一种物理气相沉积氟硅烷制备疏水膜的方法技术

技术编号:13384060 阅读:294 留言:0更新日期:2016-07-21 19:37
本发明专利技术公开一种物理气相沉积氟硅烷制备疏水膜的方法,一,等离子体辉光处理:将基材放入PVD真空设备中,进行抽真空,当真空度达到10‑2Pa时,对基材实施等离子辉光处理;二,中频磁控溅射透明氧化硅膜,溅射靶材为纯硅靶;三,真空蒸镀氟硅烷疏水膜:采用真空蒸镀技术,在溅射二氧化硅膜过程的第三分钟开始进行蒸发氟硅烷:预热清洗氟硅烷镀材10‑30秒,电压2‑3V;预蒸发20‑50秒,电压3‑4V;蒸发100‑200秒,电压4‑6V,在二氧化硅膜层表面沉积一层氟硅烷,并与二氧化硅形成硅烷交联反应,得到透明的氟硅烷疏水膜层。本发明专利技术可以形成结合力较好的镀膜,且成膜无需高温烘烤,生产成本较低。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种物理气相沉积氟硅烷制备疏水膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:一,等离子体辉光处理:将基材放入PVD真空设备中,进行抽真空,当真空度达到10‑2Pa时,对基材实施等离子辉光处理,离子源电流0.5‑0.8A,氩气流速100‑200SCCM,时间为2‑5min;二,中频磁控溅射透明氧化硅膜:中频电源功率300‑1000W,负偏压100‑200V,氩气流速30‑80SCCM,氧气流速50‑100SCCM,溅射时间为4‑7min,溅射靶材为纯硅靶;三,真空蒸镀氟硅烷疏水膜:采用真空蒸镀技术,在溅射二氧化硅膜过程的第三分钟开始进行蒸发氟硅烷:预热清洗氟硅烷镀材10‑30秒,电压2‑3V;预蒸发20‑50秒,电压3‑4V;蒸发100‑200秒,电压4‑6V,在二氧化硅膜层表面沉积一层氟硅烷,并与二氧化硅形成硅烷交联反应,得到透明的氟硅烷疏水膜层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄贤明张先超孙昇凌李明仁
申请(专利权)人:厦门建霖工业有限公司
类型:发明
国别省市:福建;35

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