测试装置制造方法及图纸
testing device
A test device for testing electrical properties of an article is disclosed. The test device includes: object supporting unit is set for supporting objects; cover unit is coupled to the cover body contains the object support unit, and a cover body support to toward and away from the moving object push device; and the pressure regulator, comprising: at the same time in contact with the drive rotatably disposed multilevel adjustment the cam in the cover body and has multiple contact pressing part, the contact radius depends on multiple contact pressing part in rotation angle change, the drive can be moved in position and is positioned with the cover body is separated and the operation of various pressing distance; multistage adjusting cam operating unit.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试装置
符合例示性实施例的设备以及方法涉及一种用于测试诸如半导体的电子组件的测试装置，且更特定言之，涉及一种具有用于按压电子组件以检验电性质的推动器(pusher)的预烧插口(burn-insocket)。
技术介绍
在制造诸如积体电路(integratedcircuit；IC)的电子组件的程序中，需要测试装置来检验最终制造的电子组件。此类测试装置使用预烧插口以用于在高温条件下测试电子组件。预烧插口包含具有用以容纳待测试电子组件的容纳部分的插入件，以及与插入件进行铰链连接以敞开/闭合容纳部分的罩盖。罩盖包含用于在测试容纳于插入件中的电子组件时选择性地按压测试组件的推动器，以及用于在高温条件下测试电子组件时提供冷却效应的热耗散构件(heat-dissipationmember)。因为预烧插口包含用于按压电子组件的推动器以及用于耗散热的热耗散构件，所以存在按压机构非常复杂且制造成本高的问题。
技术实现思路
技术问题一或多个例示性实施例可提供一种具有简单结构且以低成本而制造的测试装置。另一例示性实施例可提供一种能够容易地测试各种电子产品而不改变测试装置的测试装置。又一例示...
【技术保护点】
一种测试装置，用于测试物件的电性质，所述测试装置包括：物件支撑单元，被设置以用于支撑物件；罩盖单元，包括耦接至所述物件支撑单元的罩盖主体，以及由所述罩盖主体支撑以便朝向与远离所述物件移动的推动器；以及压力调整器，包括：在接触所述推动器的同时可旋转地设置于所述罩盖主体中且具有多级接触按压部分的多级调整凸轮，所述多级接触按压部分的接触半径取决于旋转角而变化，使得所述推动器可处于后移位置中且被定位成与所述罩盖主体相隔多种按压距离；以及操作所述多级调整凸轮的操作单元。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.02.05 KR 10-2015-00177541.一种测试装置，用于测试物件的电性质，所述测试装置包括：物件支撑单元，被设置以用于支撑物件；罩盖单元，包括耦接至所述物件支撑单元的罩盖主体，以及由所述罩盖主体支撑以便朝向与远离所述物件移动的推动器；以及压力调整器，包括：在接触所述推动器的同时可旋转地设置于所述罩盖主体中且具有多级接触按压部分的多级调整凸轮，所述多级接触按压部分的接触半径取决于旋转角而变化，使得所述推动器可处于后移...
【专利技术属性】
技术研发人员：朴商德，
申请(专利权)人：李诺工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR
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