本发明专利技术涉及用于测量电动机器的定子芯的方法和测量装置。本发明专利技术涉及用于在维护中测量电动机器，具体而言大型发电机的层叠定子芯的方法。公开了用于测量电动机器的定子芯的方法，其具有以下步骤：围绕定子芯缠绕至少一个激励线圈、将不连续的电压施加于激励线圈以磁性地激励定子芯、和测量被磁性地激励的定子芯的参量。还公开了对应的测量装置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于测量电动机器(具体而言维护中的大型发电机)的层叠定子芯的方法。本专利技术具体而言涉及改善装置和方法，在该装置和方法中，层叠定子芯经历从外部施加的场电流。通常，在测量期间移除电动机器的转子。
技术介绍
对大型发电机和马达常规地检查叠片短接和静止时的稳定性。多种方法可用于该目的。确定叠片短接的方法中的一个包括：借助于处于电源频率的辅助线圈来磁化整个层叠主体，和测量定子开孔内表面上的杂散场。磁化被执行到相对低的磁感应值，通常到正常操作感应的大约10%。该测量方法也称为“低感应叠片短接测量”或“ELCID”(电磁芯缺陷检测器)。作为示例，US 4996486描述了此类型的一个方法。现有技术因此用于借助于辅助线圈和在电源频率下施加于其的正弦辅助电压将该层叠定子芯磁化至操作感应的大约十分之一。该辅助电压通常直接来源于电源电压。然后使电气记录线圈远离定子开孔的表面移动，其中该记录线圈位于层叠芯的表面附近。因层叠芯中的层间短路而流动的电流现在在记录线圈中感应具有特征相位角和振幅大小的电压。该特征相位角和振幅使得可能区分存在叠片短接电流的点和不存在叠片短接电流的点。因此，可能借助于该杂散场记录线圈来对叠片短接进行定位，且估计短路电流的大小。本专利技术提供确定叠片短接和定子芯的稳定性的备选解决方法。
技术实现思路
本专利技术涉及根据独立权利要求的测量装置和测量方法。在从属权利要求中描述本专利技术的更多优选实施例。技术方案1：一种用于测量电动机器的定子芯4的方法，具有以下步骤：围绕所述定子芯4缠绕至少一个激励线圈40、将不连续的电压施加于所述激励线圈40以磁性地激励所述定子芯4、和测量被磁性地激励的定子芯4的参量。技术方案2：根据权利要求1所述的方法，其特征在于，激励电压的波形为矩形、脉冲串、三角形、或正弦曲线的。技术方案3：根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述激励电压具有脉冲，所述脉冲具有2ms和5ms之间的持续时间，所述脉冲具有每秒50个脉冲和100个脉冲之间的速率。技术方案4：根据权利要求3所述的方法，其特征在于，产生该不连续的激励电压的激励装置12提供具有50Hz或60Hz的频率的电压。技术方案5：根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述激励装置12提供所述不连续的激励电压，以生成所述定子芯4的近似1.5特斯拉的磁通量密度B。技术方案6：根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述激励装置12包括至少一个电容器30，以通过放电来提供所述不连续的激励电压。技术方案7：根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述至少一个电容器30由联接在一起的两个功率供应源25供给。技术方案8：根据权利要求7所述的方法，其特征在于，用于测量所述被磁性地激励的定子芯4的所述参量的检测装置14为声学装置，所述声学装置测量由磁性激励引起的所述定子芯4的振动，且基于测量结果来确定所述定子芯4的稳定性。技术方案9：根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述声学装置包括至少一个传声器。技术方案10：根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述检测装置14为光学装置，所述光学装置测量由磁性激励引起的所述定子芯4处的温度差，且基于测量结果来确定层间叠片短接。技术方案11：根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述激励电压具有脉冲，所述脉冲具有5ms和20ms之间的持续时间。技术方案12：根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述激励电压具有脉冲，所述脉冲具有2ms和10ms之间的持续时间。技术方案13：一种用于测量电动机器的层叠定子芯4的测量装置1，包括激励装置12和计算单元70，所述激励装置12用于磁性地激励所述定子芯4，所述定子芯4包括围绕所述定子芯4缠绕的至少一个激励线圈40，所述激励装置12设计成产生能够施加于所述激励线圈40的不连续电压，以磁性地激励所述定子芯4，所述计算单元70基于检测装置14的测量结果确定所述定子芯4的特性。