一种测量仪制造技术

技术编号:14937512 阅读:73 留言:0更新日期:2017-03-31 19:42
本实用新型专利技术公开了一种测量仪,用于测量供电装置的带载能力,包括输入装置、用于采集供电装置的输出电压并发送至MCU的电压采集电路、负载开关驱动电路、负载开关、负载驱动选择电路、可调节负载、采样电阻、用于采集采样电阻的采样电压并发送至MCU的电信号采集电路、存储装置以及MCU,MCU根据输入装置输入的参数和/或测量模式来实现对负载开关的导通和关断进行控制、对可调节负载的阻抗进行调整、依据采样电阻的采样电压得到供电装置的负载电流并依据负载电流和输出电压得到供电装置的带载能力,测量过程中不需要用户手动的调整可调节负载的阻抗、记录供电装置的输出电压以及负载电流,自动化程度高,大大提高了对供电装置的带载能力的测量效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及供电装置测量
,特别是涉及一种测量仪
技术介绍
随着科技的发展,电子产品的应用越来越广泛,数量也越来越多,每个电子产品都需要供电装置,其中,这供电装置可以为电源变换器或者电池,为了保证电子产品的使用寿命以及用户体验,对电子产品的供电装置的带载能力的测量是很必要的。现有技术中,对供电装置的带载能力的测量,一般使用可变电阻器或者电子负载仪来测量。对于可变电阻器(比如可变水泥电阻)需要先调节其阻抗大小,这个大小可能还需要使用专用仪表(比如万用表电阻档)手动去测量得出,然后接上待测供电装置,再使用电压表测量待测供电装置的输出电压,这样得出一组负载下的测量数据,改变负载的大小测量得到另一些测量数据,最后根据这些测量数据分析出供电装置的带载能力;对于电子负载仪也是同样的原理。可见,现有技术中的测量仪器在测量供电装置的带载能力时,需要用户手动去调节可变电阻器或者电子负载仪的阻抗、记录供电装置的输出电压以及负载电流,自动化程度低,大大地降低了测量效率。因此,如何提供一种在测量供电装置带载能力时自动化程度高以及测量效率高的测量仪是本领域技术人员目前需要解决的问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种测量仪,测量过程中不需要用户手动的调整可调节负载的阻抗、记录供电装置的输出电压以及负载电流,自动化程度高,大大提高了对供电装置的带载能力的测量效率。为解决上述技术问题,本技术提供了一种测量仪,用于测量供电装置的带载能力,包括:与MCU连接,用于输入参数和/或测量模式的输入装置;分别与所述供电装置的输出端以及所述MCU连接,用于采集所述供电装置的输出电压并发送至所述MCU的电压采集电路;与所述供电装置的输出端连接的负载开关;分别与所述MCU以及所述负载开关连接的负载开关驱动电路;与所述负载开关连接的可调节负载;分别与所述MCU以及所述可调节负载连接的负载驱动选择电路;与所述可调节负载连接的采样电阻;分别与所述MCU和所述采样电阻连接,用于采集所述采样电阻的采样电压并发送至所述MCU的电信号采集电路;与所述MCU连接,用于存储所述可调节负载的阻抗以及该阻抗对应的所述供电装置的输出电压和负载电流的存储装置;用于依据所述参数和/或测量模式对所述负载开关的导通和关断进行控制、对所述可调节负载的阻抗进行调整、依据所述采样电压得到所述供电装置的负载电流并依据所述负载电流和所述输出电压得到所述供电装置的带载能力的所述MCU。优选地,所述存储装置为SD卡。优选地,该测量仪还包括:与所述MCU连接,用于对所述参数和/或测量模式以及所述MCU发出的警示进行显示的显示装置。优选地,所述显示装置为LCD液晶显示屏。优选地,所述可调节负载包括电子负载仪。优选地,所述可调节负载还包括数字电位器。优选地,所述负载驱动选择电路包括单刀双掷开关、可调节负载驱动电路以及第一连接线,其中,所述单刀双掷开关的动端及控制端均和所述MCU连接,所述单刀双掷开关的第一不动端通过所述第一连接线直接与所述可调节负载连接,所述单刀双掷开关的第二不动端通过所述可调节负载驱动电路与所述可调节负载连接。优选地,所述电压采集电路包括第一模数转换器和第一电压预处理电路,其中,所述第一电压预处理电路包括第一单刀三掷开关、第二连接线、第一放大电路以及第一分压电路,其中,所述第一单刀三掷开关的控制端与所述MCU连接,所述第一单刀三掷开关的动端与所述第一模数转换器连接,所述第一单刀三掷开关的第一不动端通过所述第二连接线与所述供电装置的输出端连接,所述第一单刀三掷开关的第二不动端通过所述第一放大电路与所述供电装置的输出端连接,所述第一单刀三掷开关的第三不动端通过所述第一分压电路与所述供电装置的输出端连接。优选地,所述电信号采集电路包括第二模数转换器和第二电压预处理电路,其中,所述第二电压预处理电路包括第二单刀三掷开关、第三连接线、第二放大电路以及第二分压电路,其中,所述第二单刀三掷开关的控制端与所述MCU连接,所述第二单刀三掷开关的动端与所述第二模数转换器连接,所述第二单刀三掷开关的第一不动端通过所述第三连接线与所述采样电阻连接,所述第二单刀三掷开关的第二不动端通过所述第二放大电路与所述采样电阻连接,所述第二单刀三掷开关的第三不动端通过所述第二分压电路与所述采样电阻连接。优选地,所述输入装置为按键。本技术提供了一种测量仪,用于测量供电装置的带载能力,包括输入装置、用于采集供电装置的输出电压并发送至MCU的电压采集电路、负载开关驱动电路、负载开关、负载驱动选择电路、可调节负载、采样电阻、用于采集采样电阻的采样电压并发送至MCU的电信号采集电路、存储装置以及MCU,其中,MCU根据输入装置输入的参数和/或测量模式来实现对负载开关的导通和关断进行控制、对可调节负载的阻抗进行调整、依据采样电阻的采样电压得到供电装置的负载电流并依据负载电流和输出电压得到供电装置的带载能力,测量过程中不需要用户手动的调整可调节负载的阻抗、记录供电装置的输出电压以及负载电流,自动化程度高,大大提高了对供电装置的带载能力的测量效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的一种测量仪的结构示意图;图2为本技术提供的另一种测量仪的结构示意图;图3为本技术提供的一种负载驱动选择电路的结构示意图;图4为本技术提供的一种第一电压预处理电路的结构示意图;图5为本技术提供的一种第二电压预处理电路的结构示意图。具体实施方式本技术的核心是提供一种测量仪,测量过程中不需要用户手动的调整可调节负载的阻抗、记录供电装置的输出电压以及负载电流,自动化程度高,大大提高了对供电装置的带载能力的测量效率。为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量仪,用于测量供电装置的带载能力,其特征在于,包括:与MCU连接,用于输入参数和/或测量模式的输入装置;分别与所述供电装置的输出端以及所述MCU连接,用于采集所述供电装置的输出电压并发送至所述MCU的电压采集电路;与所述供电装置的输出端连接的负载开关;分别与所述MCU以及所述负载开关连接的负载开关驱动电路;与所述负载开关连接的可调节负载;分别与所述MCU以及所述可调节负载连接的负载驱动选择电路;与所述可调节负载连接的采样电阻;分别与所述MCU和所述采样电阻连接,用于采集所述采样电阻的采样电压并发送至所述MCU的电信号采集电路;与所述MCU连接,用于存储所述可调节负载的阻抗以及该阻抗对应的所述供电装置的输出电压和负载电流的存储装置;用于依据所述参数和/或测量模式对所述负载开关的导通和关断进行控制、对所述可调节负载的阻抗进行调整、依据所述采样电压得到所述供电装置的负载电流并依据所述负载电流和所述输出电压得到所述供电装置的带载能力的所述MCU。

