【技术实现步骤摘要】
本技术涉及供电装置测量
,特别是涉及一种测量仪。
技术介绍
随着科技的发展,电子产品的应用越来越广泛,数量也越来越多,每个电子产品都需要供电装置,其中,这供电装置可以为电源变换器或者电池,为了保证电子产品的使用寿命以及用户体验,对电子产品的供电装置的带载能力的测量是很必要的。现有技术中,对供电装置的带载能力的测量,一般使用可变电阻器或者电子负载仪来测量。对于可变电阻器(比如可变水泥电阻)需要先调节其阻抗大小,这个大小可能还需要使用专用仪表(比如万用表电阻档)手动去测量得出,然后接上待测供电装置,再使用电压表测量待测供电装置的输出电压,这样得出一组负载下的测量数据,改变负载的大小测量得到另一些测量数据,最后根据这些测量数据分析出供电装置的带载能力;对于电子负载仪也是同样的原理。可见,现有技术中的测量仪器在测量供电装置的带载能力时,需要用户手动去调节可变电阻器或者电子负载仪的阻抗、记录供电装置的输出电压以及负载电流,自动化程度低,大大地降低了测量效率。因此,如何提供一种在测量供电装置带载能力时自动化程度高以及测量效率高的测量仪是本领域技术人员目前需要解决的问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种测量仪,测量过程中不需要用户手动的调整可调节负载的阻抗、记录供电装置的输出电压以及负载电流,自动化程度高,大大提高了对供电装置的带载能力的测量效率。为解决上述技术问题,本技术提供了一种测量仪, ...
【技术保护点】
一种测量仪,用于测量供电装置的带载能力,其特征在于,包括:与MCU连接,用于输入参数和/或测量模式的输入装置;分别与所述供电装置的输出端以及所述MCU连接,用于采集所述供电装置的输出电压并发送至所述MCU的电压采集电路;与所述供电装置的输出端连接的负载开关;分别与所述MCU以及所述负载开关连接的负载开关驱动电路;与所述负载开关连接的可调节负载;分别与所述MCU以及所述可调节负载连接的负载驱动选择电路;与所述可调节负载连接的采样电阻;分别与所述MCU和所述采样电阻连接,用于采集所述采样电阻的采样电压并发送至所述MCU的电信号采集电路;与所述MCU连接,用于存储所述可调节负载的阻抗以及该阻抗对应的所述供电装置的输出电压和负载电流的存储装置;用于依据所述参数和/或测量模式对所述负载开关的导通和关断进行控制、对所述可调节负载的阻抗进行调整、依据所述采样电压得到所述供电装置的负载电流并依据所述负载电流和所述输出电压得到所述供电装置的带载能力的所述MCU。
【技术特征摘要】
1.一种测量仪,用于测量供电装置的带载能力,其特征在于,包括:
与MCU连接,用于输入参数和/或测量模式的输入装置;
分别与所述供电装置的输出端以及所述MCU连接,用于采集所述供电装置
的输出电压并发送至所述MCU的电压采集电路;
与所述供电装置的输出端连接的负载开关;
分别与所述MCU以及所述负载开关连接的负载开关驱动电路;
与所述负载开关连接的可调节负载;
分别与所述MCU以及所述可调节负载连接的负载驱动选择电路;
与所述可调节负载连接的采样电阻;
分别与所述MCU和所述采样电阻连接,用于采集所述采样电阻的采样电压
并发送至所述MCU的电信号采集电路;
与所述MCU连接,用于存储所述可调节负载的阻抗以及该阻抗对应的所述
供电装置的输出电压和负载电流的存储装置;
用于依据所述参数和/或测量模式对所述负载开关的导通和关断进行控
制、对所述可调节负载的阻抗进行调整、依据所述采样电压得到所述供电装置
的负载电流并依据所述负载电流和所述输出电压得到所述供电装置的带载能
力的所述MCU。
2.如权利要求1所述的测量仪,其特征在于,所述存储装置为SD卡。
3.如权利要求1所述的测量仪,其特征在于,该测量仪还包括:
与所述MCU连接,用于对所述参数和/或测量模式以及所述MCU发出的警
示进行显示的显示装置。
4.如权利要求3所述的测量仪,其特征在于,所述显示装置为LCD液晶
显示屏。
5.如权利要求1所述的测量仪,其特征在于,所述可调节负载包括电子
负载仪。
6.如权利要求5所述的测量仪,其特征在于,所述可调节负载还包括数
字电位器。
7.如权利要求6所述的测量仪,其特征在于,所述负...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢杰,
申请(专利权)人:万高杭州科技有限公司,
类型:新型
国别省市:浙江;33
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。