【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及有利于应用在半导体装置或显示装置(LCD、有机EL等)的制造中的光掩模,涉及其制造方法或装置、检查方法或装置。
技术介绍
目前,期望提高在光掩模中形成的转印用图案的精度,进而提高已形成的转印用图案的检查精度。在专利文献1(日本特开2010-134433号公报)中记载有当光掩模图案被转印在被转印体上时能够提高其坐标精度的描绘方法、描绘装置。尤其是,在专利文献1中记载了如下方法:在光掩模制造工序中,为了消除由于描绘转印用图案时的膜面(图案形成面)的形状与曝光时不同而使得被转印体上没有形成按照设计的图案的问题,取得校正后的描绘数据。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2010-134433号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题在显示装置的制造中,大多利用具有基于想要得到的器件(device)的设计做出的转印用图案的光掩模。作为器件,在以智能手机或平板终端为代表的液晶显示装置或有机EL显示装置中,需要明亮省电、动作速度快且分辨率高的精美图像。因此,对于专利技术人来说,对于上述用途中使用的光掩模显然存在新的技术课题。详细地说,为了鲜明地表现细微的图像,需要提高像素密度,当前,期望实现超过像素密度400ppi(pixel per inch:每英寸像素)的器件。因此,光掩模的转印用图案的设计的趋势是细微化、高密度化。但是,包含显示用器件的多个电子器件由形成
了细微图案的多个层(Layer)的叠层立体地形成。因此,这些多个层中的坐标精度的提高以及坐标彼此的匹配成为关键。也就是说,只要各个层的图案坐标精度没有全部满足预定水平,就会引起在 ...
【技术保护点】
一种光掩模的制造方法,该方法包括准备在基板的主表面上形成有薄膜和光致抗蚀膜的光掩模坯体,并利用描绘装置描绘预定的转印用图案,在该光掩模的制造方法中,具有以下的工序:根据所述预定的转印用图案的设计来准备图案设计数据A的工序;获得转印面形状数据C的工序,该转印面形状数据C表示所述光掩模保持在曝光装置时的所述主表面的形状;获得描绘时高度分布数据E的工序,该描绘时高度分布数据E表示在所述描绘装置的工作台上使所述主表面成为上侧来载置所述光掩模坯体的状态下的所述主表面的高度分布;采用所述描绘时高度分布数据E和所述转印面形状数据C来获得描绘差值数据F的工序;在所述主表面上的多个点处估算与所述描绘差值数据F对应的坐标偏差量而求出描绘用坐标偏差量数据G的工序;以及采用所述描绘用坐标偏差量数据G和所述图案设计数据A在所述光掩模坯体上进行描绘的描绘工序。
【技术特征摘要】
2015.02.17 JP 2015-0283111.一种光掩模的制造方法,该方法包括准备在基板的主表面上形成有薄膜和光致抗蚀膜的光掩模坯体,并利用描绘装置描绘预定的转印用图案,在该光掩模的制造方法中,具有以下的工序:根据所述预定的转印用图案的设计来准备图案设计数据A的工序;获得转印面形状数据C的工序,该转印面形状数据C表示所述光掩模保持在曝光装置时的所述主表面的形状;获得描绘时高度分布数据E的工序,该描绘时高度分布数据E表示在所述描绘装置的工作台上使所述主表面成为上侧来载置所述光掩模坯体的状态下的所述主表面的高度分布;采用所述描绘时高度分布数据E和所述转印面形状数据C来获得描绘差值数据F的工序;在所述主表面上的多个点处估算与所述描绘差值数据F对应的坐标偏差量而求出描绘用坐标偏差量数据G的工序;以及采用所述描绘用坐标偏差量数据G和所述图案设计数据A在所述光掩模坯体上进行描绘的描绘工序。2.