一种用于存储设备的温控式测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种用于存储设备的温控式测试系统，包括温控试验腔体、置于所述温控试验腔体内的至少一块测试控制单元、用于在所述温控试验腔体内产生高温或者低温的制冷/制热装置、与所述温控试验腔体相邻设置的测试腔体、以及置于所述测试腔体用于控制所述制冷/制热装置和所述测试控制单元的测试系统。采用本实用新型专利技术的技术方案，通过将存储设备测试接口固定在测试控制单元上，并在存储设备测试接口的背面通过线缆引出存储数据接口使其直接插接在测试主机的主板上，从而存储设备的数据信号无需经过测试板中转，使存储数据信号的传输更为稳定，大大提高了测试的可靠性和标准性。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于控制应用领域，尤其涉及一种用于存储设备的温控式测试系统。
技术介绍
近年来，随着技术日益成熟，存储设备(固态硬盘、U盘等)在消费市场得到广泛应用，并从消费领域逐渐深入到工业、军事等特殊领域。这些特殊领域的市场对固态硬盘的高低温环境适应性、可靠性、通断电测试(power cycle)等方面提出了更高的要求，也引起固态硬盘生产厂家的重视。由于固态硬盘的闪存(flash)供应及其制造技术全部由国外少数几个厂家控制，特殊用途的、宽温的闪存芯片存在购买困难和限售等问题，使得硬盘生产厂家在生产时不仅需要做高低温环境试验，还需要进行批量生产的高低温筛选，极大地增加了存储测试设备的测试难度和复杂度。现有技术中，对存储设备的测试通常将其接在测试电脑，在测试电脑中运行测试程序实现识盘、格式化、初始化、读写速度、连续物理读写，power cycle、全盘擦除等测试项目，从而判断存储设备性能是否符合标准。但现有技术中存储设备生产厂家普遍缺乏专用的高低温设备，存储设备的高低温测试通常采用标准的高低温试验箱加外置测试电脑的方法，即将被测存储设备放置在高低温试验箱中，从试验箱中引出数据延长线与测试电脑相连接。该方法存在操作困难、布置凌乱、测试盘数量少、效率低下、不适合大批量生产等明显弊端。虽然现有技术中也有专用高低温设备，但也是仅仅经高低温试验箱和多个测试电脑简单合成一体，虽然在整体操作性能上得到了一定改进，但对线路布置、测试盘扩展等问题并未进行深入的研究，还存在诸多问题，从而影响存储设备测试的精度和效率。参见图1，所示为现有技术中存储设备高低温测试系统的连接框图，测试线路板上设有多个用于连接被测存储设备的存储设备接口，现以SATA接口的硬盘为例，与被测SATA硬盘相连接的SATA硬盘接口以焊接的方式固定在测试线路板上，同时在测试线路板设置SATA信号接口和电源信号接口，通过数据线和电源线使其与电脑主板的SATA接口和电源接口相连接，再在测试线路板上布置线路与SATA硬盘接口电气连接。该连接方式中，电脑主板的SATA信号通过测试线路板进行信号中转后再与被测硬盘相连接，导致硬盘数据信号衰减，从而影响测试的可靠性和标准性。故，针对目前现有技术中存在的上述缺陷，实有必要进行研究，以提供一种方案，解决现有技术中存在的缺陷。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述问题，提供一种适用于各种存储设备、测试盘数量多、效率高、适合大批量生产测试的温控式测试系统。为达到上述目的，本技术采用了下列技术方案:一种用于存储设备的温控式测试系统，包括温控试验腔体、置于所述温控试验腔体内的至少一块测试控制单元，用于在所述温控试验腔体内产生高温或者低温的制冷/制热装置、与所述温控试验腔体相邻设置的测试腔体、以及置于所述测试腔体内用于控制所述制冷/制热装置和所述测试控制单元的测试系统，其中，所述测试系统包括至少一台测试主机，该测试主机主板上设有多个第一存储数据接口 ；所述测试控制单元包括至少一个用于与被测试存储设备相连接的存储设备测试接口和控制线路板，所述测试控制单元与所述测试主机相连接，用于接收所述测试主机的控制信号、数据信号和电源信号；所述存储设备测试接口固定在所述测试控制单元上，其正面设有与被测试存储设备相卡合的标准接口，其背面直接设有与所述标准接口相连接的信号延长线，所述信号延长线另一端中用于接收数据信号的部分设有第二存储数据接口，所述第一存储数据接口和所述第二存储数据接口之间对应连接使所述存储设备测试接口与所述测试主机直接连接；所述信号延长线另一端中用于接收电源信号的部分设有存储电源接口，所述存储电源接口与所述控制线路板相连接并受控于所述控制线路板。优选地，所述第一存储数据接口由该测试主机主板本身自带或者通过在该主板上的多个PC1-E插槽插接存储数据接口扩展卡扩展得到。