【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于压电元件、集成无源器件(IPD,Integrated Passive Device)、热释电元件等的掺杂有Mn及Nb的PZT系压电膜。本申请主张基于2014年3月28日于日本申请的专利申请2014-067840号的优先权,并将其内容援用于此。
技术介绍
通过以溶胶-凝胶法为代表的化学溶液沉积(CSD,Chemical Solution Deposition)法形成的PZT等铁电膜在成膜之后无法直接用作压电体,为了使用于陀螺仪传感器等,不得不进行极化处理。将该铁电膜用于热释传感器或陀螺仪传感器等传感器时,所使用的压电膜(铁电膜)的性能指数g由以下式(1)表示。g(V·m/N)=d31/ε33 (1)式(1)中,d31表示压电常数,ε33表示介电常数。即,将PZT等铁电膜用于热释传感器或陀螺仪传感器等传感器时,通常优选膜的压电常数较大且膜的介电常数或介电损耗(tanδ)较低。并且,从极化的稳定性、无需极化工序方面,优选刚成膜之后膜的极化方向就一致。另一方面,将这种膜用于喷墨头等的致动器时,施加较高电压来使用,因此并不一定需要进行极化处理。这是 ...
【技术保护点】
一种掺杂Mn及Nb的PZT系压电膜,其由掺杂Mn及Nb的复合金属氧化物构成,膜中的金属原子比Pb:Mn:Nb:Zr:Ti满足0.98~1.12:0.002~0.056:0.002~0.056:0.40~0.60:0.40~0.60,且将所述Mn及Nb的金属原子比的合计设为1时的所述Mn的比例为0.20~0.80,将所述Zr及Ti的金属原子比的合计设为1时的所述Zr的比例为0.40~0.60,将所述Mn、Nb、Zr及Ti的金属原子比的合计设为1时的所述Zr及Ti的合计比例为0.9300~0.9902。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.03.28 JP 2014-0678401.一种掺杂Mn及Nb的PZT系压电膜,其由掺杂Mn及Nb的复合金属氧化物构成,膜中的金属原子比Pb:Mn:Nb:Zr:Ti满足0.98~1.12:0.002~0.056:0.002~0.056:0.40~0.60:0.40~0.60,且将所述Mn及Nb的金属原子比的合计设为1时的所述Mn的比例为0.20~0.80,将所述Zr及Ti的金属原子比的合计设为1时的所述Zr的比例为0.40~0....
【专利技术属性】
技术研发人员:土井利浩,樱井英章,曽山信幸,
申请(专利权)人:三菱综合材料株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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