
1.一种电子产品的测试系统，其特征在于，包括：智能上位机，用于发出测试指令给测试控制装置并接收测试控制装置传回的测试数据；测试控制装置，用于接收智能上位机的测试指令，并根据测试指令设置产品测试参数并控制测试仪器进行产品测试，以及接收待测产品的测试数据并对数据进行处理后发送给智能上位机；测试仪器，用于对待测产品进行产品测试；所述智能上位机与所述测试控制装置通讯连接，所述测试控制装置还同时连接测试仪器和待测产品，所述测试仪器还连接待测产品。2.根据权利要求1所述的电子产品的测试系统，其特征在于，所述电子产品的测试系统还包括继电器模块，所述测试控制装置控制所述继电器模块的通断用于实现所述测试控制装置和测试仪器与待测产品之间的连接，所述继电器模块同时连接所述测试控制装置、测试仪器和待测产品。3.根据权利要求2所述的电子产品的测试系统，其特征在于，所述测试控制装置包括：控制单元，用于与智能上位机进行通讯并控制各测试单元的工作状态；第一测试单元，用于设置产品的测试参数；第二测试单元，用于根据测试指令控制继电器模块的通断；第三测试单元，用于接收待测产品的测试数据；第四测试单元，用于根据测试指令控制测试仪器的工作状态；所述控制单元同时连接所述智能上位机、第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元和第四测试单元，所述第二测试单元和第三测试单元还同时连接所述继电器模...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘贵荣，徐冬豪，孙太喜，
申请(专利权)人：深圳贝仕达克技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44