【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示领域，尤其涉及一种基板检测方法及基板检测设备。
技术介绍
现在市场上的平板电脑(Tablet PC)和智能手机(Smart Phone)等中小尺寸液晶面板的的需求越来越多，终端客户对于移动终端的性能提出了更高的要求。具体到液晶面板来说，就是要求有更高的分辨率(Resolution)和更宽的色域等。在分辨率向HD(High Definition，高清)或FHD(Full High Definition，全高清)甚至UHD(Ultra High Definition，超高清)提升的过程中，产品的尺寸却在变小，这样会导致液晶面板的金手指区域焊点间距(Pad Pitch)越来越小，从而增加了液晶面板成盒状态的检查难度，为了解决此问题，目前一种对应的设计就是将液晶面板的RGB分类集中在一个焊点进行成盒状态的检查，这能够有效解决金手指区域焊点间距减小的导致的检查难度问题。RGB分类连出的方法不同，在成盒后分为激光切割(Trimming)和电开关(Switch)方式，激光切割方式具有模拟模组状态(信号端金手指焊点)信号添加的优点，能够检出由于液晶面板非显示区...
【技术保护点】
一种基板检测方法，其特征在于，包括：在基板的一侧对所述基板上待检测区域进行光照；在进行所述光照时在所述基板的另一侧对所述待检测区域进行图像抓取；根据所述抓取的图像对所述检测区域进行检测。
【技术特征摘要】
1.一种基板检测方法，其特征在于，包括：在基板的一侧对所述基板上待检测区域进行光照；在进行所述光照时在所述基板的另一侧对所述待检测区域进行图像抓取；根据所述抓取的图像对所述检测区域进行检测。2.根据权利要求1所述的基板检测方法，其特征在于，在基板的一侧对所述基板上待检测区域进行光照之前还包括：对所述待检测区域的光透射率进行检测；其中，在基板的一侧对所述基板上待检测区域进行光照包括：根据所述待检测区域的光透射率在所述基板的所述一侧对所述待检测区域进行光照。3.根据权利要求1所述的基板检测方法，其特征在于，所述基板为由阵列基板和彩膜基板对盒而成的显示面板。4.根据权利要求3所述的基板检测方法，其特征在于，所述待检测区域为所述显示面板上非显示区域上的金手指区域，所述金手指区域包括切割区域和非切割区域，其中，所述根据所述抓取的图像对所述检测区域进行检测包括：通过将所述图像上所述切割区域与所述非切割区域的灰度值相互比较确定所述切割区域的切割效果。5.根据权利要求3所述的基板检测方法，其特征在于，所述待检测区域为所述显示面板上的显示区域，所述检测区域包括多个像素单元，其中，所述根据所述抓取的图像对所述检测区域进行检测包括：根据标准像素图像判断一个像素单元的图像是否存在缺陷，若所述一个像素单元的图像不存在缺陷，则利用所述一个像素单元的图像判断与所述一个像素...
【专利技术属性】
技术研发人员：井杨坤，邢化贵，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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