一种通止规制造技术

本实用新型专利技术公开了一种通止规，所述通止规包括：通止规本体，其具有第一上台阶面和与所述第一上台阶面相对的第二下台阶面；所述通止规本体设有第一测量部和第二测量部，其中：所述第一测量部和第二测量部均为台阶结构，并分别形成在所述第一上台阶面和第二下台阶面。本实用新型专利技术能够根据零件的尺寸和检测要求，将所述测量部制作成不同的尺寸，通过单次操作就能同时确认零件的型面是否上偏差超差或者下偏差超差，减少了单次检测操作时间，有利于提高零件的型面的尺寸质量确认效率。

【技术实现步骤摘要】
一种通止规
本技术涉及一种测量工具，特别是涉及一种通止规。
技术介绍
在汽车制造中，零件是比较重要的一种组成零部件，汽车的多个部位，都是由不用的零件构成。而那些对整车的结构、装配、生产工艺、使用性能和安全等方面有重要影响的零件，则被列为关键零件，关键零件的质量要求较高。汽车零件中，常见的尺寸缺陷主要有：孔偏、少边、少孔、孔径不符、多料、型面尺寸不符等。其中，型面尺寸的检测相对更加重要，型面检测点较多、检测所需时间较长，因此直接影响零件的检测效率。传统的型面尺寸检测方式需要使用测量工具，并且还需要读取测量值之后才能确认零件的型面是否达到尺寸质量要求。当检测点较多的时候，读取测量值之后再判断是否超差将会直接造成检测时间偏长，没办法快速地确认零件的型面尺寸状态。因此，希望有一种技术方案来克服或至少减轻现有技术的上述缺陷中的至少一个。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种通止规来克服或至少减轻现有技术的上述缺陷中的至少一个。为实现上述目的，本技术提供一种通止规，所述通止规包括：通止规本体，其具有第一上台阶面和与所述第一上台阶面相对的第二下台阶面；所述通止规本体设有第一测量部和第二测量部，其中：所述第一测量部和第二测量部均为台阶结构，并分别形成在所述第一上台阶面和第二下台阶面。进一步地，所述第一测量部在测量状态下置于零件型面与检具基准面之间，以检测所述零件型面与检具基准面形成的间隙的大小；所述第二测量部在测量状态下贴设在所述零件型面与检具基准面上，以检测零件型面与检具基准面形成的高度差。进一步地，所述第一测量部包括第一下台阶面，所述通止规本体的第一上台阶面相对于所述通止规本体的第二下台阶面的高度与零件型面允许的上偏差相等；所述第一下台阶面相对于所述通止规本体的第二下台阶面的高度与零件型面允许的下偏差相等。进一步地，所述第一上台阶面和第一下台阶面为平面。进一步地，所述第二测量部包括第二上台阶面和中间台阶面，所述第二上台阶面相对于所述通止规本体的第二下台阶面的高度与零件型面允许的上偏差相等；所述中间台阶面相对于所述通止规本体的第二下台阶面的高度与零件型面允许的下偏差相等。进一步地，所述第二上台阶面、中间台阶面以及所述第二下台阶面为平面。进一步地，所述通止规本体呈长条状，所述第一测量部和第二测量部分别布置在所述通止规本体的两端。进一步地，所述通止规还包括把手，其连接所述通止规本体的第二测量部。进一步地，所述把手呈长条状，横截面呈方形，与所述通止规本体之间的夹角为钝角。进一步地，所述把手与所述通止规本体一体成型。本技术能够根据零件的尺寸和检测要求，将所述测量部制作成不同的尺寸，通过单次操作就能同时确认零件的型面是否上偏差超差或者下偏差超差，减少了单次检测操作时间，有利于提高零件的型面的尺寸质量确认效率。附图说明图1是根据本技术第一实施例的通止规的结构示意图。图2是图1中第一测量部的局部放大示意图。图3是图1中第二测量部的局部放大示意图。图4是图1中第一测量部的使用状态示意图，图中示意出了第一测量部的的横截面。图5是图1中第二测量部的使用状态示意图，图中示意出了第二测量部的的横截面。附图标记：具体实施方式在附图中，使用相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面结合附图对本技术的实施例进行详细说明。在本技术的描述中，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术保护范围的限制。如图1和图2所示，本实施例所提供的通止规包括通止规本体1，通止规本体1具有第一上台阶面1a和与第一上台阶面1a相对的第二下台阶面1c。并且，通止规本体1设有第一测量部11和第二测量部12，其中：第一测量部11和第二测量部12均为台阶结构。第一测量部11形成在第一上台阶面1a，第二测量部12形成在第二下台阶面1c。本实施例可以根据零件的尺寸和检测要求，将第一测量部11和第二测量部12制作成不同的尺寸，通过单次操作就能同时确认零件的型面是否上偏差超差或者下偏差超差，减少了单次检测操作时间，快速检查零件的型面尺寸状态。此外，本实施例还易于从整体把握零件型面状态，这样有利于提高零件的型面的尺寸质量确认效率。在一个实施例中，如图1、图2和图3所示，第一测量部11用于检测零件型面与检具基准面形成的间隙的大小。第二测量部12用于检测零件型面与检具基准面形成的高度差。通过不同的测量部，可以对零件不同位置的型面尺寸质量进行检测。在一个实施例中，第一测量部11的台阶式的横截面包括第一上台阶面1a和第一下台阶面1b，即两级台阶，第一上台阶面1a和第一下台阶面1b之间的高度差由零件的公差确定。例如：待测零件与检具本体4的理论间隙为3毫米，公差为0.5毫米，因此，零件允许出现最小到2.5毫米、最大到3.5毫米的间隙波动。那么，第一下台阶面1b的高度是2.5毫米，第一上台阶面1a的高度是3.5毫米。以该例子对第一测量部11的使用方法进行描述，其具体如下：如图4所示，首先，将检具本体4置于第一零件3的下表面的正下方，检具本体4的基准面(上表面)与第一零件3的下表面之间具有间隙5；然后，将第一测量部11沿着虚线箭头方向X塞进图示的间隙5内(一般检测间隙为3毫米)，同时确保通止规本体1的下表面紧贴检具本体4的基准面。第一零件3的下表面的型面尺寸质量的判定方法如下：当出现图4所示的情况，即高度为(3-0.5)毫米(详情可参考图4)的第一下台阶面1b能塞进间隙，而高度为(3+0.5)毫米的第一上台阶面1a无法塞进检测间隙内时，表明第一零件3的检测间隙在(3±0.5)之内，第一零件3此处的型面在公差范围内。当高度为(3+0.5)毫米的第一下台阶面1b能塞进检测间隙时，表明第一零件3此处的型面间隙大于(3+0.5)毫米，第一零件3超出上偏差。当高度为(3-0.5)毫米的第一上台阶面1a不能塞进检测间隙时，表明第一零件3此处的型面间隙小于(3-0.5)毫米，第一零件3超出下偏差。依照此方法可快速判断零件的型面尺寸是否超差，而不需要再去测量读数，同时可用通止规沿着测量边快速滑动，找出超差部位。进一步地，第一上台阶面1a和第一下台阶面1b为平面。平面有利于准确确定超差部位。在一个实施例中，第二测量部12的台阶式的横截面包括第二下台阶面1c、第二上台阶面1e及位于第二下台阶面1c和第二上台阶面1e高度之间的中间台阶面1d，即三级台阶，并且，相邻的两台阶面之间的高度差由零件的公差确定。如图5所示，例如：待测零件与检具(检具检测块7)的理论高度差为0毫米，也就是说，第二零件6的上表面平整，与检具检测块7的基准面位于同一水平面内。第二下台阶面1c(图5中通止规本体1的底面13)贴设在检具检测块7的上表面，第二下台阶面1c与中间台阶面1d之间的高度差是0.3毫米，第二上台阶面1e与第二下台阶面1c之间的高度差是0.5毫米。以该例子对第二测量部12的使用方法进行描述，其具体如下：首先本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通止规，其特征在于，包括：通止规本体(1)，其具有第一上台阶面(1a)和与所述第一上台阶面(1a)相对的第二下台阶面(1c)；所述通止规本体(1)设有第一测量部(11)和第二测量部(12)，其中：所述第一测量部(11)和第二测量部(12)均为台阶结构，并分别形成在所述第一上台阶面(1a)和第二下台阶面(1c)。

