【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示
，特别涉及一种阵列基板线路的短路检测方法及装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，平板显示器件得到了飞速的发展，如液晶显示器件、等离子体显示器件和OLED(OrganicLight-EmittingDiode,有机发光二极管)显示器件。在平板显示器件当中，液晶显示器件由于其重量低、体积小、能耗低等优点，从而得到了广泛的应用。现有技术中，液晶显示器件的阵列基板上设有金属线，该金属线包括数据线和栅极线，在阵列基板的制程中包括对金属线的断路和短路测试。其中，对金属线的短路测试通常采用的方法是，将信号发射传感器设置于一条金属线的一端上，信号接收传感器设置于该金属线的另一端，通过判定信号接收传感器是否接收到信号发射传感器发射的检测信号作为依据判定当前检测的金属线是否存在断路缺陷，若信号接收传感器未收到信号，则表示该金属线与其相邻的金属线之间存在断路。而金属线的短路缺陷的检测是通过自动光学扫描仪对阵列基板的金属线进行光学检测，确定金属线的短路位置。由于自动光学扫描仪为采用光学原理进行扫描，因此其在检测时会误判金属线的短路位置，从而影响了阵列基板的...
【技术保护点】
一种短路检测方法，其特征在于，包括以下步骤：通过曝光转印法对一阵列基板线路进行转印，形成转印后的线路；检测转印后的线路中的断路位置；根据所述断路位置分析阵列基板线路的短路位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡金龙，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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