电子装置与其集成电路制造方法及图纸

技术编号:14058707 阅读:165 留言:0更新日期:2016-11-27 12:01
一种电子装置与其集成电路。所述集成电路包括电压产生器与负温度系数电流产生器。电压产生器基于一预设值产生与绝对温度成正比的参考电压。负温度系数电流产生器接收参考电压,并基于参考电压产生参考电流。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种电子装置与其集成电路,且特别是有关于一种可消除制程、温度、电压飘移的电子装置与其集成电路。
技术介绍
电子装置往往需要一个稳定的参考电流,以确保操作的特定。电子装置可透过集成电路(Integrated circuit,简称IC)来产生参考电流,且集成电路所产生的参考电流必须能够抵抗环境因素(例如,电压、温度)的影响,以确保参考电流的准确性。一般而言,现有的集成电路往往是利用带差参考电路(bandgap reference circuit)来产生参考电压,并透过一接脚来外接一个准确的外部电阻。藉此,现有的集成电路将可基于带差参考电路所产生的参考电压与外部电阻来产生稳定的参考电流。然而,上述做法往往会导致集成电路必须耗费较大的布局面积来设置带差参考电路,且必须耗费额外的接脚来连接外部电阻。外部杂讯也可能耦合至连接至外部电阻的接脚,进而影响参考电流的输出品质。
技术实现思路
本专利技术提供一种电子装置与其集成电路,利用与绝对温度成正比的参考电压以及具有正温度系数的阻抗元件来产生参考电流。藉此,除了可透过集成电路提供稳定的参考电流以外,还可降低集成电路的布局面积。本专利技术的集成电路包括电压产生器与负温度系数电流产生器。电压产生器基于一预设值产生与绝对温度成正比的参考电压。负温度系数电流产生器接收参考电压,并基于参考电压产生参考电流。在本专利技术的一实施例中,上述的集成电路利用一修整数据校正该参考电流。本专利技术的电子装置包括集成电路与数据传输接口。集成电路包括电压产生器与负温度系数电流产生器。电压产生器基于一预设值产生与绝对温度成正比的参考电压。负温度系数电流产生器接收参考电压,并基于参考电压产生参考电流。数据传输接口
利用参考电流产生输出电压。其中,集成电路利用修整数据校正参考电流,以致使数据传输接口的输出电压响应于修整数据的校正而被调整至基准电压。基于上述,本专利技术集成电路的电流产生器基于一电压预设值产生一电流,其中,该电流的位准不随温度改变以及电压波动而飘移。藉此,除了可透过集成电路提供稳定的参考电流以外,还可降低集成电路的布局面积,进而有助于电子装置微型化的发展。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合所附图式作详细说明如下。附图说明图1为依据本专利技术一实施例的电子装置的示意图。图2A为依据本专利技术另一实施例的电子装置的示意图。图2B为依据本专利技术一实施例的对照表的示意图。图3A为依据本专利技术又一实施例的电子装置的示意图。图3B为依据本专利技术一实施例的校正参考电流的流程图。图4为依据本专利技术再一实施例的电子装置的示意图。图5为依据本专利技术一实施例的电子装置的电路示意图。附图标记说明10、20、30、40:电子装置110、210、310、410:集成电路111:电压产生器112、412:电流产生器101:阻抗元件120:数据传输接口121:驱动器122:终端电阻VR1:参考电压IR1:参考电流VO1:输出电压D1:修整数据201:存储单元202:对照表VP1~VP16:预设电压DP1~DP16:预设数据S310~S340:图3B的流程图中的步骤511:运算放大器512:晶体管520:偏压电路521:电流镜522:负载元件530:驱动电路R51~R53:电阻MP51、MP52:P型晶体管MN51~MN54:N型晶体管IB5:偏压电流VB5:偏压电压IN5:差动输入信号具体实施方式图1为依据本专利技术一实施例的电子装置的示意图。如图1所示,电子装置10包括集成电路110与数据传输接口120。其中,集成电路110提供参考电流IR1,且数据传输接口120可基于参考电流IR1产生输出电压VO1。在一实施例中,数据传输接口120可例如是一串化器/解串化器(serializer/deserializer,简称SERDES),且数据传输接口120包括驱动器121与终端电阻122。其中,驱动器121耦接电流产生器112。终端电阻122耦接驱动器121与一电压,且所述电压用以提供一参考电位,并可例如是电源电压或是接地电压。在操作上,驱动器121可响应于参考电流IR1与差动输入信号来产生驱动电流,且终端电阻122可依据所述的驱动电流来产生输出电压VO1。更进一步来看,集成电路110包括电压产生器111与电流产生器112。电压产生器111可基于一预设值(图中未示)产生一参考电压VR1,其中,温度的变化会在该参
考电压VR1上产生与绝对温度成正比的波动(variation)。电流产生器112为一负温度系数电流产生器,在一实施例中,其包括具有正温度系数的阻抗元件101。在一实施例中,电流产生器112接收参考电压VR1,并基于参考电压VR1产生流经阻抗元件101的参考电流IR1。值得注意的是,在一实施例中,电流产生器112是利用具有正温度系数的阻抗元件101将参考电压VR1转换成参考电流IR1。因此,参考电流IR1将不会随着温度与电压的变异而产生改变。亦即,电流产生器112可产生与温度、电压无关的参考电流IR1。除此之外,集成电路110还可透过修整数据D1来校正参考电流IR1,进而致使数据传输接口120的输出电压VO1可响应于修整数据D1的校正而被调整至一基准电压。举例来说,集成电路110可利用修整数据D1来控制电压产生器111。藉此,电压产生器111将可依据修整数据D1调整参考电压VR1,进而达到校正参考电流IR1的目的。换言之,集成电路110可进一步地透过修整数据D1来消除制程变异对参考电流IR1所造成的影响,进而可产生与制程、电压及温度(process,voltage and temperature,简称PVT)无关的参考电流IR1。与现有技术相较之下,集成电路110无须设置带差参考电路,且也无须额外透过一接脚来连接外部电阻,即可产生稳定的参考电流。藉此,将可有效地降低集成电路110的布局面积,进而有助于电子装置10在微型化上的发展,也可避免外部杂讯对集成电路110所造成的影响,从而有助于提升参考电流IR1的稳定性。值得一提的是,集成电路110可透过查表的方式来产生修整数据D1。举例来说,图2A为依据本专利技术另一实施例的电子装置的示意图,且图2B为依据本专利技术一实施例的对照表的示意图。如图2A与图2B所示,集成电路210更包括存储单元201。存储单元201内存有一对照表202,且对照表202记录着多个预设电压VP1~VP16与多个预设数据DP1~DP16。集成电路210可将基准电压与预设电压VP1~VP16进行比对,以从预设数据DP1~DP16中择一作为修整数据D1。例如,当基准电压为2.8112伏特时,集成电路210可依据比对结果选取出与基准电压大致上相等的预设电压VP2。例如,集成电路210会从预设电压VP1~VP16中选取出相较于基准电压具有最小差值的预设电压。亦即,集成电路210所选取出的预设电压与基准电压的差值可例如是零或是位在一容许范围内。集成电路210更将与预设电压VP2相对应的预设数据DP2设定为修整数据D1。换言之,集成电路210可依据基准电压查询存储单元201内的对照表202以取得修整数据D1。与图1实施例相似地,集成电路210可利用修整数据D1来
控制电压产本文档来自技高网
...
电子装置与其集成电路

