一种多芯片系统的相位测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供的一种多芯片系统的相位测量方法及装置，其中，该方法包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，计时值为计量芯片由接收到相位测量命令至计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个计量芯片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。由此，通过广播模式发起相位测量命令，并读取每个计量芯片在接收到相位测量命令至对应交流信号发生过零之间的时间段(即计时值)，进而利用不同计量芯片对应的计时值计算得到不同计量芯片对应的交流信号之间的相位差，无需设置中断管脚、中断响应管脚及对应隔离电路，大大降低了硬件成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电参量测量
，更具体地说，涉及一种多芯片系统的相位测量方法及装置。
技术介绍
在电参量测量应用中(例如智能插座、智能家电、智能电表等)，常常会采用计量模块与主控微控制器(MCU)模块分离的实现方案，尤其在三相计量系统设计中，由三颗计量芯片和一颗MCU组成的三相电能计量系统是主流应用解决方案之一，由于该系统电流传感器都采用锰铜传感器，因此，这种系统也被业内叫为三相三锰铜电能计量系统。在三相三锰铜电能计量系统中，由于每一相的电流和电压都有单独的供电、传感和计量芯片，不同相电流或电压之间的相位测量需要通过间接的方式获得。以不同相电压之间的相位测量为例，通常在任一相输出的电压信号过零时，由对应计量芯片利用其中断管脚通过隔离电路向主控MCU的中断响应管脚输出中断，进而，通过不同计量芯片输出中断的时间的不同，计算不同计量芯片对应的电压之间的相位差。但是这种实现方式中每个计量芯片与主控MCU之间都需要通过计量芯片的中断管脚、主控MCU的中断响应管脚及对应隔离电路实现，无论是隔离电路成本还是计量芯片和主控MCU的管脚开销都很大，因此，会造成实现成本较高。综上所述，现有技术用于实现电能计量系统中不同相的电压或电流之间的相位测量的技术方案存在成本较高的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种多芯片系统的相位测量方法及装置，以解决现有技术中用于实现电能计量系统中不同相的电压或电流之间的相位测量的技术方案存在的成本较高的问题。为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种多芯片系统的相位测量方法，包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。优选的，还包括：读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值；所述确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差，包括：确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。优选的，利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值，包括：如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算： T 1 ′ = T 1 - | R 11 | | R 11 | + | R 12 | + T N ]]>如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算： T 1 ′ = T 1 - | R 12 | | R 11 | + | R 12 | + T N ]]>其中，T1'表示任一所述计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时值，R11表示该计量芯片对应的第一采样值，R12表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点数。优选的，读取每个计量芯片对应的计时值，包括：查询每个所述计量芯片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值；其中，当所述计量芯片对应的交流信号发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。优选的，所述计量芯片包括对应于同一供电装置的两个计量芯片，其中，读取到的一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，读取到的另一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；所述电压信号和所述电流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。优选的，所述计量芯片包括一一对应于不同供电装置的多个计量芯片，其中，读取到的每个计量芯片的计时值均为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，或者均为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；每个所述计量芯片对应的交流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。一种多芯片系统的相位测量装置，包括：广播模块，用于以广播模式发起相位测量命令；第一读取模块，用于读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；计算模块，用于确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。优选的，还包括：第二读取模块，用于读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；插值模块，用于利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值；所述计算模块，包括：计算单元，用于确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。优选的，插值模块包括：第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多芯片系统的相位测量方法，其特征在于，包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

【技术特征摘要】
1.一种多芯片系统的相位测量方法，其特征在于，包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值；所述确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差，包括：确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值，包括：如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算： T 1 ′ = T 1 - | R 11 | | R 11 | + | R 12 | + T N ]]>如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算： T 1 ′ = T 1 - | R 12 | | R 11 | + | R 12 | + T N ]]>其中，T1'表示任一所述计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时值，R11表示该计量芯片对应的第一采样值，R12表示该计量芯片对
\t应的第二采样值，T表示该计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点数。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，读取每个计量芯片对应的计时值，包括：查询每个所述计量芯片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值；其中，当所述计量芯片对应的交流信号发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计量芯片包括对应于同一供电装置的两个计量芯片，其中，读取到的一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，读取到的另一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：门长有，
申请(专利权)人：万高杭州科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33