一种双包层光纤涂层缺陷检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于光纤检测技术领域，公开了一种双包层光纤涂层缺陷检测装置，包括：检测光源、复绕机、光纤稳定夹具以及光纤擦拭夹具；所述检测光源输出检测光信号，用于耦合进入待检双包层光纤；所述复绕机用于待检双包层光纤的复绕操作；所述光纤稳定夹具设置在所述复绕机中部，用于稳定复绕操作中的待检双包层光纤；所述光纤擦拭夹具设置在所述复绕机中部，用于擦拭待检双包层光纤。本实用新型专利技术提供了一种可靠性高，定位精确，高效的光纤涂层缺陷检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光纤检测
，特别涉及一种双包层光纤涂层缺陷检测装置。
技术介绍
双包层光纤是一种具有特殊结构的光纤，它比常规光纤增加了一个低折射率内涂层，由外涂层、内涂层、包层和掺杂纤芯所构成，内涂层的折射率小于包层的折射率，包层的折射率小于纤芯的折射率，这样就构成了双层波导结构。纤芯作为激光的波导，内涂层作为包层的波导界面，对泵浦光在包层中传输起到重要作用，如果内涂层有缺陷，包层中的泵浦光会从包层中大量泄漏。现有技术中，通过显微镜采集光纤涂层的图像信息，传送输出到主机，获得光纤涂层的检测信息，判断光纤涂层是否存在异常，但是该种方法并不适用检测双包层光纤的内涂层缺陷。常用的双包层光纤内层缺陷检测，一般进行光纤端面通光，再在光纤盘中找亮点的方法进行判定。但是，现有技术中的检测方法，达不到自动化过程，直接通过眼睛观察亮点情况，误差较大，可靠性低；另一方面，缺陷定位难度大，分布规律精度不高。
技术实现思路
本技术提供一种双包层光纤涂层缺陷检测装置，解决现有技术中光纤缺陷检测定位难度大、精度低、可靠性和效率低的技术问题为解决上述技术问题，本技术提供了一种检测双包层光纤涂层缺陷的装置，包括：检测光源本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双包层光纤涂层缺陷检测装置，其特征在于，包括：检测光源、复绕机、光纤稳定夹具以及光纤擦拭夹具；所述检测光源输出检测光信号，用于耦合进入待检双包层光纤；所述复绕机用于待检双包层光纤的复绕操作；所述光纤稳定夹具设置在所述复绕机中部，用于稳定复绕操作中的待检双包层光纤；所述光纤擦拭夹具设置在所述复绕机中部，用于擦拭待检双包层光纤。

【技术特征摘要】
1.一种双包层光纤涂层缺陷检测装置，其特征在于，包括：检测光源、复绕机、光纤稳定夹具以及光纤擦拭夹具；所述检测光源输出检测光信号，用于耦合进入待检双包层光纤；所述复绕机用于待检双包层光纤的复绕操作；所述光纤稳定夹具设置在所述复绕机中部，用于稳定复绕操作中的待检双包层光纤；所述光纤擦拭夹具设置在所述复绕机中部，用于擦拭待检双包层光纤。2.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘锐，王静，吴杰，包箭华，李云丽，朱建友，李沅桉，魏斌建，曾红姣，
申请(专利权)人：武汉睿芯特种光纤有限责任公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42