用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪及测量方法技术

技术编号:14279691 阅读:83 留言:0更新日期:2016-12-25 00:27
本发明专利技术公开了一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪及测量方法,用于测量待测薄壁轴承的径向尺寸,包括计算机、位移传感器、测量座和尺寸检测分析仪。待测薄壁轴承放置于所述测量座上,且所述待测薄壁轴承上设有多个测孔;位移传感器的探头插入待测薄壁轴承的测孔中,且通过线缆连接至尺寸检测分析仪的插口中;尺寸检测分析仪与计算机信号连接。所述用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪通过将传感器的探头伸入待测薄壁轴承的测孔中,可实现对轴承的径向尺寸进行精确检测,避免了因测力造成的径向变形;且操作简便、重复精度高、环境适应性强,可满足批量化生产现场的检测需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及轴承领域,尤其涉及一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪及测量方法
技术介绍
随着现代工业的发展,在机器人、减速机、医疗机械、步进电机、雷达等行业领域,对薄壁轴承的需求在日益增加,对轴承的精度也提出了更高的要求。而由于薄壁轴承的壁厚薄,径向刚度低,在进行车削、热处理、磨削、检测等生产工序时,会产生较大的弹性变形。最为突出的是薄壁轴承内外套圈径向尺寸的批量化检测,包括对滚道尺寸、内孔尺寸、外圆尺寸等检测,现有的测量方法是以现有表架检测,即检测两点间的距离,即使非常小的测力(通常测力为2N),也会造成不可忽视的径向变形,严重影响薄壁轴承的尺寸精度;而采用三坐标、三维扫描、万工显等其它测量方式,在检测的准确性、重复性、测量仪的环境适应性等方面均存在不同程度的缺陷。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足,本专利技术提供一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪及测量方法,其检测精度高且操作简便。为此,本专利技术第一方面提供一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪,用于测量待测薄壁轴承的径向尺寸,包括计算机、位移传感器、测量座和尺寸检测分析仪。待测薄壁轴承放置于所述测量座上,且所述待测薄壁轴承上设有多个测孔。位移传感器的探头插入待测薄壁轴承的测孔中,且通过线缆连接至尺寸检测分析仪的插口中。尺寸检测分析仪与计算机信号连接。优选地,同一轴向截面的两个位移传感器为耦合传感器。本专利技术第二方面提供一种多点测量方法,包括如下步骤:先将待测薄壁轴承放于测量座上,将尺寸检测分析仪与计算机连接,再将位移传感器连接至尺寸检测分析仪的插口中,然后将位移传感器的探头伸入待测薄壁轴承的测孔中,用薄壁轴承径向尺寸标准件来较零,较零后,开始检测,位移传感器将探头检测到的数据传至尺寸检测分析仪,通过计算机预设应用程序即可批量检测薄壁轴承的径向尺寸。本专利技术提供的所述用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪及测量方法通过将传感器的探头伸入待测薄壁轴承的测孔中,可实现对轴承的径向尺寸进行精确检测,避免了因测力造成的径向变形;且操作简便、重复精度高、环境适应性强,可满足批量化生产现场的检测需求。附图说明图1为本专利技术提供的一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪的结构示意图;图2为待测薄壁轴承放置于测量座上的结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的实施例进行详述。请参阅图1和图2,本专利技术提供一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪,用于测量待测薄壁轴承4的径向尺寸,包括计算机1、位移传感器2、测量座3和尺寸检测分析仪5。待测薄壁轴承4放置于所述测量座3上,且所述待测薄壁轴承4上设有多个测孔;位移传感器2的探头插入待测薄壁轴承4的测孔中,且通过线缆连接至尺寸检测分析仪5的插口中。尺寸检测分析仪5与计算机1信号连接。同一轴向截面的两个位移传感器为耦合传感器。工作时,先将待测薄壁轴承4放于测量座3上,将尺寸检测分析仪5与计算机1连接,再将位移传感器2连接至尺寸检测分析仪5的插口中,然后将位移传感器2的探头伸入待测薄壁轴承4的测孔中,用薄壁轴承径向尺寸标准件来较零,较零后,开始检测,位移传感器2将探头检测到的数据传至尺寸检测分析仪5,通过计算机1预设应用程序即可批量检测薄壁轴承的径向尺寸。综上,本专利技术提供的所述用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪及测量方法通过将传感器的探头伸入待测薄壁轴承的测孔中,可实现对轴承的径向尺寸进行精确检测,避免了因测力造成的径向变形;且操作简便、重复精度高、环境适应性强,可满足批量化生产现场的检测需求。以上所述,仅为本专利技术较佳的具体实施方式,但本专利技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内,根据本专利技术的技术方案及其专利技术构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪,用于测量待测薄壁轴承的径向尺寸,其特征在于,包括计算机、位移传感器、测量座和尺寸检测分析仪,其中:待测薄壁轴承放置于所述测量座上,且所述待测薄壁轴承上设有多个测孔;位移传感器的探头插入待测薄壁轴承的测孔中,且通过线缆连接至尺寸检测分析仪的插口中;尺寸检测分析仪与计算机信号连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪,用于测量待测薄壁轴承的径向尺寸,其特征在于,包括计算机、位移传感器、测量座和尺寸检测分析仪,其中:待测薄壁轴承放置于所述测量座上,且所述待测薄壁轴承上设有多个测孔;位移传感器的探头插入待测薄壁轴承的测孔中,且通过线缆连接至尺寸检测分析仪的插口中;尺寸检测分析仪与计算机信号连接。2.根据权利要求1所述的一种用于测量薄壁轴承径向尺寸的多点测量仪,其特征在于,同一轴向截面的两个位移传感器为耦...

【专利技术属性】
技术研发人员:王志良姚军民殷莉萍王中原杨益农祁强
申请(专利权)人:常熟长城轴承有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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