优选地，所述制冷/制热装置设置在所述温控试验腔体的上方。优选地，所述测试系统与所述温控试验腔体左右设置，所述测试系统的多台测试主机与所述温控试验腔体内的多块测试控制单元一一对应且基本处于同一水平位置上。优选地，所述测试控制单元还包括多个挡板，所述挡板用于固定所述存储设备测试接口和所述控制线路板。优选地，所述温控试验腔体和所述测试腔体之间还设有隔板。优选地，所述温控试验腔体靠近所述测试腔体一侧的内壁上还设有多个与所述测试腔体连通的出线孔，所述出线孔与所述测试系统和所述测试控制单元之间的连接线的尺寸相适应。优选地，所述出线孔中还设有绝热胶泥，所述绝热胶泥用于封闭所述温控试验腔体的引出连接线与所述出线孔之间的空隙。优选地，还包括与所述测试主机相连接的常温测试区，所述常温测试区设置在所述测试腔体的侧门上，并设有多个与所述测试系统相连接的存储设备测试接口。优选地，所述存储设备测试接口为SATA接口、SAS接口、PC1-E接口或USB接口中的一种或者几种组合；所述第一存储数据接口或所述第二存储数据接口为SATA接口、SAS接口、PC1-E接口或USB接口中的任一种；所述控制线路板与所述测试主机之间通过SATA、SAS、PC1-E、UART或USB等数据总线相连接。与现有的技术相比，本技术的优点在于:1、本技术的一种用于存储设备的温控式测试系统，通过将存储设备测试接口固定在测试控制单元上(而非现有技术中将存储设备测试接口焊接在测试板上)，并在存储设备测试接口的背面通过线缆引出存储数据接口使其直接插接在测试主机的主板上，从而存储数据信号无需经过测试板中转，使存储数据信号的传输更为可靠稳定，大大提高了测试的可靠性和标准性。2、通过PC1-E接口来扩展存储测试接口，从而使单台测试主机可测试存储设备的数量大大增加，缩减设备体积并简化内部布置。3、控制线路板采用串入并出逻辑芯片实现扩展控制，从而实现多路电源控制。【附图说明】图1是现有技术存储设备高低温测试系统的接线连接图。图2是本技术提供的用于存储设备的温控式测试系统的正面结构框图。图3是本技术提供的用于存储设备的温控式测试系统的内部结构框图。图4是本技术提供的用于存储设备的温控式测试系统的连接示意图。图5是本技术提供的用于存储设备的温控式测试系统中测试控制单元的连接示意图。图6是本技术提供的用于存储设备的温控式测试系统中控制线路板的原理框图。图7是本技术提供的控制线路板中的电源保护芯片的连接图。【具体实施方式】以下是技术的具体实施例并结合附图，对本技术的技术方案作进一步的描述，但本技术并不限于这些实施例。在深入研究现有技术存储设备高低温测试系统存在的缺陷后，本技术发现，现有技术中均采用标准的存储设备接口，其正面是与被测存储设备相连接的标准接口，背面是排针接口，用于将存储设备接口以焊接方式固定在测试线路板上；正是采用了现有技术这种惯用的连接方式，使数据信号需要通过测试线路板中转，从而造成了数据信号的衰减，而数据信号(SATA数据)都是高频数据信号，任何微弱的信号衰减都可能造成数据错误，导致测试结果不准确。针对现有技术的缺陷，参见图2、图3和图4，所示为本技术一种用于存储设备的温控式测试系统的连接结构框图，包括温控试验腔体1、设置在箱门上用于观察温控试验腔体I的观察本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，包括温控试验腔体、置于所述温控试验腔体内的至少一块测试控制单元、用于在所述温控试验腔体内产生高温或者低温的制冷/制热装置、与所述温控试验腔体相邻设置的测试腔体、以及置于所述测试腔体内用于控制所述制冷/制热装置和所述测试控制单元的测试系统，其中，所述测试系统包括至少一台测试主机，该测试主机主板上设有多个第一存储数据接口；所述测试控制单元包括至少一个用于与被测试存储设备相连接的存储设备测试接口和控制线路板，所述测试控制单元与所述测试主机相连接，用于接收所述测试主机的控制信号、数据信号和电源信号；所述存储设备测试接口固定在所述测试控制单元上，其正面设有与被测试存储设备相卡合的标准接口，其背面直接设有与所述标准接口相连接的信号延长线，所述信号延长线另一端用于接收数据信号的部分设有第二存储数据接口，所述第一存储数据接口和所述第二存储数据接口之间对应连接使所述存储设备测试接口与所述测试主机直接连接；所述信号延长线另一端中用于接收电源信号的部分设有存储电源接口，所述存储电源接口与所述控制线路板相连接并受控于所述控制线路板。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：车嵘，骆建军，章浙源，
申请(专利权)人：杭州华澜微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33