一种光掩模的制造方法,该方法包括准备在基板的主表面上形成有薄膜和光致抗蚀膜的光掩模坯体,并利用描绘装置来描绘预定的转印用图案的情况,在该光掩模的制造方法中,具有以下的工序:根据所述预定的转印用图案的设计来准备图案设计数据A的工序;准备通过测定所述主表面的表面形状而获得的基板表面形状数据B的工序;获得转印面形状数据C的工序,将所述光掩模保持在曝光装置内时根据保持部件的形状而在所述表面形状中产生的移位反映到所述基板表面形状数据B中而获得所述转印面形状数据C;获得描绘时高度分布数据E的工序,在所述描绘装置的工作台上使所述主表面成为上侧来载置所述光掩模坯体的状态下,测定所述主表面的高度分布而获得所述描绘时高度分布数据E;采用所述描绘时高度分布数据E和所述转印面形状数据C来获得描绘差值数据F
\t的工序;估算所述主表面上的多个点处的与所述描绘差值数据F对应的坐标偏差量而求出描绘用坐标偏差量数据G的工序;以及采用所述描绘用坐标偏差量数据G和所述图案设计数据A在所述光掩模坯体上进行描绘的描绘工序。3.根据权利要求2所述的光掩模的制造方法,其特征在于,在获得所述转印面形状数据C的工序中,采用有限元法。4.根据权利要求1~3中任意一项所述的光掩模的制造方法,其特征在于,在所述描绘工序中,根据所述描绘用坐标偏差量数据G,采用通过校正所述图案设计数据A而获得的校正图案数据H进行描绘。5.根据权利要求1~3中任意一项所述的光掩模的制造方法,其特征在于,在所述描绘工序中,根据所述描绘用坐标偏差量数据G来校正所述描绘装置所具有的坐标系,并采用所获得的校正坐标系和所述图案设计数据A进行描绘。6.根据权利要求1~3中任意一项所述的光掩模的制造方法,其特征在于,当所述光掩模保持在曝光装置内时,由保持部件保持的多个保持点配置在平面上。7.根据权利要求2或3所述的光掩模的制造方法,其特征在于,在以主表面成为铅直的方式保持所述光掩模坯体或用于成为所述光掩模坯体的基板的状态下,测定所述主表面上的多个测定点的位置,由此来求出所述基板表面形状数据B。8.一种描绘装置,用于对在基板的主表面上形成有薄膜和光致抗蚀膜的光掩模坯体描绘转印用图案,该描绘装置具有:高度测定单元,其在使所述主表面为上侧而将所述光掩模坯体载置于工作台上的状态下,测定所述主表面的高度分布,获得描绘时高度分布数据E;输入单元,其输入所述转印用图案的图案设计数据A以及转印面形状数据C,该转印面形状数据C表示所述基板保持在曝光装置中的状态下所述基板的主表面形状;运算单元,其采用所述描绘时高度分布数据E和所述转印面形状数据C,运算所述主表面上的多个点处的描绘用坐标偏差量数据G;以及描绘单元,其采用所述描绘用坐标偏差量数据G和所述图案设计数据A在所述光掩模坯体上进行描绘。9.一种描绘装置,用于对在基板的主表面上形成有薄膜和光致抗蚀膜的光掩模坯体描绘转印用图案,该描绘装置具有:高度测定单元,其在使所述主表面为上侧而将所述光掩模坯体载置于工作台上的状态下,测定所述主表面的高度分布,获得描绘时高度分布数据E;输入单元,其输入所述转印用图案的图案设计数据A、表示所述基板的主表面的形状的基板表面形状数据B、与所述基板保持在曝光装置中时的保持状态相关的信息、以及包含所述基板的原料的物性值的基板物性信息;运算单元,其采用所述基板表面形状数据B、与所述保持状态相关的信息以及所述基板物性信息,来运算表示在曝光装置内保持的状态下的所述基板的主表面形状的转印面形状数据C,并且采用所述描绘时高度分布数据E和所述转印面形状数据C,来运算所述主表面上的多个点处的描绘用坐标偏差量数据G;以及描绘单元,其采用所述描绘用坐标偏差量数据G和所述图案设计数据A,在所述光掩模坯体上进行描绘。10.一种光掩模的检查方法,采用检查装置来检查在基板的主表面上具有对薄膜进行构图而成的转印用图案的光掩模,该光掩模的检查方法具有以下的工序:获得图案坐标数据L的工序,在所述检查装置的工作台上载置所述光掩模的状态下,进行所述主表面上形成的所述转印用图案的坐标测定,获...
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