异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法。使检测附着于玻璃板的微小异物的精度提高。异物检测装置具备：照明部，其用于向使用浮法形成的玻璃板的与熔融锡接触过的面照射紫外光，该紫外光具有紫外区域的波长；摄像部，其用于拍摄玻璃板的被照射紫外光的区域；以及判定部，其根据在由摄像部拍摄到的图像中有无成为暗点的像素或有无成为暗点的区域来判定玻璃板的表面有无异物。

【技术实现步骤摘要】
异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法
本专利技术涉及一种异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法。
技术介绍
在利用浮法进行的玻璃板的成形中，存在如下的情况：在微小的熔融锡附着于与熔融锡接触过的玻璃板的下表面的状态下将玻璃板从熔融锡上拉离。附着于玻璃板的下表面的熔融锡在玻璃板被从熔融锡上拉离之后成为氧化锡(浮渣)，从而成为异物。在玻璃板的制造工序中，利用了检测浮渣等异物的技术(专利文献1)。专利文献1：日本专利第5471157号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题但是，专利文献1所记载的技术以检测大小为50μm左右的浮渣为目的，在检测大小为10μm左右的浮渣时，受到芒硝膜等的外部干扰的影响，而存在检测的精度下降或无法检测的问题。鉴于所述情形，本专利技术提供一种能够提高检测附着于玻璃板的微小异物的精度的异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法。用于解决问题的方案本专利技术的一个方式是一种异物检测装置，具备：照明部，其用于向使用浮法形成的玻璃板的与熔融锡接触过的面照射紫外光，该紫外光具有紫外区域的波长；摄像部，其用于拍摄所述玻璃板的被照射所述紫外光的区域；以及判定部，其根据在由所述摄像部拍摄的图像中有无成为暗点的像素或有无成为暗点的区域来判定所述玻璃板的表面有无异物。另外，本专利技术的一个方式是在所述异物检测装置中，所述照明部向所述玻璃板照射包含150nm至300nm范围内的波长的紫外光。另外，本专利技术的一个方式是在所述异物检测装置中，所述照明部具备发光二极管照明、汞灯、钇铝石榴石激光器或准分子激光器作为光源。另外，本专利技术的一个方式是一种异物检测方法，包括以下工序：照明工序，向使用浮法形成的玻璃板的与熔融锡接触过的面照射紫外光，该紫外光具有紫外区域的波长；摄像工序，拍摄所述玻璃板的通过所述照明工序被照射紫外光的区域；以及判定工序，根据在通过所述摄像工序拍摄的图像中有无成为暗点的像素或有无成为暗点的区域，来判定所述玻璃板的表面有无异物。另外，本专利技术的一个方式是在所述异物检测方法中，在所述照明工序中，向所述玻璃板照射包含150nm至300nm范围内的波长的紫外光。另外，本专利技术的一个方式是一种玻璃板的制造方法，包括以下工序：熔融工序，将玻璃的原材料熔融而得到熔融玻璃；成形工序，将所述熔融玻璃成形为连续的板状的玻璃带；缓冷工序，使所述玻璃带一边移动一边逐渐冷却；检查工序，检测所述玻璃带表面的异物；以及切断工序，对所述玻璃带进行切断，在该玻璃板的制造方法中，利用所述异物检测方法，将所述玻璃带作为对象进行所述检查工序。专利技术的效果根据本专利技术，能够提高检测附着于玻璃板的微小异物的精度。附图说明图1是示出第一实施方式中的异物检测装置的结构的示意图。图2是从玻璃板的板宽方向观察第一实施方式中的异物检测装置的图。图3是第二实施方式中的应用了异物检测装置的玻璃板的生产线的概要说明图。图4是示出第二实施方式中的玻璃板的制造方法的工序的图。附图标记说明10：异物检测装置；11：照明装置；12：摄像装置；13：判定装置。具体实施方式以下，参照附图说明本专利技术的实施方式中的异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法。实施方式的异物检测装置检测附着于利用浮法形成的玻璃板的下表面或上表面的大于约10μm的异物。玻璃板的下表面是指在铅垂方向上位于下侧的面，玻璃板的上表面是在铅垂方向上位于上侧的面。以下将玻璃板的上表面和下表面统称为表面。[第一实施方式]图1是示出第一实施方式中的异物检测装置10的结构的示意图。异物检测装置10检测附着于在辊上输送的玻璃板G的下表面的异物。作为检测对象的异物例如是附着于与熔融锡接触过的玻璃板G的下表面的浮渣。异物检测装置10具备照明装置11、摄像装置12以及判定装置13。在图1中，将输送玻璃板G的方向设为y轴方向，将沿着玻璃板G的表面且与y轴方向垂直的方向设为x轴方向(板宽方向)，将与玻璃板G的表面垂直的方向(板厚方向)设为z轴方向。