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本发明公开了一种电子产品的测试系统及方法，所述测试系统包括智能上位机、测试控制装置和测试仪器，所述智能上位机与所述测试控制装置通讯连接，所述测试控制装置还同时连接测试仪器和待测产品，所述测试仪器还连接待测产品。本发明提供的测试系统和测试方法...
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