一种晶振检测电路及晶振检测方法技术

本发明专利技术属于半导体集成电路设计领域，提供了一种晶振检测电路及晶振检测方法。本发明专利技术提供的晶振检测电路，包括信号发生模块、复位驱动模块、复位模块以及判定模块，由信号发生模块接入被测晶振电路的晶振信号，通过判断复位模块的工作状态判断被测晶振电路是否产生振荡信号，从而及时判断被测晶振电路是否失效，提高了电路的可靠性，保证了电路后续定时功能的正常运行。

Crystal oscillator detection circuit and crystal oscillator detection method

The invention belongs to the field of semiconductor integrated circuit design, and provides a crystal oscillator detection circuit and a crystal oscillator detection method. Crystal detection circuit provided by the invention comprises a signal generation module, reset drive module, reset module and judging module, crystal oscillator module access the measured crystal oscillator circuit by signal, by judging the working state of the reset module tested whether the production of crystal oscillator circuit, the oscillation signal, so as to determine whether the measured crystal oscillator circuit is used. To improve the reliability of the circuit, to ensure the normal operation of the subsequent circuit timing function.

【技术实现步骤摘要】
一种晶振检测电路及晶振检测方法
本专利技术属于半导体集成电路设计领域，尤其涉及一种晶振检测电路及晶振检测方法。
技术介绍
在目前广泛应用的带定时功能的电路中，一般需要兼具定时和不定时功能，在定时功能时，为保证时间的精准，一般会使用外接32768Hz的晶振来提供振荡信号；而在不定时功能下，晶振产生的计时信号不再起作用，在此期间可能会导致晶振停振或损坏，如果不及时更换，就会影响到电路中后续定时功能的使用。这就需要及时检测晶振是否有信号输出。传统的检测晶振是否有信号输出的方法是用示波器的探头接到晶振的输出端上观察是否有波形产生。由于示波器的探头存在十几到二十几皮法的电容，如果直接接到晶振上，会使晶振分布电容增大，改变晶振的反馈系数，可能会导致晶振停振。这就需要在探头上夹一个剪短引线的1兆欧以上的电阻，用电阻的另一端接触待测点，这种方法较为繁琐，而且在电路中无法及时判断晶振是否停振。因此，现有的晶振检测过程繁琐，无法及时判断晶振是否失效，因而可能导致电路中后续定时功能不能正常使用。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种晶振检测电路及晶振检测方法，旨在解决现有的晶振检测过程繁琐，无法及时判断晶振是否失效，因而可能导致电路中后续定时功能不能正常使用的问题。本专利技术提供了一种晶振检测电路，晶振检测电路与被测晶振电路连接，所述晶振检测电路包括：信号发生模块，用于判断所述被测晶振电路输出的晶振信号是否为振荡信号，在所述晶振信号为振荡信号时生成高频复位信号，所述信号发生模块的输入端与所述被测晶振电路的输出端连接；复位驱动模块，用于根据所述高频复位信号进行复位驱动，生成复位信号，所述复位驱动模块的输入端与所述信号发生模块的输出端连接；复位模块，用于根据所述复位信号复位生成复位状态信号，所述复位模块的复位端与所述复位驱动模块的输出端连接；判定模块，用于根据所述复位状态信号判定所述被测晶振电路是否失效，并生成晶振检测提示信号，所述判定模块的输入端与所述复位模块的输出端连接。本专利技术还提供了一种基于上述晶振检测电路的晶振检测方法，所述晶振检测方法包括以下步骤：判断被测晶振电路输出的晶振信号是否为振荡信号；若是，则进行复位驱动，驱动复位模块复位；根据所述复位模块的复位状态判定所述被测晶振电路是否失效。本专利技术提供的晶振检测电路，包括信号发生模块、复位驱动模块、复位模块以及判定模块，由信号发生模块接入晶振信号，并在晶振信号为振荡信号时生成高频复位信号，使复位驱动模块根据高频复位信号生成复位信号，通过复位模块的工作状态判断被测晶振电路是否失效，从而及时判断被测晶振电路是否停振或者损坏，提高了电路的可靠性，保证了电路后续定时功能的正常运行。本专利技术提供的晶振检测方法，简单高效，能够及时判定被测晶振电路的起振情况，有利于提高电路的可靠性，保证了电路后续定时功能的正常运行。附图说明图1是本专利技术实施例提供的晶振检测电路的模块结构图；图2是本专利技术实施例提供的晶振检测电路的另一种模块结构图；图3是本专利技术实施例提供的晶振检测电路的示例电路图；图4是本专利技术实施例提供的晶振检测电路的另一种示例电路图；图5是本专利技术实施例提供的对应图1或图3的晶振检测电路的晶振检测方法的实现流程图；图6是本专利技术实施例提供的对应图2或图4的晶振检测电路的另一种晶振检测方法的实现流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。图1示出了本专利技术实施例提供的晶振检测电路的模块结构，为了便于说明，仅示出了与本专利技术相关的部分，详述如下：晶振检测电路，与被测晶振电路100连接，晶振检测电路包括信号发生模块101、复位驱动模块102、复位模块103以及判定模块104。信号发生模块101，用于判断被测晶振电路100输出的晶振信号是否为振荡信号，在晶振信号为振荡信号时生成高频复位信号，信号发生模块101的输入端与被测晶振电路100的输出端连接。复位驱动模块102，用于根据高频复位信号进行复位驱动，生成复位信号，复位驱动模块102的输入端与信号发生模块101的输出端连接。复位模块103，用于根据复位信号复位生成复位状态信号，复位模块103的复位端与复位驱动模块102的输出端连接。判定模块104，用于根据复位状态信号判定被测晶振电路100是否失效，并生成晶振检测提示信号，判定模块104的输入端与复位模块103的输出端连接。在本专利技术实施例中，被测晶振电路100是外置晶振电路，是晶振检测电路的目标检测对象，输出晶振信号，在正常工作时晶振信号为振荡信号，以此确保电路定时功能时时间的精准性。结合信号发生模块101、复位驱动模块102、复位模块103以及判定模块104四大模块，通过判定复位模块103的复位状态，进而判断被测晶振电路100是否失效。在本专利技术实施例中，信号发生模块101的输入端连接被测晶振电路100的输出端，信号发生模块101的输出端连接复位驱动模块102的输入端，复位驱动模块102的输出端连接复位模块103的复位端，复位模块103的输出端连接判定模块104的输入端。在本专利技术实施例中，信号发生模块101接入被测晶振电路100的晶振信号，判断晶振信号是否为振荡信号，并在晶振信号为振荡信号时生成高频复位信号。其中，晶振信号可以是振荡信号，也可以是非振荡信号。具体地，当晶振信号为振荡信号时，则信号发生模块101生成高频复位信号；当晶振信号非振荡信号时，则信号发生模块101不能生成高频复位信号。在本专利技术实施例中，当复位驱动模块102接入高频复位信号时，根据高频复位信号进行复位驱动，输出复位信号至复位模块103，以此驱动复位模块103复位。在本专利技术实施例中，复位模块103接入复位驱动模块102的复位信号时，根据复位信号复位生成复位状态信号。具体地，当晶振信号为振荡信号时，复位模块103复位，生成的复位状态信号为高电平信号；反之，当晶振信号为非振荡信号时，复位模块103处于工作状态，生成的复位状态信号为低电平信号。在本专利技术实施例中，判定模块104用于根据复位状态信号判定被测晶振电路100是否失效，并生成晶振检测提示信号。其中，晶振检测提示信号是指判定模块104根据复位状态信号判定被测晶振电路100是否失效的判定结果，即晶振检测提示信号提示的信号内容为被测晶振电路100失效或者被测晶振电路100有效。具体地，当判定模块104接入的复位状态信号为高电平信号时，则判断复位模块103处于复位状态，判定被测晶振电路100正常工作，并生成被测晶振电路100有效的晶振检测提示信号；当判定模块104接入的复位状态信号为低电平信号时，则判断复位模块103处于工作状态，判定被测晶振电路100没有输入振荡信号，判定被测晶振电路100失效，并生成被测晶振电路100失效的晶振检测提示信号。本专利技术实施例提供本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶振检测电路，与被测晶振电路连接，其特征在于，所述晶振检测电路包括：信号发生模块，用于判断所述被测晶振电路输出的晶振信号是否为振荡信号，在所述晶振信号为振荡信号时生成高频复位信号，所述信号发生模块的输入端与所述被测晶振电路的输出端连接；复位驱动模块，用于根据所述高频复位信号进行复位驱动，生成复位信号，所述复位驱动模块的输入端与所述信号发生模块的输出端连接；复位模块，用于根据所述复位信号复位生成复位状态信号，所述复位模块的复位端与所述复位驱动模块的输出端连接；判定模块，用于根据所述复位状态信号判定所述被测晶振电路是否失效，并生成晶振检测提示信号，所述判定模块的输入端与所述复位模块的输出端连接。