【技术特征摘要】
1.一种测量仪,用于测量供电装置的带载能力,其特征在于,包括:
与MCU连接,用于输入参数和/或测量模式的输入装置;
分别与所述供电装置的输出端以及所述MCU连接,用于采集所述供电装置
的输出电压并发送至所述MCU的电压采集电路;
与所述供电装置的输出端连接的负载开关;
分别与所述MCU以及所述负载开关连接的负载开关驱动电路;
与所述负载开关连接的可调节负载;
分别与所述MCU以及所述可调节负载连接的负载驱动选择电路;
与所述可调节负载连接的采样电阻;
分别与所述MCU和所述采样电阻连接,用于采集所述采样电阻的采样电压
并发送至所述MCU的电信号采集电路;
与所述MCU连接,用于存储所述可调节负载的阻抗以及该阻抗对应的所述
供电装置的输出电压和负载电流的存储装置;
用于依据所述参数和/或测量模式对所述负载开关的导通和关断进行控
制、对所述可调节负载的阻抗进行调整、依据所述采样电压得到所述供电装置
的负载电流并依据所述负载电流和所述输出电压得到所述供电装置的带载能
力的所述MCU。
2.如权利要求1所述的测量仪,其特征在于,所述存储装置为SD卡。
3.如权利要求1所述的测量仪,其特征在于,该测量仪还包括:
与所述MCU连接,用于对所述参数和/或测量模式以及所述MCU发出的警
示进行显示的显示装置。
4.如权利要求3所述的测量仪,其特征在于,所述显示装置为LCD液晶
显示屏。
5.如权利要求1所述的测量仪,其特征在于,所述可调节负载包括电子
负载仪。
6.如权利要求5所述的测量仪,其特征在于,所述可调节负载还包括数
字电位器。
7.如权利要求6所述的测量仪,其特征在于,所述负...

【专利技术属性】
技术研发人员:卢杰
申请(专利权)人:万高杭州科技有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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