电子芯片的测试系统、方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子芯片的测试系统、方法及装置。其中，该系统包括：可编程处理器，用于对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；待测芯片，用于按照可编程处理器输出的测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原测试图像，并利用测试图像进行测试；以及控制器，用于对待测芯片的测试过程进行控制。本发明专利技术解决了相关技术中电子芯片的自动测试系统因其内部带有flash、DDR存储模块，导致自动测试系统的硬件成本较高、软件开发周期较长的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
，具体而言，涉及一种电子芯片的测试系统、方法及装置。
技术介绍
随着电子芯片种类的不断增加，需要在电子芯片量产过程中对电子芯片的性能进行品质保证。电子芯片的自动测试设备是一种自动测试电子芯片性能的设备，主要包括测试电子芯片的漏电、电气特性、高低压、内部逻辑布局、引脚开/关、时钟范围或者接收性能等。图1是根据现有技术的电子芯片的测试设备的示意图，如图1所示，为了测试电子芯片的图像处理性能，该测试设备是将不同高分辨率的图像存储在flash里面，通过嵌入式系统在写入双倍速率同步动态随机存储器(Double Date Rate，简称为DDR)，以便于达到相应的传输速率，然后通过嵌入式系统打包图像数据，通过外部接口将其发送至待测芯片。但是，现有技术中测试设备需要存储一帧图像到flash，但flash的数据传输速率很慢，所以必须通过嵌入式系统将图像存到DDR，以实现高速率传送图像数据。现有技术中测试设备存在以下缺点:I)需要通过软件来实现嵌入式系统访问flash接口和DDR接口，增加可软件开发周期和工作量。2)更换待测图像模式时需要把数据写入flash，工序繁复，增加出错几率。3)嵌入式系统接口不够灵活，如果接口更换，嵌入式系统也必须相应的更换，导致开发周期长，成本更高。4)实现flash接口和DDR接口的开发难度和风险很大，如果软件开发的接口时序有问题，或是硬件的高速线布线不合理，一个比特数据错误就会导致整个图像数据错误。针对相关技术中电子芯片的自动测试系统因其内部带有flash、DDR存储模块，导致自动测试系统的硬件成本较高、软件开发周期较长的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种电子芯片的测试系统、方法及装置，以至少解决相关技术中电子芯片的自动测试系统因其内部带有flash、DDR存储模块，导致自动测试系统的硬件成本较高、软件开发周期较长的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种电子芯片的测试系统，包括:可编程处理器，用于对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；待测芯片，用于按照可编程处理器输出的测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原测试图像，并利用测试图像进行测试；以及控制器，用于对待测芯片的测试过程进行控制。进一步地，可编程处理器对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像包括:可编程处理器将测试图像划分为N个相同的子图像；其中，可编程处理器中存储有一个子图像，可编程处理器向待测芯片发送子图像的次数为N。进一步地，可编程处理器包括:存储模块，用于存储子图像，包括子图像的像素值以及子图像中每个像素点的灰度值，其中，子图像的数据量小于存储模块的存储容量。进一步地，控制器用于在存储模块存储有多个子图像时，从多个子图像中选择一个子图像作为待测芯片的测试图像的子图像，其中，多个子图像为多个测试图像的子图像，多个子图像数据量的总和小于存储模块的存储容量。进一步地，可编程处理器包括:存储模块，用于存储预设算法，预设算法中存储有测试图像的像素点与灰度值的对应关系，其中，可编程处理器按照对应关系将测试图像的像素点的灰度值发送至待测芯片。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种电子芯片的测试方法，包括:对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像或者像素点的灰度值，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；以及将测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，待测芯片按照测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原测试图像，并利用测试图像进行测试。进一步地，对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像包括:将测试图像划分为N个相同的子图像；以及存储N个相同的子图像中的一个子图像，将测试图像的子图像发送至待测芯片包括:将测试图像的子图像向待测芯片发送N次。进一步地，存储N个相同的子图像中的一个子图像包括:存储子图像的像素值；以及存储子图像中每个像素点的灰度值。进一步地，将测试图像的像素点的灰度值发送至待测芯片包括:获取测试图像的像素点与灰度值的对应关系；以及按照对应关系将测试图像的像素点的灰度值发送至待测芯片。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种电子芯片的测试装置，包括:预处理模块，用于对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像或者像素点的灰度值，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；以及发送模块，用于将测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，待测芯片按照测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原测试图像，并利用测试图像进行测试。进一步地，预处理模块包括:划分模块，用于将测试图像划分为N个相同的子图像；以及存储模块，用于存储N个相同的子图像中的一个子图像，发送模块包括:第一发送子模块，用于将测试图像的子图像向待测芯片发送N次。进一步地，存储模块包括:第一存储子模块，用于存储子图像的像素值；以及第二存储子模块，用于存储子图像中每个像素点的灰度值。进一步地，发送模块包括:获取模块，用于获取测试图像的像素点与灰度值的对应关系；以及第二发送子模块，用于按照对应关系将测试图像的像素点的灰度值发送至待测芯片。在本专利技术实施例中，去掉了现有电子芯片的测试系统中的flash、DDR存储模块，并利用可编程处理器代替了嵌入式系统，达到了降低硬件成本的目的。同时，在可编程处理器中嵌入软件算法，对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，待测芯片按照可编程处理器输出的测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原测试图像，并利用测试图像进行测试。利用可编程处理器缩短了软件开发周期，同时实现了接口的灵活多变，进而解决了相关技术中电子芯片的自动测试系统因其内部带有flash、DDR存储模块，导致自动测试系统的硬件成本较高、软件开发周期较长的技术问题，达到了降低硬件成本、缩短软件开发周期的技术效果。【附图说明】此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1是根据现有技术的电子芯片的测试设备的示意图；图2是根据本专利技术实施例的电子芯片的测试系统的示意图；图3为根据本专利技术实施例的多个子图像组成测试图像的示意图；图4是根据本专利技术实施例的电子芯片的测试方法的流程图；以及图5是根据本专利技术实施例的电子芯片的测试装置的示意图。【具体实施方式】为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子芯片的测试系统，其特征在于，包括：可编程处理器，用于对测试图像进行预处理，得到所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，所述测试图像为用于测试所述待测芯片的图像；所述待测芯片，用于按照所述可编程处理器输出的所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原所述测试图像，并利用所述测试图像进行测试；以及控制器，用于对所述待测芯片的测试过程进行控制。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭俊良，
申请(专利权)人：硅谷数模半导体北京有限公司，硅谷数模国际有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11