The invention relates to a method for characterization of ingot long crystal interface, small ingot resistivity detection and record height in square ingot on the resistivity, resistivity data matrix based on height, according to the data matrix parallel to the direction of the ingot Changjing any cross section of the crystal interface shape, or the same two-dimensional characterization of ingot the resistivity or three-dimensional interface; the resistivity and dopant concentration in the silicon ingot are related, so the resistivity distribution showed the dopant concentration in the silicon ingot size, namely, at the same time with a solid-liquid interface to complete their growth of polycrystalline silicon has the same dopant concentration and resistivity, so by resistivity distribution characteristics that can accurately get long crystal interface shape, which reveals the growth behavior of polycrystalline silicon ingot process.
【技术实现步骤摘要】
一种表征铸锭长晶界面的方法
本专利技术涉及晶体硅领域,特别涉及一种表征铸锭长晶界面的方法。
技术介绍
光伏太阳能电池将太阳能转化成电能,清洁无污染且安全可循环,是一种可以解决眼下严重的环境污染和石化能源枯竭的有效途径,同时又是一项利于子孙后代的事业。例如定向凝固铸造多晶硅锭,具有生产成本低,投料量大,铸锭工艺简单以及原生硅料品质要求低等优势,是生产光伏电池材料的主要方式。目前,G6(第六代)多晶硅锭的铸造投料量已超过850Kg,G7(第七代)多晶硅锭的铸造投料量已超1吨。然而,铸锭多晶硅中位错缺陷密度大,金属杂质含量高同时存在大量的随机晶界等缺陷,铸造多晶硅锭中这些缺陷直接影响硅太阳能电池的光电转换效率。控制多晶硅铸锭定向凝固界面形状可有效控制晶体生长方向,以及晶界和晶向的分布,理想的长晶界面可有效减少多晶硅锭中缺陷密度,提高多晶硅锭质量,提高多晶硅太阳能电池的光电转换效率。目前,多晶硅长晶行为的研究和优化主要借助模拟软件仿真多晶硅定向凝固过程的热场分布和长晶界面形状,而不同多晶硅铸锭阶段,真实的长晶界面形状目前很难用较简单的办法检测得到。对于铸造单晶,存在同样的问题。
技术实现思路
基于此,有必要针对真实的长晶界面形状目前很难用较简单的办法检测得到的问题,提供一种表征铸锭长晶界面的方法。一种表征铸锭长晶界面的方法,包括步骤:铸锭的长晶方向开方,得到若干的小方锭;将若干小方锭按照在所述铸锭中的位置排序,并建立平面直角坐标系,定位每个小方锭在坐标系中的坐标位置;检测每个小方锭的特定的电阻率的高度;根据所述特定电阻率的高度及在坐标系中的坐标位置建立特定电阻率在铸锭 ...
【技术保护点】
一种表征铸锭长晶界面的方法,其特征在于,包括步骤:沿铸锭的长晶方向开方,得到若干小方锭;将若干小方锭按照在所述铸锭中的位置排序,并建立平面直角坐标系,定位每个小方锭在坐标系中的坐标位置;检测每个小方锭的特定的电阻率的高度;根据所述特定电阻率的高度及在坐标系中的坐标位置建立特定电阻率在铸锭中的高度位置的数据矩阵;根据所述数据矩阵表征铸锭平行于长晶方向的任一横截面的长晶界面形状,或表征铸锭的同一电阻率的二维或三维界面。
【技术特征摘要】
1.一种表征铸锭长晶界面的方法,其特征在于,包括步骤:沿铸锭的长晶方向开方,得到若干小方锭;将若干小方锭按照在所述铸锭中的位置排序,并建立平面直角坐标系,定位每个小方锭在坐标系中的坐标位置;检测每个小方锭的特定的电阻率的高度;根据所述特定电阻率的高度及在坐标系中的坐标位置建立特定电阻率在铸锭中的高度位置的数据矩阵;根据所述数据矩阵表征铸锭平行于长晶方向的任一横截面的长晶界面形状,或表征铸锭的同一电阻率的二维或三维界面。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测每个小方锭的特定电阻率的高度的步骤包括:测量每个小方锭四个侧面的中心线及四条棱边上的特定电阻率的高度,其中相邻两个小方锭的相重叠的中心线及相重叠的棱边上的特定电阻率的高度均取平均值。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述特定电阻率的高度及在坐标系中的坐标位置建立特定电阻率在铸锭中的高度位置的数据矩阵的步骤包括:根据特定电阻率的高度及在坐标系中的坐标位置建立高度...
【专利技术属性】
技术研发人员:王双丽,游达,黄春来,
申请(专利权)人:江苏协鑫硅材料科技发展有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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