【技术特征摘要】
1.一种通止规，其特征在于，包括：通止规本体(1)，其具有第一上台阶面(1a)和与所述第一上台阶面(1a)相对的第二下台阶面(1c)；所述通止规本体(1)设有第一测量部(11)和第二测量部(12)，其中：所述第一测量部(11)和第二测量部(12)均为台阶结构，并分别形成在所述第一上台阶面(1a)和第二下台阶面(1c)。2.如权利要求1所述的通止规，其特征在于，所述第一测量部(11)在测量状态下置于零件型面与检具基准面之间，以检测所述零件型面与检具基准面形成的间隙的大小；所述第二测量部(12)在测量状态下贴设在所述零件型面与检具基准面上，以检测零件型面与检具基准面形成的高度差。3.如权利要求1所述的通止规，其特征在于，所述第一测量部(11)包括第一下台阶面(1b)，所述通止规本体(1)的第一上台阶面(1a)相对于所述通止规本体(1)的第二下台阶面(1c)的高度与零件型面允许的上偏差相等；所述第一下台阶面(1b)相对于所述通止规本体(1)的第二下台阶面(1c)的高度与零件型面允许的下偏差相等。4.如权利要求3所述的通止规，其特征在于，所述第一上台阶...

【专利技术属性】
技术研发人员：何丰恺，
申请(专利权)人：宝沃汽车中国有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11