【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体制造领域,特别是指一种深沟槽填充方法。
技术介绍
现有的深沟槽超级结产品,应用深沟槽刻蚀加外延填充方法进行超级结产品的PN结构的加工。而深沟槽产品的外延填充速率慢,需要长时间的外延生长才能将沟槽完全填满,占用外延设备的产能,不利于大规模量产。深沟槽加工的侧壁会有一定角度,如图1所示,沟槽的剖面呈倒梯形,沟槽口沿的宽度大于沟槽底部的宽度。填充完成如图2所示,外延填充后导致顶部和底部的PN体积比例不一致,即沿着深沟槽不同深度的PN耗尽区的状况发生变化,如果沟槽的中间部分部分是完全耗尽,则沟槽上部在耗尽时会剩余空穴,沟槽下部在耗尽时会剩余电子,降低耗尽区的耐压能力。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种深沟槽填充方法,缩短深沟槽的填充时间,同时提升产品的耐压能力。为解决上述问题,本专利技术所述的深沟槽填充方法,在深沟槽内,先用外延填充,外延填充至沟槽侧壁的外延在底部合拢之后,再利用非导电介质进行填充至填充满沟槽。外延填充至沟槽侧壁的外延在底部合拢,填充时间为完全填充时间的30%~80%。所述的非导电介质包含但不仅限于二氧化硅、非掺杂多晶 ...
【技术保护点】
一种深沟槽外填充方法,其特征在于:在深沟槽内,先用外延填充,外延填充至沟槽侧壁的外延在底部合拢之后,再利用非导电介质进行填充至填充满沟槽。
【技术特征摘要】
1.一种深沟槽外填充方法,其特征在于:在深沟槽内,先用外延填充,外延填充至沟槽侧壁的外延在底部合拢之后,再利用非导电介质进行填充至填充满沟槽。2.如权利要求1所述的深沟槽外填充方法,其特征在于:外延填充至沟槽侧壁的外延在底部合拢,填...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚亮,王飞,
申请(专利权)人:上海华虹宏力半导体制造有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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