技术方案14：根据权利要求13所述的测量装置1，其特征在于，所述检测装置14包括声学装置，所述声学装置测量由磁性激励引起的所述定子芯4的振动，且所述计算单元70确定所述定子芯4的稳定性。技术方案15：根据权利要求13所述的测量装置1，其特征在于，所述检测装置14包括光学装置，所述光学装置测量由磁性激励引起的所述定子芯4处的温度差，且所述计算单元70确定所述定子芯4的层叠短接。技术方案16：根据权利要求13所述的测量装置1，其特征在于，第一检测装置14包括声学装置，所述声学装置测量由磁性激励引起的所述定子芯4的振动，且所述计算单元70确定所述定子芯4的稳定性，且第二检测装置14'包括光学装置，所述光学装置测量由所述磁性激励引起的所述定子芯4处的温度差，且所述计算单元70确定所述定子芯4的层叠短接。附图说明将参考示范实施例且结合附图在以下文本中更详细地解释本专利技术，在附图中：图1示出激励装置的示例的示意电路图，该激励装置具有一个功率供应源、并联地操作的电阻器和电容器，以经由电路将能量供应至激励线圈，该电路包括具有控制器和滤波器的IGFET；图2示出与图1类似的激励装置的示例的示意电路图，该激励装置具有经由二极管连接的两个功率供应源；图3示出由激励装置作为具有矩形形状的不连续电压对定子芯提供的定子芯的激励的一个示例的信号图，具有标绘在水平轴线处的时间和标绘在竖直轴线处的电压；图4示出由激励装置作为具有脉冲串(burst)形状的不连续电压对定子芯提供的定子芯的激励的另一示例的信号图，具有标绘在水平轴线处的时间和标绘在竖直轴线处的电压；图5示出由激励装置作为具有正弦曲线形状的不连续电压对定子芯提供的定子芯的激励的另一示例的信号图，具有标绘在水平轴线处的时间和标绘在竖直轴线处的电压；图6示出待利用示意激励线圈测量的定子芯的示意俯视图，该激励线圈被围绕该定子芯缠绕，以对定子芯提供激励电压以用于定子芯的磁性激励；图7示出具有激励装置的测量装置和检测装置的示意透视图，该激励装置经由功率变换器连接至激励绕组，该激励绕组被围绕定子芯缠绕，该检测装置设计为照相机，以光学地检测定子芯附近的温度差；图8示出具有激励装置的测量装置和检测装置的示意透视图，该激励装置经由转换器连接至激励绕组，该激励绕组被围绕定子芯缠绕，该检测装置设计为两个传声器，以声学地检测定子芯附近的振动。部件列表1 测量装置2 定子轴线4 定子芯7 凹口10 激励绕组12 激励装置14, 14' 检测装置25, 25' 功率供应源27, 27' 二极管30 电容器40 激励线圈50, 50' 控制器55, 55' IGFET60 滤波器70 计算单元。具体实施方式图1示出作为根据本专利技术示例的测量装置1的部分的激励装置12的示例的示意电路图。在图1的左边，提供功率供应源25，其提供对激励线圈40充电所需的电功率。可通过公共网络来对功率供应源25进行供给。充电电压在50V和1000V之间。在功率供应源25处调节充电电压，以达到标称层间电压的通常50%-100%。功率供应源的最大持恒功率通常为50kw。功率供应源25如图所示经由电阻器27和电容器30而电连接至功率供应源25与激励线圈40之间的电路。通过功率供应源25对具有高容量的电容器30充电，且经由滤波器60使其放电本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于测量电动机器的定子芯(4)的方法，具有以下步骤：围绕所述定子芯(4)缠绕至少一个激励线圈(40)、将不连续的电压施加于所述激励线圈(40)以磁性地激励所述定子芯(4)、和测量被磁性地激励的定子芯(4)的参量。
【技术特征摘要】
2015.06.19 EP 15172883.91.一种用于测量电动机器的定子芯(4)的方法，具有以下步骤：围绕所述定子芯(4)缠绕至少一个激励线圈(40)、将不连续的电压施加于所述激励线圈(40)以磁性地激励所述定子芯(4)、和测量被磁性地激励的定子芯(4)的参量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，激励电压的波形为矩形、脉冲串、三角形、或正弦曲线的。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述激励电压具有脉冲，所述脉冲具有2ms和5ms之间的持续时间，所述脉冲具有每秒50个脉冲和100个脉冲之间的速率。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，产生该不连续的激励电压的激励装置(12)提供具有50Hz或60Hz的频率的电压。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述激励装置(12)提供所述不连续的...
【专利技术属性】
技术研发人员：M霍贝尔斯伯格，
申请(专利权)人：通用电器技术有限公司，
类型：发明
国别省市：瑞士;CH
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