煎烤机制造技术

本实用新型专利技术提供了提供一种煎烤机，包括：壳体；沿竖直方向上下可移动地设置在壳体内的烤盘组件；直线位移测量部，直线位移测量部设置在壳体内以测量烤盘组件在竖直方向的位移距离。本实用新型专利技术解决了现有技术中的煎烤机无法测量出食材的厚度的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及烹饪器具领域，具体而言，涉及一种煎烤机。
技术介绍
煎烤机已经得到了广泛的使用。但是，煎烤机的火候和时间会影响食材的烹饪口感。而根据食材种类的不同，或是食材厚度的不同，都应该设定不同的火候和烹饪时间。现有的煎烤机的烤盘相对于壳体能够上下运动，但是现有的煎烤机并不能根据烤盘相对于壳体向下运动的距离而有效地测量出食物的厚度，因此，现有的煎烤机便不能根据不同食材的厚度而自动设置煎烤时间，这也就造成了现有的煎烤机只能通过以下两种方法实现对煎烤机的火候和时间的控制。一种是人为设定的。用户自行根据食材的厚度和种类，预估合适的火候和时间，然后对煎烤机进行设定。另一种是煎烤机内预设有一些模式，用于根据食材的种类选定对应的煎烤模式对食材进行烹饪。不论是上述哪种方式，现有的煎烤机都存在一定使用局限性。由于没有有效对食材的厚度进行测量的方法，因而很难对食材的烹饪时间和火候进行可靠地判断，从而使食材因煎烤时间不足或者煎烤超时而存在口感不佳的问题，降低了用户的使用体验。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种煎烤机，以解决现有技术中的煎烤机无法测量出食材的厚度的问题。为了实现上述目的，本技术提供了一种煎烤机，包括：壳体；沿竖直方向上下可移动地设置在壳体内的烤盘组件；直线位移测量部，直线位移测量部设置在壳体内以测量烤盘组件在竖直方向的位移距离。进一步地，直线位移测量部设置在壳体上，且直线位移测量部的检测端朝向烤盘组件设置，直线位移测量部位于烤盘组件在壳体的底面上的正投影的范围内。进一步地，煎烤机还包括高度尺，高度尺与烤盘组件连接或抵接以使高度尺随着烤盘组件的移动而上下运动，直线位移测量部的检测端朝向高度尺设置。进一步地，高度尺具有顺次连接的接触段和测量段，接触段与烤盘组件连接或抵接。进一步地，测量段相对于竖直方向倾斜设置，且测量段与直线位移测量部的检测端之间的水平距离沿竖直方向自上而下逐渐增大或减小。进一步地，测量段呈阶梯式结构。进一步地，煎烤机还具有至少一个弹性元件，弹性元件支撑在接触段与壳体的底面之间。进一步地，直线位移测量部为红外线测距装置。进一步地，煎烤机还包括弹簧，弹簧沿竖直方向支撑在壳体与烤盘组件之间。进一步地，煎烤机还包括缓冲支撑组件，弹簧套设在缓冲支撑组件的外周侧，且缓冲支撑组件位于壳体与烤盘组件之间。进一步地，缓冲支撑组件包括：设置在壳体的底面上的支撑座，支撑座具有沿竖直方向开设的容纳孔；可伸缩地设置在容纳孔处的支撑杆，支撑杆处于自由状态时，支撑杆的上端与烤盘组件的底面连接或抵接或分离，支撑杆处于被压迫状态时，支撑杆的下端向容纳孔内移动。进一步地，支撑杆具有沿竖直方向自上而下横截面积依次减小的连接段、止挡段和插入段，止挡段的截面积大于容纳孔的截面积。进一步地，煎烤机还包括：烤盘；承载盘，烤盘设置在承载盘上，承载盘的外周缘具有朝向壳体的底面一侧伸出的延伸凸沿，高度尺的一端与延伸凸沿的底部边沿抵接或连接。进一步地，烤盘组件包括控制组件，直线位移测量部与控制组件信号连接，直线位移测量部发送位移信号，控制组件接收位移信号并根据位移信号控制煎烤机的煎烤时间。进一步地，煎烤机还包括：控制组件；显示单元，直线位移测量部通过控制组件与显示单元信号连接，直线位移测量部发送位移信号，控制组件接收位移信号并控制显示单元进行显示。应用本技术的技术方案，通过将烤盘组件沿竖直方向上下可移动地设置在壳体内，当将食材放置在煎烤机内并盖合煎烤机后，烤盘组件在壳体内移动后，直线位移测量部能够测量出烤盘组件在竖直方向的位移距离。由于烤盘组件的烤腔的深度适配于食材的厚度，因而烤盘组件移动的位移距离加上烤盘组件处于初始状态时烤腔的深度就等于食材的厚度。也就是说，通过直线位移测量部测量烤盘组件在竖直方向的位移距离，便可以准确地测量出食材的厚度，从而有利于煎烤机根据食材的厚度自动设定煎烤时间，提高了煎烤机使用的便捷性。附图说明构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：图1示出了根据本技术的一种可选实施例的当电热盘处于初始位置时的煎烤机的结构示意图；图2示出了图1中A处的局部放大示意图；图3示出了图1的当电热盘处于下移位置时的煎烤机的结构示意图；图4示出了图3中B处的局部放大示意图；图5示出了根据本技术的另一种可选实施例的直线位移测量部和高度尺的位置关系示意图。