【技术保护点】
一种集成电路,包括:一电压产生器,基于一预设值产生与绝对温度成正比的一参考电压;以及一负温度系数电流产生器,接收该参考电压,并基于该参考电压产生一参考电流。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路,包括:一电压产生器,基于一预设值产生与绝对温度成正比的一参考电压;以及一负温度系数电流产生器,接收该参考电压,并基于该参考电压产生一参考电流。2.如权利要求1所述的集成电路,其特征在于,该负温度系数电流产生器包括具有一正温度系数的一阻抗元件。3.如权利要求1所述的集成电路,其特征在于,该集成电路利用一修整数据校正该参考电流。4.如权利要求3所述的集成电路,其特征在于,该集成电路更包括一存储单元,且该集成电路依据一基准电压查询该存储单元内的一对照表以取得该修整数据。5.如权利要求3所述的集成电路,其特征在于,该集成电路适用于一数据传输接口,该数据传输接口利用该参考电流产生一输出电压,该集成电路依据该输出电压调整该修整数据,以致使该数据传输接口的该输出电压响应于该修整数据的调整而被调整至一基准电压。6.如权利要求3所述的集成电路,其特征在于,该集成电路利用该修整数据控制该电压产生器或是该电流产生器,以致使该电压产生器依据该修整数据调整该参考电压,或是该电流产生器依据该修整数据调整该参考电流。7.如权利要求3所述的集成电路,其特征在于,该集成电路利用该修整数据控制该电压产生器与该电流产生器,以致使该电压产生器依据该修整数据调整该参考电压,且该电流产生器依据该修整数据调整该参考电流。8.如权利要求1所述的集成电路,其特征在于,该电流产生器更包括:一运算放大器,其非反相输入端接收该参考电压,且该运算放大器的反相输入端耦接该阻抗元件;以及一晶体管,其控制端耦接该运算放大器的输出端,该电流产生器透过该晶体管的第一端提供该参考电流,且该晶体管的第二端耦接该阻抗元件。9.如权利要求8所述的集成电路,其特征在于,该阻抗元件为一电阻,该电阻的第一端耦接该运算放大器的反相输入端与该晶体管的第二端,且该电阻的第二端耦接至一接地端。10.一种电子装置,包括:一集成电路,包括:一电压产生器,产生与绝对温度成正比的一参考电压;以及一负温度系数电流产生器,接收该参考电压,并基于该参考电压产生一参考电流;以及一数据传输接口,利用该参考电流产生一输出电压,其中该集成电路利用一修整数据校正该参考电流,以致使该数据传输接口的该输出电压响应于该修整数据的校正而被调整至一基准电压。11.如权利要求10所述的电子装置,...

【专利技术属性】
技术研发人员:倪勖哲陈良信程议贤
申请(专利权)人:扬智科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1