本实用新型专利技术公开了一种计量信号产生装置，包括用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；分别与MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据第一基准电压给定装置提供的基准电压将初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；与DAC连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。可见，本实用新型专利技术能够根据预先存储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低。本实用新型专利技术还公开了一种计量芯片校验仪。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及计量信号测试装置
，特别是涉及一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置。
技术介绍
随着需要计量功能的仪器仪表或设备(比如电能表、智能插座和带计量功能的设备等)的数量的不断增长，极大地带动了计量芯片产业链，为了保证计量产品的计量精度以及计量安全，对计量产品中的计量芯片的计量功能和性能的测试显得尤为重要，在对计量芯片进行测试时，通常要向待测计量芯片输入计量信号，但现有技术中目前还没有一个专门的用来生成计量信号的计量信号产生装置，特别是在IC验证装置和IC测试装置中。虽然也可以通过函数发生器来生成计量信号，但是函数发生器生成输出信号时，需要人为手动的控制，不利于集成到IC验证装置和IC测试装置中，效率低，且函数发生器构造复杂，成本高。因此，如何提供一种效率高、低成本的计量芯片校验仪及计量信号产生装置是本领域技术人员目前需要解决的问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种计量信号产生装置，能够根据预先存储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低；本实用新型的另一目的是提供一种包括上述计量信号产生装置的计量芯片校验仪。为解决上述技术问题，本技术提供了一种计量信号产生装置，包括：用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；分别与所述MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据所述第一基准电压给定装置提供的基准电压将所述初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；与所述DAC连接的、用于增强所述初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将所述计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。优选地，所述DAC与所述电压跟随器之间还包括：用于将所述初始模拟计量信号进行分压，得到分压计量信号的分压电路。优选地，该装置还包括：与所述电压跟随器连接的、用于对所述计量信号进行滤波，得到最终计量信号的第一RC低通滤波器。优选地，该装置还包括：分别与所述第一RC低通滤波器、所述MCU以及地连接的多路选择器，所述多路选择器的输出端与所述待测计量芯片连接，所述多路选择器用于依据所述MCU发送的控制信号选择地信号或者所述最终计量信号作为所述待测计量芯片的输入信号并将其输出至所述待测计量芯片。优选地，该装置还包括：与所述待测计量芯片的计量信号输入端连接的、用于将所述待测计量芯片的输入信号反馈至所述MCU的信号反馈电路。优选地，所述信号反馈电路包括：与所述待测计量芯片的计量信号输入端连接、用于对所述待测计量芯片的输入信号进行滤波，得到反馈信号的第二RC低通滤波器；分别与所述第二RC低通滤波器、第二基准电压给定装置以及MCU连接的ADC，用于将所述反馈信号转换为离散反馈信号，并将所述离散反馈信号输出至所述MCU。优选地，所述MCU具体包括：用于存储所述计量信号生成数据的数据存储模块；与所述数据存储模块连接的、用于将所述计量信号生成数据乘以系数以调整幅值大小，得到第一计量信号生成数据的幅值调整模块；与所述幅值调整模块连接的、用于将所述第一计量信号生成数据与一固定值相加得到带有偏置电压的第二计量信号生成数据的电压偏置模块；与所述电压偏置模块连接的、用于控制所述第二计量信号生成数据按照预设频率输出，得到所述初始离散计量信号的定时模块。为解决上述技术问题，本技术还提供了一种计量芯片校验仪，包括上述任一项所述的计量信号产生装置。本技术提供的一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置，包括用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；分别与MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据第一基准电压给定装置提供的基准电压将初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；与DAC连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。可见，本技术能够根据预先存储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的一种计量信号产生装置的结构示意图；图2为本技术提供的另一种计量信号产生装置的结构示意图。具体实施方式本技术的目的是提供一种计量信号产生装置，能够根据预先存储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低；本实用新型的另一目的是提供一种包括上述计量信号产生装置的计量芯片校验仪。为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例一请参照图1，图1为本技术提供的一种计量信号产生装置的结构示意图，该装置包括：用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU(MicrocontrollerUnit，微控制器)1；分别与MCU1以及第一基准电压给定装置3连接的、用于依据第一基准电压给定装置3提供的基准电压将初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC(Digitaltoanalogconverter，数字模拟转换器)2；与DAC2连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器4。本技术提供的一种计量信号产生装置，包括用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；分别与MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据第一基准电压给定装置提供的基准电压将初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；与DAC连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。可见，本技术能够根据预先存储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，利于集成到IC验证装置和IC测试装置中，效率高且成本低本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种计量信号产生装置，其特征在于，包括：用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；分别与所述MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据所述第一基准电压给定装置提供的基准电压将所述初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；与所述DAC连接的、用于增强所述初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将所述计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。
【技术特征摘要】
1.一种计量信号产生装置，其特征在于，包括：
用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；
分别与所述MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据所述第一基准电压给定
装置提供的基准电压将所述初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；
与所述DAC连接的、用于增强所述初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将
所述计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。
2.如权利要求1所述的计量信号产生装置，其特征在于，所述DAC与所述电压跟随器之
间还包括：
用于将所述初始模拟计量信号进行分压，得到分压计量信号的分压电路。
3.如权利要求1所述的计量信号产生装置，其特征在于，该装置还包括：
与所述电压跟随器连接的、用于对所述计量信号进行滤波，得到最终计量信号的第一
RC低通滤波器。
4.如权利要求3所述的计量信号产生装置，其特征在于，该装置还包括：
分别与所述第一RC低通滤波器、所述MCU以及地连接的多路选择器，所述多路选择器的
输出端与所述待测计量芯片连接，所述多路选择器用于依据所述MCU发送的控制信号选择
地信号或者所述最终计量信号作为所述待测计量芯片的输入信号并将其输出至所述待测
计量芯片。
5.如权利要求4所述的计量信号产生装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：卢杰，
申请(专利权)人：万高杭州科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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