【技术实现步骤摘要】
本技术涉及厚度检测
,具体为一种镀层厚度实时测量装置。
技术介绍
镀膜技术在现在工业中占有极其重要的地位,已广泛应用于电子、航天、仪表等高技术工业。随着镀膜技术的发展,镀层的质量检查,也已被列为标准化的一门科学技术。在镀层质量检测中,镀层厚度和层中各元素的比例分配是控制镀膜性质的两个重要参数,测定这两个参数对于电子、光学、半导体、超导等高科技材料的研究发展具有重要意义。镀层厚度测量方法通常分为破坏性和非破坏性两大类。破坏性测厚法如点滴法、液流法、电量法等,由于对样品的破坏性和费事费力等缺陷,在许多精密测量中正被舍弃。无损法测量由于具有不破坏样品、简便迅速测定厚度等特点,正被广泛应用。无损法一般有磁性法、涡流法、超声测厚法、X 射线荧光测厚等方法。现有的带钢厚度检测仪结构复杂,检测的参数不能实时发送至监控仪,工作人员不能在第一时间发现厚度异常,造成较大的材料浪费。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种镀层厚度实时测量装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种镀层厚度实时测量装置, 包括底座支架、传送机构、检测控制装置,所述传送机构固定设置在底座支架上,所述传送机构包括传送辊和传送带,且所述传送带绕在传送辊上,所述传送带上传送带钢,所述检测控制装置包括多个检测探头和监测控制仪,多个检测探头均布在带钢的上下端,多个检测探头分别信号连接监测控制仪,所述监测控制仪包括外壳,所述外壳上设有显示屏,所述外壳内部设有控制电路板,所述控制电路板上设有微处理器、存储模块、显示模块、信号传输模块、A/D转换模块以及报警模块,所述微处 ...
【技术保护点】
一种镀层厚度实时测量装置, 包括底座支架(1)、传送机构(2)、检测控制装置(3),其特征在于:所述传送机构(2)固定设置在底座支架(1)上,所述传送机构(2)包括传送辊(17)和传送带(4),且所述传送带(4)绕在传送辊(17)上,所述传送带(4)上传送带钢(16),所述检测控制装置(3)包括多个检测探头(5)和监测控制仪(6),多个检测探头(5)均布在带钢的上下端,多个检测探头(5)分别信号连接监测控制仪(6),所述监测控制仪(6)包括外壳(7),所述外壳(7)上设有显示屏(8),所述外壳(7)内部设有控制电路板(9),所述控制电路板(9)上设有微处理器(10)、存储模块(11)、显示模块(12)、信号传输模块(13)、A/D转换模块(14)以及报警模块(15),所述微处理器(10)分别连接存储模块(11)、显示模块(12)、报警模块(15),所述检测探头(5)连接A/D转换模块(14),所述A/D转换模块(14)通过信号传输模块(13)连接微处理器(10)。
【技术特征摘要】
1.一种镀层厚度实时测量装置, 包括底座支架(1)、传送机构(2)、检测控制装置(3),其特征在于:所述传送机构(2)固定设置在底座支架(1)上,所述传送机构(2)包括传送辊(17)和传送带(4),且所述传送带(4)绕在传送辊(17)上,所述传送带(4)上传送带钢(16),所述检测控制装置(3)包括多个检测探头(5)和监测控制仪(6),多个检测探头(5)均布在带钢的上下端,多个检测探头(5)分别信号连接监测控制仪(6),所述监测控制仪(6)包括外壳(7),所述外壳(7)上设有显示屏(8),所述外壳(7)内部设有控制电路板(9),所述控制电路板(9)上设有微处理器(10)、存储模块(11)、显示模块(12)、信号传输模块(13)、A/D转换模块(14)以及报警模块(15),所述微处理器(10)分别连接存储模块(11)、显示模块(12)、报警模块(15),所述检测探头(5)连接A/D转换模块(14),所述A/D转换模块(14)通过信号传输模块(13)连接微处理器(10)。2.根据权利要求1所述的一种镀层厚度实时测量装置,其特征在于:所述信号传输模块(13)包括三极管A(1b)、...
【专利技术属性】
技术研发人员:李蔚森,朱卫民,
申请(专利权)人:马鞍山恒瑞测量设备有限公司,
类型:新型
国别省市:安徽;34
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