测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法技术

本发明专利技术提供了一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法，在阵列基板的非显示区上设置多个测试电路，每个测试电路包括晶体管以及与晶体管并联的光致导通器件，晶体管的栅极与一开关信号相连接，晶体管的第一电极与一数据信号相连接，晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，光致导通器件的两端分别连接至第一电极与第二电极，通过采用点光源照射光致导通器件，使得晶体管的第一电极与第二电极导通，即数据信号传输至阵列基板显示区域的数据线内，由此判断数据线与显示区内的其他信号线之间是否存在短路，能够快速判断不良失效模式，从而提高了测试效率，节省了测试时间，提高了产品的良率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示领域，具体涉及一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法。
技术介绍
有源矩阵有机发光二极管(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，简称AMOLED)显示是一种应用于电视和移动设备中的显示技术，以其低功耗、低成本、大尺寸的特点在对功耗敏感的便携式电子设备中有着广阔的应用前景。随着AMOLED技术的成熟，AMOLED的成本逐步增加，测试、尤其是生产过程中的高效率测试变得尤为重要，及时测试问题及时解决，不仅提高了产品的良率，同时节省了时间，提高了效率。目前，受限于AMOLED像素电路的技术特点和随着显示面板高解析度PPI的进步。AMOLED像素电路图形越来越精细，图形密度越来越密。从另一方面来讲，对于屏体不良解析的难度也越来越高。主要体现在：1)子像素小，图形复杂，单一缺陷(defect)解析耗时较长；2)不同层(layer)图形交叠面积较大，不良位置容易被掩盖，无法使用显微镜观察到不良位置，从而无法确认不良失效模式。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法，能够快速判断数据线是否与本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试电路，位于一阵列基板的非显示区，其特征在于，包括：晶体管以及与所述晶体管并联的光致导通器件，所述晶体管的栅极与一开关信号相连接，所述晶体管的第一电极与一数据信号相连接，所述晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，所述光致导通器件的两端分别连接至所述第一电极与第二电极，在点光源照射的情况下所述光致导通器件能够使所述第一电极与第二电极导通。

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，位于一阵列基板的非显示区，其特征在于，包括：晶体管以及与所述晶体管并联的光致导通器件，所述晶体管的栅极与一开关信号相连接，所述晶体管的第一电极与一数据信号相连接，所述晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，所述光致导通器件的两端分别连接至所述第一电极与第二电极，在点光源照射的情况下所述光致导通器件能够使所述第一电极与第二电极导通。2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述光致导通器件为光致导通二极管。3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述光致导通二极管的阳极连接至所述晶体管的第一电极，所述光致导通二极管的阴极连接至所述晶体管的第二电极。4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述晶体管为薄膜晶体管。5.如权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述第一电极为源极或漏极中的一个电极，所述第二电极为源极或漏极中的另一个电极。6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述开...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩慧，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32