其中，上述附图包括以下附图标记：10、壳体；20、下烤盘组件；21、烤盘；22、承载盘；23、延伸凸沿；30、弹簧；40、直线位移测量部；42、高度尺；421、接触段；423、测量段；50、控制组件；60、缓冲支撑组件；61、支撑座；62、支撑杆。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。在本技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本技术。为了解决现有技术中的煎烤机无法测量出食材的厚度的问题，本技术提供了一种煎烤机。如图1至图4所示，煎烤机，包括壳体10、沿竖直方向上下可移动地设置在壳体10内的烤盘组件、弹簧30和直线位移测量部40，弹簧30沿竖直方向支撑在壳体10与烤盘组件之间；直线位移测量部40设置在壳体10内以测量烤盘组件在竖直方向的位移距离。通过将烤盘组件沿竖直方向上下可移动地设置在壳体10内，当将食材放置在煎烤机内并盖合煎烤机后，烤盘组件在壳体10内移动后，直线位移测量部40能够测量出烤盘组件在竖直方向的位移距离。由于烤盘组件的烤腔的深度适配于食材的厚度，因而烤盘组件移动的位移距离加上烤盘组件处于初始状态时烤腔的深度就等于食材的厚度。也就是说，通过直线位
移测量部40测量烤盘组件在竖直方向的位移距离，便可以准确地测量出食材的厚度，从而有利于煎烤机根据食材的厚度自动设定煎烤时间，提高了煎烤机使用的便捷性。可选地，烤盘组件包括上烤盘组件和下烤盘组件20，上烤盘组件和下烤盘组件20之间的距离可调节，且上烤盘组件和下烤盘组件20之间的腔体形成了烤盘组件的烤腔。在本技术不同的实施例中，测量食物厚度的方法不同。具体而言，在本技术的一种可选实施例中，上烤盘组件相对于壳体10位置不动，下烤盘组件20上下可移动地设置在所述壳体10内，此时，直线位移测量部40能够测量出下烤盘组件20的位移距离并加上烤盘组件处于初始状态时烤腔的深度就等于食材的厚度。在本技术的另一种可选实施例中，下烤盘组件20相对于壳体10位置不动，上烤盘组件上下可移动地设置在所述壳体10内，此时直线位移测量部40能够测量出上烤盘组件的位移距离并加上烤盘组件处于初始状态时烤腔的深度就等于食材本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种煎烤机，其特征在于，包括：壳体(10)；沿竖直方向上下可移动地设置在所述壳体(10)内的烤盘组件；直线位移测量部(40)，所述直线位移测量部(40)设置在所述壳体(10)内以测量所述烤盘组件在竖直方向的位移距离。

【技术特征摘要】
1.一种煎烤机，其特征在于，包括：壳体(10)；沿竖直方向上下可移动地设置在所述壳体(10)内的烤盘组件；直线位移测量部(40)，所述直线位移测量部(40)设置在所述壳体(10)内以测量所述烤盘组件在竖直方向的位移距离。2.根据权利要求1所述的煎烤机，其特征在于，所述直线位移测量部(40)设置在所述壳体(10)上，且所述直线位移测量部(40)的检测端朝向所述烤盘组件设置，所述直线位移测量部(40)位于所述烤盘组件在所述壳体(10)的底面上的正投影的范围内。3.根据权利要求1所述的煎烤机，其特征在于，所述煎烤机还包括高度尺(42)，所述高度尺(42)与所述烤盘组件连接或抵接以使所述高度尺(42)随着所述烤盘组件的移动而上下运动，所述直线位移测量部(40)的检测端朝向所述高度尺(42)设置。4.根据权利要求3所述的煎烤机，其特征在于，所述高度尺(42)具有顺次连接的接触段(421)和测量段(423)，所述接触段(421)与所述烤盘组件连接或抵接。5.根据权利要求4所述的煎烤机，其特征在于，所述测量段(423)相对于竖直方向倾斜设置，且所述测量段(423)与所述直线位移测量部(40)的检测端之间的水平距离沿竖直方向自上而下逐渐增大或减小。6.根据权利要求4所述的煎烤机，其特征在于，所述测量段(423)呈阶梯式结构。7.根据权利要求4所述的煎烤机，其特征在于，所述煎烤机还具有至少一个弹性元件，所述弹性元件支撑在所述接触段(421)与所述壳体(10)的底面之间。8.根据权利要求1所述的煎烤机，其特征在于，所述直线位移测量部(40)为红外线测距装置。9.根据权利要求1所述的煎烤机，其特征在于，所述煎烤机还包括弹簧(30)，所述弹簧(30)沿竖直方向支撑在所述壳体(10)与所述烤盘组件之间。10.根据权利要求9所述的煎烤机，其特征在于，所述煎烤机还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜俊明，杨建刚，
申请(专利权)人：浙江苏泊尔家电制造有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33