一种激光测距机光轴调试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种激光测距机光轴调试系统，包括激光器、照明光源和带CCD镜头的CCD相机，所述的激光器上连接有发射光学系统，所述的CCD相机和激光器之间连接有计算机，所述的发射光学系统上连接有接收光学系统，所述的接收光学系统后方连接有探测器组件，所述的接收光学系统前方依次设有衰减片、直角棱镜和角锥棱镜；还公开了其调试方法；本发明专利技术可以实时监视探测器组件靶面的清晰度，通过调节装置将探测器组件前后位置调试到最佳，将激光器光斑直接照射到探测器组件靶面进行光轴调试，直观、效率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于激光
，涉及一种以近红外相机和角锥棱镜相结合调试光轴的系统，以及调试方法，适用于各种激光光轴调试系统。
技术介绍
激光测距机的激光器发射激光光束，通过光学系统扩束后出射到被测目标，激光束照射到被测目标后产生漫反射，反射光束经过接收光学系统聚焦到光电探测器上，经过电路处理后，计算出目标距离信息。激光测距机的“光轴”不同于一般光学仪器的光轴，它实际上是指二轴：激光发射光学系统光轴和激光接收光学系统光轴。激光测距机设计时，在结构上通常保证了发射接收光轴的近似同轴性，接下来就是精确调校激光发射接收的光轴。激光测距机的光轴误差直接影响测距机测距性能，误差较大时，测距机不能测距。因此，对激光测距机光轴的调校非常重要。激光测距机光轴调试通常采用大口径平行光管或球面反射镜，进行所谓“激光打点”法进行光轴调校。这种方法的主要缺点是：第一、采用人工观察测量，受主观因素限制，误差大。第二、需要人工调整测距机的瞄准机构，反复多次，工作效率低。中科院上海技术物理研究所在“激光测距机系统光学校准装置及方法”专利（专利号CN1595196A）中，提出一种在接收光学系统之前设接收视场模拟激光器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于：包括激光器（3）、照明光源（11）和带CCD镜头（14）的CCD相机（13），所述的激光器（3）上连接有发射光学系统（2），所述的CCD相机（13）和激光器（3）之间连接有计算机（12），所述的发射光学系统（2）上连接有接收光学系统（8），所述的接收光学系统（8）后方连接有探测器组件（4），所述的接收光学系统（8）前方依次设有衰减片（9）、直角棱镜（10）和角锥棱镜（1）。

【技术特征摘要】
1.一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于：包括激光器（3）、照明光源（11）和带CCD镜头（14）的CCD相机（13），所述的激光器（3）上连接有发射光学系统（2），所述的CCD相机（13）和激光器（3）之间连接有计算机（12），所述的发射光学系统（2）上连接有接收光学系统（8），所述的接收光学系统（8）后方连接有探测器组件（4），所述的接收光学系统（8）前方依次设有衰减片（9）、直角棱镜（10）和角锥棱镜（1）。2.根据权利要求1所述的一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于，所述的探测器组件（4）通过调节支架（5）设置在直线导轨（6）上，所述的直线导轨（6）设置在升降装置（7）上。3.根据权利要求1所述的一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于，所述的角锥棱镜（1）通过直线导轨（16）设置在升降装置（15）上。4.根据权利要求1或2或3所述的一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于，所述的探测器组件（4）包括滤光片、小孔光阑、光电二极管和结构件。5.根据权利要求1所述的一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于，所述的激光器为半导体激光器、固体激光器或气体激光器。6.根据权利要求1所述的一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于，所述的衰减片（9）为对应特定波长的衰减片，规格为10dB～30dB。7.根据权利要求1所述的一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于，所述的接收光学系统（8）为双胶合物镜和短焦透镜相结合的光学系统。8.根据权利要求1所述的一种激光测距机光轴调试系统，其特征在于，所述的CCD相机（13）是光谱响应波段为400nm～1100...

【专利技术属性】
技术研发人员：席文强，王寿增，郭良贤，高彦伟，余龙，林承飞，孙峰，
申请(专利权)人：湖北久之洋红外系统股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42