照明装置11从玻璃板的下表面方向朝向玻璃板的检查区域照射具有紫外区域的波长的光(以下称为“紫外光”。)。照明装置11向玻璃板G的下表面在x轴方向上无遗漏地照射紫外光。从照明装置11照射的紫外光的波长例如是150nm至300nm范围内的波长。紫外光的波长是向利用浮法形成的玻璃板G的下表面、即与熔融锡接触过的面(以下称为“锡面”。)照射了紫外光时锡面所发出的白色荧光的波长。作为照明装置11，例如使用LED(LightEmittingDiode：发光二极管)照明、汞灯以及产生YAG激光或准分子激光的光源中的任一个。在利用YAG激光或准分子激光的情况下，使用多面镜，来在检查区域的x轴方向上无遗漏地照射紫外光。摄像装置12将玻璃板G的被照明装置11照射紫外光的检查区域设为摄像对象。摄像对象包含玻璃板G的宽度方向的两端。作为摄像装置12的摄像传感器，使用能够检测有无向锡面照射了紫外光时的白色荧光的单色或彩色的传感器。另外，摄像装置12的摄像传感器也可以是区域传感器和行传感器中的任一个。优选的是，摄像装置12不配置在照明装置11照射紫外光的光轴上，以避免直接接收紫外光。在摄像装置12配置在紫外光的光轴上的情况下，优选的是在摄像装置12中设置用于使紫外光衰减的滤波器。判定装置13根据由摄像装置12拍摄到的图像来判定是否有异物附着于玻璃板G的表面。相对于当向玻璃板G的锡面照射紫外光时锡面发出白色荧光，在有异物附着于玻璃板G的锡面的情况下，紫外光被异物遮挡而不会到达锡面，因此不发出白色荧光。即，在有异物附着于锡面的情况下，不产生紫外光所引起的白色荧光，附着有异物的地方与没有附着异物的地方相比变暗。判定装置13通过探测在由摄像装置12拍摄到的图像中没有产生白色荧光的暗点，来判定玻璃板G的锡面有无异物。关于判定装置13中的暗点探测，通过判定图像中的像素的亮度值是否为阈值以下来进行。阈值既可以根据对事先附着有异物的玻璃板进行摄像得到的图像的亮度来决定，也可以根据图像中的所有像素的亮度的平均值、最频值或中央值这样的统计值来决定。图2是从玻璃板G的板宽方向观察第一实施方式中的异物检测装置10的图。在没有异物附着于玻璃板G的表面的情况下，从照明装置11照射的紫外光到达玻璃板G的锡面，在锡面产生白色荧光。与此相对地，在有异物D附着于玻璃板G的锡面的情况下，从照明装置11照射的紫外光不会到达玻璃板G的锡面，从而在锡面不产生白色荧光。即，附着有异物D的地方与其它地方相比变暗，在由摄像装置12拍摄的图像中成为暗点。判定装置13根据图像中有无暗点来判定有无异物。玻璃板G的锡面中的作为缓冲膜的芒硝膜对紫外光到达锡面而产生白色荧光的情形不产生影响，因此无论有无芒硝膜，异物检测装置10都能够检测异物。例示了由芒硝构成用于保护玻璃板G的缓冲膜的情形，但是缓冲膜也可以由从碱金属或碱土金属的硫酸盐、碱金属或碱土金属的氯化物、氧化物陶瓷、氮化物陶瓷以及金属硫化物中选择出的至少一种物质构成。第一实施方式中的异物检测装置10具备：照明装置11，其用于向利用浮法形成的玻璃板G的与熔融锡接触过的锡面照射紫外光，该紫外光具有紫外区域的波长；摄像装置12，其用于拍摄玻璃板G的被照明装置11照射紫外光的区域；以及判定装置13，其根据在由本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种异物检测装置，具备：照明部，其用于向使用浮法形成的玻璃板的与熔融锡接触过的面照射紫外光，该紫外光具有紫外区域的波长；摄像部，其用于拍摄所述玻璃板的被照射所述紫外光的区域；以及判定部，其根据在由所述摄像部拍摄的图像中有无成为暗点的像素或有无成为暗点的区域来判定所述玻璃板的表面有无异物。

【技术特征摘要】
2016.03.23 JP 2016-0587991.一种异物检测装置，具备：照明部，其用于向使用浮法形成的玻璃板的与熔融锡接触过的面照射紫外光，该紫外光具有紫外区域的波长；摄像部，其用于拍摄所述玻璃板的被照射所述紫外光的区域；以及判定部，其根据在由所述摄像部拍摄的图像中有无成为暗点的像素或有无成为暗点的区域来判定所述玻璃板的表面有无异物。2.根据权利要求1所述的异物检测装置，其特征在于，所述照明部向所述玻璃板照射包含150nm至300nm范围内的波长的紫外光。3.根据权利要求1或2所述的异物检测装置，其特征在于，所述照明部具备发光二极管照明、汞灯、钇铝石榴石激光器或准分子激光器作为光源。4.一种异物检测方法，包括以下工序：照明工序，向使用浮法形成的玻璃板的与熔...

【专利技术属性】
技术研发人员：北山大介，塚本徹，
申请(专利权)人：旭硝子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP