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本发明提供了一种基板检测方法及基板检测设备，该基板检测方法包括：在基板的一侧对所述基板上待检测区域进行光照；在进行所述光照时在所述基板的另一侧对所述待检测区域进行图像抓取；根据所述抓取的图像对所述检测区域进行检测。本发明提供的基板检测方法，...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司授权不得商用。