一种钨单晶涂层{110}晶面识别和表面份额的统计方法技术

本发明专利技术涉及一种钨单晶涂层{110}晶面识别和表面份额的统计方法，属于热离子型燃料电池技术领域，特别是能够指导电化学蚀刻工艺参数的优化。本发明专利技术包括用化学腐蚀识别钨单晶{110}晶面、统计{110}晶面所占份额和用电化学法提高其所占份额三个步骤。其中，化学腐蚀方法识别晶面时所用的化学腐蚀剂由NaOH、K3Fe(CN)6和去离子水配制而成，每100ml腐蚀液中含9～12g的NaOH和8～11g的K3Fe(CN)6。根据蚀坑形貌特征识别出{110}晶面，然后通过自动变焦成像技术每2°～6°拍摄一张金相照片，统计出{110}在整个圆周上所占总度数而得到其表面份额，本发明专利技术具有操作简单方便、蚀坑清晰、辨识度高、统计方法简单易行等优点。

【技术实现步骤摘要】
201610162764

【技术保护点】
一种钨单晶涂层{110}晶面识别和表面份额的统计方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)化学腐蚀前的准备：将沉积在圆柱管形基体侧面上的钨单晶涂层进行清洗、机械抛光、电解抛光，并用去离子水和酒精清洗，备用；(2)配置化学腐蚀液：腐蚀液是由NaOH、K3Fe(CN)6和去离子水配制而成，每100ml腐蚀液中含9～12g的NaOH和8～11g的K3Fe(CN)6；(3)化学腐蚀的实施：将步骤(1)准备好的带有钨单晶涂层的基体完全置于步骤(2)中的腐蚀液中，20～40s后取出，清洗、擦拭；(4)钨单晶{110}晶面份额统计：对步骤(3)化学腐蚀后的带有钨单晶涂层的基体，沿周向方向从0°～360°拍摄金相照片，统计蚀坑形貌为不完整菱形的晶面在圆周上所占的总度数，即为{110}晶面所占总度数，除以360°得{110}晶面所占表面份额。

【技术特征摘要】
1.一种钨单...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鹏杰，郭雨竹，周倩，史佳庆，么斯雨，张松，沈艳波，于晓东，谭成文，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：北京;11