激光雷达光学系统及激光雷达技术方案

本发明专利技术公开了一种激光雷达光学系统及激光雷达，所述激光雷达光学系统包括出射光源、第一准直镜、第二准直镜、平面镜以及反射镜，平面镜上设有反射区域及透射区域；出射光源的出射光经过第一准直镜照射至反射区域，反射区域用于将出射光反射至反射镜，反射镜用于将反射光反射至第二准直镜，第一准直镜和第二准直镜用于对出射光进行准直，并将准直后的出射光照射至被探测物体；第二准直镜还用于接收被探测物体的反射光，并将反射光通过反射镜反射至透射区域。本发明专利技术有效降低了出射光和反射光经过平面镜时的光强衰减，提高了探测到的反射光的光强，进而提高了激光雷达光学系统的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及激光雷达探测
，特别涉及一种激光雷达光学系统及激光雷达。
技术介绍
在现有技术的激光雷达光学系统，通常采用一块半反半透镜片来对出射光进行反射出来，并对反射光进行透射处理，但是由于出射光和反射光都要经过半反半透镜片而造成光强衰减，导致实际探测的光强经过半反半透镜片后衰减为初始光强的25％左右，从而造成了激光雷达光学系统的测量灵敏度的降低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中激光雷达光学系统中出射光和反射光都要经过半反半透镜片而造成光强衰减，导致降低了测量灵敏度的缺陷，提供一种激光雷达光学系统及激光雷达。本专利技术提供了一种激光雷达光学系统，包括出射光源，其特点在于，还包括第一准直镜、第二准直镜、平面镜以及反射镜，所述平面镜上设有反射区域及透射区域；所述出射光源的出射光经过所述第一准直镜照射至所述反射区域，所述反射区域用于将所述出射光反射至所述反射镜，所述反射镜用于将所述反射光反射至所述第二准直镜，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光雷达光学系统，包括出射光源，其特征在于，还包括第一准直镜、第二准直镜、平面镜以及反射镜，所述平面镜上设有反射区域及透射区域；所述出射光源的出射光经过所述第一准直镜照射至所述反射区域，所述反射区域用于将所述出射光反射至所述反射镜，所述反射镜用于将所述反射光反射至所述第二准直镜，所述第一准直镜和所述第二准直镜用于对所述出射光进行准直，并将准直后的所述出射光照射至被探测物体；所述第二准直镜还用于接收所述被探测物体的反射光，并将所述反射光通过所述反射镜反射至所述透射区域。

【技术特征摘要】
1.一种激光雷达光学系统，包括出射光源，其特征在于，还包括第一
准直镜、第二准直镜、平面镜以及反射镜，所述平面镜上设有反射区域及透
射区域；
所述出射光源的出射光经过所述第一准直镜照射至所述反射区域，所述
反射区域用于将所述出射光反射至所述反射镜，所述反射镜用于将所述反射
光反射至所述第二准直镜，所述第一准直镜和所述第二准直镜用于对所述出
射光进行准直，并将准直后的所述出射光照射至被探测物体；
所述第二准直镜还用于接收所述被探测物体的反射光，并将所述反射光
通过所述反射镜反射至所述透射区域。
2.如权利要求1所述的激光雷达光学系统，其特征在于，所述激光雷
达光学系统还包括光探测器，所述光探测器用于接收经过所述透射区域的所
述反射光。
3.如权利要求2所述的激光雷达光学系统，其特征在于，所述激光雷
达光学系统还包括滤波片，所述滤波片用于对经过所述透射区域的所述反射
光进行滤波处理，所述光探测器用于接收滤波处理后的所述反射光。
4.如权利要求2所述的激光雷达光学系统，其特征在于，所述光探测...

【专利技术属性】
技术研发人员：景磊，毛湛萌，
申请(专利权)人：华勤通讯技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31