【技术特征摘要】
1.一种晶振检测电路，与被测晶振电路连接，其特征在于，所述晶振检测电路包括：信号发生模块，用于判断所述被测晶振电路输出的晶振信号是否为振荡信号，在所述晶振信号为振荡信号时生成高频复位信号，所述信号发生模块的输入端与所述被测晶振电路的输出端连接；复位驱动模块，用于根据所述高频复位信号进行复位驱动，生成复位信号，所述复位驱动模块的输入端与所述信号发生模块的输出端连接；复位模块，用于根据所述复位信号复位生成复位状态信号，所述复位模块的复位端与所述复位驱动模块的输出端连接；判定模块，用于根据所述复位状态信号判定所述被测晶振电路是否失效，并生成晶振检测提示信号，所述判定模块的输入端与所述复位模块的输出端连接。2.如权利要求1所述的晶振检测电路，其特征在于，所述晶振检测电路还包括：滤波模块，用于滤除所述复位状态信号中的误触发信号，所述滤波模块的输入端与所述复位模块的输出端连接，所述滤波模块的输出端与所述判定模块的输入端连接。3.如权利要求1所述的晶振检测电路，其特征在于，所述晶振检测电路还包括：指示模块，用于根据所述晶振检测提示信号发出提示，所述指示模块的输入端与所述判定模块的输出端连接。4.如权利要求1所述的晶振检测电路，其特征在于，所述信号发生模块包括：第一反向器X1、第二反向器X2、第三反向器X3、第一或非门N1以及第一触发器D1；所述第一反向器X1的输入端为所述信号发生模块的输入端，所述第一反向器X1的输出端、所述第二反向器X2的输入端共接于所述第一触发器D1的第一输入端，所述第二反向器X2的输出端连接所述第一触发器D1的第二输入端，所述第一触发器D1的控制端和所述第一或非门N1的第一输入端共接，所述第一触发器D1的输出端连接所述第三反向器X3的输入端，所述第三反向器X3的输出端连接所述第一或非门N1的第二输入端，所述第一或非门N1的输出端为所述信号发生模块的输出端。5.如权利要求1所述的晶振检测电路，其特征在于，所述复位驱动模块包括：第二或非门N2和第四反向器X4；所述第二或非门N2的第一输入端...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡荣怀，曹进伟，何娟，乔世成，陈孟邦，黄国华，
申请(专利权)人：宗仁科技平潭有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35